59668公路收费非接触式IC卡 第1部分：物理特性 标准 JT T 452.1-2001.pdf

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1、a 中 华 少 味民 共 和 国 交 通 行 业 标 准 J T / T 4 5 2 . 1 -2 0 0 1 公路收费非接触式 I C卡 第 1 部分: 物理特性 I d e n t i fi c a t i o n c a r d s u s e d i n h i g h w a y t o 】 一 C o n t a c t l e s s i n t e g r a t e d c ir c u it ( s ) c a r d s 一 P a r t l ; P h y s ic a l c h a r a c te r i s t ic s 2 0 0 1 - 0 8 - 3 0

2、 发布2 0 0 1 - 1 2 - 0 1 实施 中 华 人 民 共 和 国 交 通 部 1 9 9 5 I C卡物理特性 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本部分。 3 . 1 I C ( 集成电路) i n t e g r a t e d c i r c u i t ( s ) ( I C ) 为执行处理和/ 或存储功能、 输人/ 输出控制功能而设计的电子器件。 3 . 2 非接触式c o n ta c t l e s s 不使用电极即能够完成信号交换和电能供应( 也就是外部界面设备无直接途径接触卡内的集成电 路) 。 3 . 3 非接触式I C 卡 。 o n ta c t le s

3、 s in t e g ra t e d c i r c u i t ( s ) c a r d 嵌人集成电路并通过非接触方式进行祸合的 I D 一 I 型 ( I S O 7 8 1 0 中 规定的) 卡。 3 . 4 卡 A 合 装 置c a r d c o u p l i n g d e v ic e 用 于 与 非 接 触 式I C 卡 进 行 数 据 交 换 及向 非 接触 式I C 卡 提 供电 能 和时钟信号的装置。 4 物理特性 4 . 1 卡的尺寸 标准试验温度: 2 3 士3 和试验湿度: 4 0 %一 印%下， 卡的尺寸: ( 见图1 ) 外矩形: 长8 5 . 7 2

4、1 =, 宽5 4 . 0 3 1 1; 内矩形: 长8 5 . 4 7 m m， 宽5 3 . 9 2 m m; 卡厚; 0 . 7 6 士0 . 0 8 n u n ; 卡的圆角半径: 3 . 1 8 m m士 0 . 3 0 m m ， 且圆角与直边连接过渡圆滑。 卡边缘的毛刺小于0 . 0 8 m m o 4 . 2 卡的构造 卡可以由整体材料、 层叠材料或胶合材料制成， 表面光滑。 4 . 3 卡的材质 JUT 4 5 2. 1 -2 0 0 1 图1 卡尺寸( 单位: ，) 卡可以由聚乙 烯( P E ) , 聚氯乙烯醋酸 醋( P V C A ) 或者 具有相同或更好性能特 性的

5、 材料制成。 4 . 4 卡一般特性 4 . 4 . 1 弯曲刚度 通常使用时， 卡的变 形应不影响卡的功能。卡在附录A中A 3 的试验 荷载下， 最大变形为3 5 m m ， 最 小变形为3 m m 。在消除荷载的 w i n 内， 无可视剩余变形。 4 . 4 . 2 抗燃性 卡着火 后， 从火焰上移开5 ， 内应能自 己 熄灭 4 . 4 . 3 有毒性 卡在正常 使用过程中 不应有毒性。 4 . 4 . 4 耐 化学性 卡 浸人附录A A 5 . 1 的 溶剂中， 对卡的弯曲、 层叠及尺寸无不良影响。 4 . 4 . 5 温湿条件下卡尺寸稳定性 在一 3 5 和9 0 cc温度下， 卡

6、的尺寸和翅曲仍符合4 . 1 , 4 . 4 . ， 的 规定。 4 . 4 . 分层 在剥离强 度6 N / 二 作用 下， 卡的层且材料无分离。 4 . 4 . 7 粘着或结块 叠放的卡用手可轻易地分开， 无粘着或结块现象。 4 . 4 . 8 不透光性 光透射密度应大于1 . 5 . 注: 透射密度定义为以 1 0为底的透射因子倒数的对数。 n _ 1 _ 生_ I - 当 Ll r 一 - 6 T一 qs人 式中: T 透射系数; 人 发射的 光通量; 汽 条 孔的 光 通量 。 4 . 4 . ， 卡翘曲 卡任何部位的翘曲不应大于 1 . 5 m m ( 包括卡的厚度在内) 。 4

