10月13-14日《电子产品可靠性设计-试验与故障分析技术》广州公开课.doc

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1、 电子产品可靠性设计/试验与故障分析技术举办单位:北京时代光华教育集团 广州中智光华 课程费用:2800元/人, 凡购买学习卡会员企业凭6张学习门票入场。(午餐学员自理)课程日期:2012年10月13-14日(周六-周日9:00-16:30) 席位有限,报满即止。授课地点:中国 广州(外地学员可以代订住宿,标准自选)培训形式:系统总质量师、研发主管、产品质量师、设计师、工艺师、研究员,质量可靠性管理和从事电子元器件(包括集成电路)失效分析工程师!联系方式:张艳萍 020-28373089 13580350552 QQ:296945088 邮箱: 温馨提示:本课程可根据企业需求做内训,欢迎来电咨

2、询!课程目标:帮助工程设计、试验和管理人员明确可靠性设计的目的并掌握可靠性设计和试验方法讲师介绍:张增照老师 -中国赛宝实验室(工业和信息化部电子第五研究所)高级工程师时代光华教育集团特聘培训师,中国电子可靠性协会特聘高级培训师,中国可靠性实战知名专家,高级工程师,获硕士学位。曾在深圳某通信公司从事产品设计,曾主持低频治疗仪、通信机、日立电梯对讲系统的设计。具有丰富的硬件设计经验。1994邀请加入中国最权威的可靠性试验室,从事电子产品测试、试验和可靠性技术研究等领域的学术带头工作。在此试验室一直从事电子元器件和设备的可靠性工作。负责了五个国家重点工程的可靠性工作,开展电子设备可靠性预计、可靠性

3、设计、可靠性分析等工作,主持了GJB/Z299电子设备可靠性预计手册关键技术研究,并相继发布了A、B版。编写了可靠性建模与分配,可靠性预计技术、可靠性设计技术、故障模式、效应及危害性分析(FMECA)、故障树分析(FTA)、工程用元器件质量管理等有创新性的培训课题。张老师是以可靠性为中心的质量设计、分析和控制一书的作者,是GJB/z299电子设备可靠预计手册、GB/T7829故障树分析(FTA)等标准的制订负责人。张老师具有中国质量工程师培训执教资格,是环境试验电子产品可靠性与其试验编委。张老师具有丰富的产品设计经验和产品测试实践以及深厚的可靠性理论基础。曾为地铁2号线电源系统及科利公司完成可

4、靠性、维修性设计建议书,为康佳、TCL、美的、科龙、电子36所、34所、54所、44所、26所进行过可靠性内训授课和咨询;为我国电子行业技术人员进行了近百次公开可靠性设计、可靠性预计、3F方法、元器件优选等方面的技术培训。应邀赴韩国参加韩国信赖性学会成立大会,并代表中国专家在大会演讲。课程大纲:一、客户要求的可靠性指标分解方法案例:要求累积故障率的情况案例:要求年维修率的指标分析二、可靠性设计 可靠性设计的思路、设计失败的案例 某型计算机可靠性设计缺陷分析 降额设计 容差分析 案例:振荡器最坏情况分析法 边缘性能设计、案例 储备(冗余)设计 潜在通路分析 案例:潜在通路;案例:潜在时间; 案例

5、:潜在标志;案例:潜在指示; 电子产品热设计 a温度对电子设备可靠性的影响b电子设备热的来源c热设计的目的d热设计的程序e热设计中元器件布局案例f热设计中元器件的安装原则、安装失误案例g鼓风机的选择与安装h冷却剂流道设计i改善热设计的方法及案例案例:密封电子设备案例:机载电子设备 防闩锁设计a闩锁的来源b闩锁的预防 案例:可维护性设计 软件可靠设计技巧、软件可靠设计案例 ESD防护aESD损失案例bESD防护的实施三、可靠性试验 可靠性试验及其分类可靠性测定试验点估计、区间估计可靠性鉴定试验 a试验大纲b试验条件c试验样品d一次抽样检验方案的基本原理e序贯截尾试验方案f案例分析高加速寿命试验(

6、HALT)与高加速应力筛选 (HASS) aHALT和HASS的概念与应用范围b高加速的基本原理cHALT/HASS试验过程及方法d开展HALT和HASS的几点看法加速寿命实验 a寿命试验的分类 b寿命试验的测试点 c寿命试验的数据处理d加速寿命试验的理论依据 e加速应力的选择 f样品数量的选择g激活能的计算 h双应力加速实验法可靠性实验案例介绍 案例:已知置信度和MTBF时的实验测定 案例:已知置信度和可靠度时的实验测定 案例:案例加速寿命实验测定法 案例:可靠性鉴定实验四、故障模式、影响及危害度分析(FMEA) FMEA的意义和作用、运载火箭的案例分析 FMEA的分类(系统FMEA、设计F

7、MEA和工艺FMEA)FMEA的实施步骤 FMECA的标准方法 报警器的FMEA分析案例 QS9000和16949的FMEA方法 分析案例影响FMECA工作效果的因素五、电子元器件的选用控制 元器件的质量等级 DPA与失效分析技术 半导体器件质量的鉴别六、电子元器件的主要失效模式与预防 半导体器件的主要失效模式与预防 集成电路的主要失效模式与预防 阻容元件的主要失效模式与预防 继电器的主要失效模式与预防 其他元器件的主要失效模式与预防2012年10月13-14日电子产品可靠性设计/试验与故障分析技术报名回执填好下表后传真至020-28373160(此表复印有效) 张艳萍 020-2837308

8、9 13580350552单位名称企业类型: 外资 台资 港资 民营 其它联 系 人公司地址联系电话E-mail参会人数_ _人参会费用¥_元付款方式:会员套卡 现金 支票 转帐汇款账号户 名:广州中智光华企业管理咨询有限公司 开户行:中国工商银行广州大道支行帐 号:3602 0722 0920 0341 983 参加学员姓名职务手 机E-mail欢迎咨询2012年时代光华名师大讲堂公开课安排,采购学习卡套票参加课程,更加优惠!(学习年卡=单票价1-3折)时代光华学习卡系列,例如:金卡,1.8万元,100张套票,平均每张180元.参加大课只需一张套票.咨询电话:020-28373089 手机13580350552 qq:296945088 张艳萍欢迎咨询时代光华2012年名师大讲堂公开课安排表、内训、视频(移动商学院和E-learning等培训项目!

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