JBT9495.7-1999.pdf

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1、I C S 1 7 . 1 8 0 ; 3 1 . 0 3 0 N 05 中 华 人 民 共 和 国 机 械 行 业 标 准 J S / T 9 4 9 5. 7 - 1 9 9 9 光学晶体光学均匀性测量方法 Me a s u ri n g m e t h o d f o r o p t i c a l h o m o g e n e i t y o f o p t i c a l c r y s t a l 1 9 9 9 一 0 8 一 0 6 发布 2 0 0 0 一0 1 一 0 1 实施 国 家 机 械 工 业 局发 布 J B/ T 9 4 9 5 . 7 - 1 9 9 9 前

2、言 本标准是对Z B N 0 5 0 0 1 甲 7 -碱光学晶体光学均匀性 测量方 法 的修订。本标准根据C B / T 1 . 1 - 1 9 9 3 和G B / f 1 . 2 2 -1 9 9 3 的要求对原 标准作了编辑、 文字上的修 改, 主要 技术内 容没有变化。 本标准自 实施之日 起, 代替Z B N 0 5 0 0 1 . 7 -8 6 , 本标准由仪表功能材 料标准化 技术委员 会提出并归口 。 本标准由北京玻璃研究所负责起草。 本标准主要起草人: 杨学志。 本标准 1 9 8 6 年 6月首次发布。 中华人民共和国机械行业标准 光学晶体光学均匀性测t方法 J B/ T

3、 9 4 9 5. 7 - 1 9 9 9 代挤 Z B N 0 3 0 0 1 . 7 -8 6 M - S - bg . 以 加 d扮 叩 吐 目加.甲叫灯 吐甲生目口 ,目 范圈 本 标 准 适 用 于 直 径 不 大 于2 0 0 0 .的 光 学晶 体 光 学 均 匀 性 的 m it , 侧 盆 折 射 率微 差的 精 度 为: d , 二 : 1 x 1 0 - “ e 2 引用标准 下列标准所包 含的 条文, 通过在本 标准中引 用面 构成为本标准的条文。 本标准出版时所示版本均为 有效。 所有标准都会被 修订. 使用本标准的各 方应探 讨使用下列标准最新版 本的可能性。 I

4、B / 1 9 4 9 5 . 1 - 1 9 9 !) 光学 晶体 3原理 光学均匀性系相同一块光学晶体内部折射率微差的大小。 当一块内部折射率分布不均匀的光学晶 体放在干涉仪( 如台曼干涉仪) 的m呈光路中时, 干涉仪原笔直规则的干涉条纹会产生弯曲或其它变形 用这种光程改变而 引起的干涉条纹弯曲与光学晶体内 部折射率分布豹关系即可判断其光学均匀性的好 坏。公式( 1 )给出了这种对应关系: 令么 二 一 ( : 一 U g h LI q 二 一一 一不 式中: 7 一一 光学晶体的折射率; 。样品干涉条纹的变化量; h -祥品表面面形误差( 这里指贴置玻璃表面平面度局部光3卜 h-样 品厚

5、 度 , 。 4仪号 本标准采用台曼 一 格林干涉仪( 或激光多光束球面干涉仪) 。其光路示意图如图 t o 5样品 5 . 1 测量光学均匀性的光学晶体样品应力双拆射应小于二类。散射颖粒度为二类以上。 5 . 2 样品加工 成外形规整, 两通光面平行度小于 1 , 面 形平整用3 0 3 . 砂细磨。 以 刀刃尺检验, 肉眼 观察 无缝为准。 5 . 3 侧量前样品需在恒 温室 内放晋 1 2 h. 国家机械工业局 1 9 9 9 一0 8 一0 6 批准2 0 0 一 0 1 一 0 1 实施 I B / T 9 4 9 5. 7 -1 9E旧 1 一 单色 光诬;z - 准直物镜;3 一

6、 分束倪;4 一 样品;, 一 贴t玻确一对; 6 一 标准平面反 射镜; , 一 补尝板;8 一 参考平面反射镜;9 一 望远俄;1 0 - 观侧系统 图 1 台受一格林干涉仪光路示惫图 6测. 6 . , 条件 6 . 1 . 1 测试时恒温室温度波动不得超过t 0 . 5 C/ h , 室内相对湿度不大于7 5 %. 6 . 1 . 2 测it过程中要隔展, 防展周期小于3 H z / s , 隔屁展幅小于0 . 2 11 m , 6 . 1 . 3 贴置用折射液与样品折射率差小于 1 x 1 0 - , 6 . 2 步骤 6 . 2 . 1 接通电源, 预热 1 5 m i n , 调

7、 整干涉仪使仪器处于正常 工作状态。 6 . 2 . 2 将样品放于载物台上, 贴人贴置玻璃中, 调整载物台 及样品, 使其垂直于光 路并使光轴通过 其中 心。 6 . 2 . 3 调整标准镜和参考镜, 使视场中出现五条左右清晰可见的干涉条纹。 6 . 2 . 4 记录干涉条纹弯曲方向, 量取间距及弯曲to 6. 3结果 6 . 3 . 1 干涉条纹弯曲童与条纹间距的比值 二的计算。 a ) 如图 2 所示, 干涉条纹规整, 等距, 但有局部弯曲, 则: a. 凸 爪 二 口 ( 2 ) 式中:L 1 a - 各条纹弯曲 f中 的最大值, 二 ; 口条纹间距, 画 。 6 ) 图 3 所示干涉条纹既不规整, 也不等距且有局部弯曲, 则: 爪 二 ( 3 ) 式中: a - 最大间距, 二 ; a. 一最小间距, 二 。 么 胜 1= . . . . . . . . . . . . . . ( 4 ) 取 。. 和 两 中最大值计算样品的光学均匀性 n值。 J s/ r 9 4 9 5. 7 , 一1 9 9 9 图 2图 3 6 . 3 . 2 将 :gy m值代人公式( 工 、 算出 n按光学晶体标准 J B / r 9 3 9 5 . 1 -1 9 9 9 中5 . 2 . 6 的规定分类

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