7、. 4 . 1 0 卡表面耐磨性 卡表面印刷的文字和图案， 在使用中应不被磨损。 4 . 5 卡附加特性 2 J T/ T 4 5 2 . 1 -2 0 0 1 4 . 5. 1紫外线 非接触式 I C卡应能防海平面普通日 光水平的紫外线。 4 . 5 . 2 X射线 非接触式I C 卡的任一面暴月于7 0 一 1 4 0 k e V范围内的X 射线的辐射中， 累积辐射能 量达0 . 1 街 n 时， 无 功能 故障 。 4 . 5 . 3 表面 畸变 非接触式I C 卡内含集成电路的部分的表面与紧邻的卡表面的高差应小于0 . 0 5 m m( 低于表面) ， 且 不允许高于表面的高差。 4

8、. 5 . 4 机械强度 按附录A ( A l I 和A 1 2 的方 法试脸， 非 接触 式I C 卡应满足附录A ) 中A l l . 2 和A 1 2 . 2 o 4 . 5 . 5 电磁兼容性 非接触卡I C卡应满足以下要求: a ) 非接触式I C 卡 单独使用或与其藕合装 置联合使用时产生的电磁千扰 不应超过收 音机、 远程 通信 设备以及其它此类设备正常工作的水平。 b ) 其本身应具有足够的 保证工 作的抗电 磁干扰水平， 如抗汽车发动机 火花干扰。 4 . 5 . 6 磁场 非接触式I C 卡 暴露于7 9 . 5 k A / m的静态磁场中， 非接触式界面和集成电 路应继续

9、保持正常功能。 如果用作预付卡， 非接触式I C 卡暴露 于6 4 0 k A / m的 静态磁场中， 非接触式界面和集成电 路应继续 保持 正 常功能。 4 . 5 . 7 防静电 在附录A的A 1 4 试验中， 非接触式 I C卡的性能不应降低。 4 . 5 . 8 工作温度 I C卡至少应在一1 0一 00范围的环境温度下正常工作。 4 . 5 . ， 表面温度 使用中的 非接 触式I C 卡表面任何部位的温 度不应超过9 0 1 C . 4 . 5 . 1 0 交变磁场 I C 卡以任一方向 置于均值如表1 所 示的交变 磁场中. 平均时间6 m i n , 磁场的 最大。 水平应限

10、于均 值的3 3 倍， I C卡应继续保持正常功能。 而且， I C卡置于平均强度为 1 0 A / m n n s , 频率为1 3 . 5 6 M H a 的交变磁场中， 平均时间3 0 s , 磁场的最大 强度应限于1 2 A / m n n s , I C 卡 应继续保持正常功能。 4 . 5 . 1 1 交变电场 I C卡以任一方向置于均值如表2 所示的交变电场中， 平均时间6 m i n ， 电场的最大 m i s 水平应限于均 值的3 3 倍， I C卡应继续保持正常功能。 注: 此条是对作为预付卡的 I C 卡的技术要求。 磁场强度/ 颇率表 1电场强度/ 颇案表2 频率范围b

11、 l l f2平均磁场强度再 / m。 0. 3-3. 01. 6 3 3. 0- 3 0 4 . 8 9 / f 3 0- 3 0 00. 1 6 3 注: f : 频率， 单位为6 1 H z 翔率范围N i b 平均磁场强度 A / .丽 0 . 3 - 3 . 0 61 4 3. 0- 3 01 8 4 2/ f 3 0- 引 061 . 4 注: f : 频率， 单位 h u b .I T / T 4 5 2 . 1 -2 0 0 1 附录A ( 规范性附录) 试 验 方 法 试验条件 如无特殊说明， 试验环境温度为 2 3 士 3 C， 相对湿度为4 0 %一 6 0 %. 如无特

