JIS X6175-2006 Information technology -- Data interchange on 12.7 mm,.pdf

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1、 X 6175:2006 (ISO/IEC 22050:2002) (1) 規格,工業標準化法第 12 条第 1 項規定基,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA) 財団法人日本規格協会(JSA),工業標準原案具日本工業規格制定申出, 日本工業標準調査会審議経,経済産業大臣制定日本工業規格。 制定当,日本工業規格国際規格対比,国際規格一致日本工業規格作成及日 本工業規格基礎国際規格原案提案容易,ISO/IEC 22050:2002,Information technologyData interchange on 12.7mm,384-track magnetic tape cartridg

2、esUltrium-1 format 基礎用 。 規格一部,技術的性質特許権,出願公開後特許出願,実用新案権,又出願公開後 実用新案登録出願抵触可能性注意喚起。経済産業大臣及日本工業標準調査会 ,技術的性質特許権,出願公開後特許出願,実用新案権,又出願公開後実用新 案登録出願確認、責任。 JIS X 6xxx ,次示附属書。 附属書附属書 A(規定)(規定)測定 附属書附属書 B(規定)(規定)広帯域信号対雑音比測定 附属書附属書 C(規定)(規定)研磨性試験方法 附属書附属書 D(規定)(規定)LTO 附属書附属書 E(規定)(規定)曲剛性試験 附属書附属書 F(規定)(規定)LTO CM

3、電気的 附属書附属書 G(参考)(参考)輸送条件 附属書附属書 H(参考)(参考)不良 附属書附属書 I(参考)(参考) X 6175:2006 (ISO/IEC 22050:2002) 目 次 1. 適用範囲 適用範囲1 2. 適合性 適合性1 2.1 磁気 磁気2 2.2 生成 生成2 2.3 受領 受領2 3. 引用規格 引用規格2 4. 定義 定義2 5. 表記法 表記法5 5.1 数字表現 数字表現5 5.2 寸法 寸法5 5.3 名称 名称5 5.4 英数字文字列符号化 英数字文字列符号化5 6. 略号 略号5 7. 環境条件及安全性 環境条件及安全性6 7.1 及試験環境条件 及

4、試験環境条件6 7.2 使用環境条件 使用環境条件6 7.3 保存環境条件 保存環境条件6 7.4 張力 張力7 7.5 安全性 安全性7 7.6 燃焼性 燃焼性7 7.7 輸送 輸送7 8. 寸法及機械的特性 寸法及機械的特性7 8.1 要素 要素7 8.2 基準面(図 基準面(図 2)8 8.3 寸法 寸法8 8.4 書込禁止機構(図 書込禁止機構(図 3 及図及図 5)12 8.5 柔軟性 柔軟性12 8.6 12 8.7 磁気 磁気15 8.8 15 8.9 LTO CM(図(図 18)17 8.10 検知領域(図 検知領域(図 3)17 8.11 及挿入表示(図 及挿入表示(図 19

5、)18 8.12 印刷領域(図 印刷領域(図 19)18 8.13 不透明性 不透明性19 X 6175:2006 (ISO/IEC 22050:2002) (3) 9. 機械的物理的特性及寸法 機械的物理的特性及寸法32 9.1 材料 材料32 9.2 長 長 33 9.3 幅 幅 33 9.4 厚 厚33 9.5 長手方向湾曲 長手方向湾曲34 9.6 縁品質 縁品質34 9.7 平面性 平面性35 9.8 塗布面接着強度 塗布面接着強度35 9.9 層間粘着 層間粘着36 9.10 摩擦係数 摩擦係数37 9.11 表面品質 表面品質38 9.12 研磨性 研磨性38 9.13 引張強度

6、 引張強度38 9.14 長手方向弾力性 長手方向弾力性39 9.15 残留伸 残留伸39 9.16 曲剛性 曲剛性39 9.17 幅方向寸法安定性 幅方向寸法安定性39 9.18 塗布面電気抵抗 塗布面電気抵抗39 10. 磁気記録特性 磁気記録特性40 10.1 概要 概要40 10.2 試験条件 試験条件40 10.3 最適記録電流 最適記録電流40 10.4 信号振幅 信号振幅41 10.5 分解能 分解能41 10.6 重書 重書41 10.7 消去性能 消去性能41 10.8 広帯域信号対雑音比 広帯域信号対雑音比 41 10.9 品質 品質41 11. 記録方法 記録方法 41 11.1 概要 概要41 11.2 42 11.3 符号化 符号化 45 11.4 位置 位置49 11.5 49 11.6 公称位置 公称位置49 11.7 長周期平均位置 長周期平均位置 49 12. 記録方法 記録方法49 12.1 物理的記録密度 物理的記録密度49 12.2 公称長 公称長50 X 6175:2006 (ISO/IEC 22050:2002) 12.3 長周期平均長 長周期平均長50 12.4 短周期平均長( 短周期平均長(STA)50 12.5 STA 変化率変化率50 12.6 50 12.7 記録特性試験条件 記録特性試験条件50 12.8

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