12、殊说明， 待实验的卡应在 A . 1 . 1 规定的试验环境下放置2 4 h以上。 如无特殊说明， 考虑到试验的设置和试验过程的偏差， 试验结果的允差为规定值的土 5 %. 应在试验报告中表明每一项试验结果的不确定性。 ，三，傀JJq . 且心卫且目且且 AAAAA A . 2 卡尺寸 A. 2 . 1 卡厚度的侧量 用量程为3 一8 m m的千分尺， 在卡的每1 / 4面积内量一点， 千分尺的力为3 . 5 一 5 . 9 N . A . 2 . 2 卡长和宽的测量 将卡置于表面粗 糙度小于3 . 2 1 m的 平面 上， 施加于卡( 2 . 2 1 0 . 2 ) N的力， 量卡的长度和宽

13、度， 量具 的精度为2 . 5 1 u n o A . 3 弯曲刚度 A . 3 . 1 将卡置于图示试验器具上， 量 h 】 的值( 见图A . 1 ) o A . 3 . 2 在卡右侧3 m m内 施加0 . 7 N 的力， 持 续l m i n ， 量h : 的值( 见图A . 2 ) o A. 3 . 3 移去荷载。 A . 3 . 4 1 m i n 后， 量h : 的值( 见图A . 3 ) o A .3 .5荷 载 下 变 形 为 ( h , 一 h 2 ) ，恢 复 后 变 形 为 ( h , 一 h 3 ) . 8 3 _ 明 1 0 川哥 3 .0 0( 最小 ) 图 A.

14、 1加 载 前 图 A. 2加 载 中 图 A. 3卸 载 后 A. 4 抗燃性 坐刀 A . 4 . 1 将卡一端固定， 与平面成4 5 0 ， 见图A . 4 A . 4 . 2 将本生灯与垂直方向成3 0 0 ， 对准卡的另一端， 灯的喷嘴 直径为8 一 l o m m ， 火焰高 度为2 5 m m ， 见图A . 4 o A. 4 . 3 卡在火焰下烧 3 0 s . A. 4 . 4 M卡从 火焰称开 后到本身 火熄 灭的时间 A. 5 耐化学性 A. 5 . 1 试剂 4 图A.4 卡和火焰设置示意 J T/ T 4 5 2 . 1 -2 0 0 1 A . 5 . 1 . 1

15、短时间浸渍试剂 a ) N a C I ( 9 8 % ) b ) C H 3 C O O H ( 9 9 % ) c ) N a 2 C O 3 ( 9 9 % o ) d ) C H 3 C H 2 0 H ( 9 3 % ) e ) C 12 踢0 1 1 ( 9 8 %) f ) 燃料 g ) H O C 珑C H 2 ( 川( 9 8 %) A. 5 . 1 . 2 长时间浸渍试剂 a ) 盐雾 b ) 人造汗 1 ) 碱液 2 ) 酸液 A . 5 . 2 每一种试剂各用一张卡进行试验。短时间浸 渍为! m i n , 温度为2 0 一 2 5 9 C 。 长时间浸渍为2 4 h

16、, 垂直立于盐雾箱中， 浸泡于人造汗液内。 A . 6 A . 6 . 1 温湿条件下卡尺寸稳定性 将测试卡放在水平平面上， 在下列每种环境中放置 6 0 m i n o 一3 5 9 C - 3 9 C; 9 0 9 0土3 且9 5 %士5 %的相对湿度。 在每种环境放置后， 移回A l . 1 的环境中放置 2 4 h以上， 测其尺寸稳定性和翘曲、 是否可读写。 A. 7 卡翘曲 格栅 A. 7 . 1 用最小精度为0 . O l m m的轮廓投影仪， 至少卡的三个角位于 仪器的平板上( 见图A. 5 ) , 测偏移最大点的值。 A. 8 剥离试验 A. 8 . 1 试粒器材 a ) 锋

17、利的刀; b ) 压敏增强胶带或适应的夹具; c ) 带绘图或相应记录功能的拉力试验器; d ) 夹子; 卡 项 边。 土 图nS 卡翘曲测量装置 试验区1 试验区2 试验区3 试验区4 e ) ( 如需要) 带胶带的稳定盘， 并满足以下要求: 1 ) 着力足以保证试验过程中稳定盘和卡不分开; 2 ) 试验中稳定盘不弯曲; 3 ) 稳定盘等于或大于卡的尺寸。 图A. 6 准备卡 A. 8 . 2 试验过程 a ) 如图A . 6 所示， 用刀 划透卡， 宽 度为l o m m士 0 . 1 = ; b ) 如图A . 7 所示， 用刀剥开一 层， 长约l o m m ， 用胶 带粘 在剥开层的

18、背面; 。 ) 如图A . 8 所示， 将上述做好的试样放在拉力试验器 上， 卡应牢固固定于试验设备上; d ) 开动拉力试验器， 速度为3 0 0 m m / m in ; 因翻触侧胭健霭 J T/ T 4 5 2. 1 -2 0 0 1 e ) 如图A . 9 所示. 最初和最后 5 m m以及小于 l m m的尖峰不予考虑， 测量最小剥离力( N ) o 后板 滚直径1 0 口 . 滚 间 距 I - 图A . 7 准备试样 5 图 A. 9 图A. 8 试样装置于拉力试验器上 弩 峪弩 嚼 侧量区 剥离强度记录图示例( 单位: 俪 ) A. ， 光透射性 A. 9 . 1 一个光谱光度

19、计以及一个球形光散射室， 其上有一 8 二 的孔， 可侧量光谱在 4 0 ( 一l 0 0 0 m n 范围 内的不透光性。 A. 9 . 2 在卡的任何部位， 以2 0 m n 的波长间隔， 测量卡在4 0 ( 一 1 0 0 0 m n 范围内的最小光透射性。 A. 1 0 紫外线 A. 1 0 . 1 将卡暴露于波长为2 5 4 ， 的单色光下， 注意保持 A l 要求的试验条件。 A . 1 0 . 2 卡的正面累积能量达0 . 1 5 W . / . 后， 重复试验卡的背面。 A . 1 0 . 3 试验结束后， 检查卡的功能。 A. 1 1 X一射线 A. 1 1 . 1 将卡的两

20、面都暴露于X射线的辐射中， 达 4 . 5 . 2规定的泉积能量。 A . 1 1 . 2 检查卡的功能。 A . 1 2 抗弯性能 A. 1 2 . 1 试验过程 将非接触式 I C卡置于夹具中， 如图 A . 1 0所示， 弯曲。 a ) 长边的变 形f = 2 0 m m ， 每分钟弯曲3 0 次; 6 J T / T 4 5 2 . 1 - 2 呱 】 b ) A i 边的变形f = I O m m ， 每分钟弯曲3 0 次。 每弯曲 1 2 5次后， 检查非接触式 I C卡的写和/ 或读方式的功能。 将非接触式 I C卡另一面向上置于夹具中， 重复上述步骤。 正反两面共四个方向， 每

21、一方向至少弯曲2 5 0 次。 A . U. 2 接受准则 四个方向 上的任一方向 弯曲2 5 0 次后， 应保持正常功能且无裂缝。 A . 1 3 抗扭性能 A. 1 3 . 1试验过程 将非接触式 I C卡置于夹具中， 如图A. 1 1 所示， 对其短边施加扭矩， 扭转至 1 5 1 * 1 0 ， 每分钟扭转 3 0 次， 每扭转 1 2 5 次后， 检查非接触式I C 卡的写和/ 或读方 式的功能。 固定点 图 A . 1 0 弯曲试验示惫 A. 1 3 . 2接受准则 图A. 1 1 非接触式I C卡扭转示意 非接触式 I C卡在扭转 1 0 0 0 次后， 应保持正常功能且无裂缝。

22、 A . 1 4 A . 1 4 静磁场 将卡置于4 . 5 . 6 规定的静磁场中， 擂人速度在2 0 0 - 3 5 0 m m / 。 内。 、 、 传 导 板 一产 户a C C _一 一 一一 一 ll 一 丰 一 J I ! _ _ 一下一 一 1 1一 一 一一 C I C C 平面 加个试获区 图A. 1 2 静电试验示意 .1 T/ T 4 5 2. 1 -2 0 0 1 A . 1 4 . 2 检查卡的J u 能 A. 1 5 静电 A. 1 5 . 1 试验过程 如图A . 1 2 所示， 用一个1 0 0 p F 的电 容器， 初始充电为l O k V ， 通过一5 0 0 5 2 的电 阻器对非接触式I c 卡 放电， 以 1 0 。 为间隔， 连续进行 2 0 次放电。对两极分别做同样的试验。 注: 试验中非接触式 i s - K 表面应不受设计形状和表面固定层的影响。 A. 1 5 . 2 接受准则 试验结束后， 检查集成电路的写和/ 或读方式的功能。