MH-T 3009-2004 航空器无损检测 射线检验.pdf.pdf

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1、I C S 1 9 . H 2 6 1 0 0 M H 中华人民共和国民用航空行业标准 MH/ T 3 0 0 9 -2 0 0 4 代替 M H / T 3 0 0 2 . 3 -1 9 9 7 航空器无损检测射线检验 N o n d e s t r u c t iv e t e s t i n g f o r a ir c r a f t-R a d io g r a p h i c t e s t i n g 2 0 0 4一 0 5一 2 0 发布2 0 0 4一1 0一 0 1实施 中国民用航空总局发 布 MH/ T 3 0 0 9 - 2 0 0 4 目次 黔 髻 2 3 4 4

2、. 1 4 . 2 4 . 3 4 . 4 4 . 5 范围 。， ， ， 1 1 ， ， ， 1 ， 1 ， ， ， ， ， ， ， 一 规范性引用文件 ， . ， . ， . ， . . . . . ， . . . . . . . . ， 术语和定义 ， . . . . . . . . . . . . 一般要求 ， ， ， ， ， ， ， 人员资格 ， ， . . . . . 厂房设备 ， ， ， ， ， ， - ， . ， . . . 一 材料 ， ， ， 设备 ， ， ， ， ， ， 一 像质计 ， ， ， 4 4 ， ， ， ， ， ， 】 ， ， ， 1 1 二 详细要求 ， ，

3、检验程序 ， ， . . . . . . ， . 一 ， . . . . ， ， ， . . . . . . . . . . . 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 ， ， . . . . . . . . . . 2 ， ， ， . . . . . . . . . . . . . . . . 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 ， ， 4 4 。 3 一一一一 一一一 验收要求 .

4、 . . . . . . . . . . . . . . . 表面准备 ， ， ， 射线底片识别标记 ， ， 检验和透照范围. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ， . . 检验工序 ， ， . . . . . 一 ， 非胶片技术 ， ， ， ， ， . . . . . ， . . . . . . . . 多胶片技术 、 ， . . . . . . . . . . . . . . ， 二 射线检验质量等级 ， ， ， 、 ， 一 55152 一一 5 . 3 5 . 4 5 . 5 5 . 6 5 . 7 5 . 8 5 .

5、 9 5 . 1 0 5 . 1 1 5 . 1 2 5 . 1 3 一 5 . 2 0 5 . 2 1 5 . 2 2 5 . 2 3 5 . 2 4 5 . 2 5 5 . 2 6 底片密度 ， . ， . . 射线胶片处理 像质计选择 ， ， ， ， 1 ， ， ， ， 像质计的放置 遮蔽 ， . . . . 滤波板 ， ， . . . . . . . . . . . . . . 多胶片暗盒曝光 评定像质计区域 ， ， ， 不必使用像质计的条件 焊接件 . . . ， . . . . 对比度 . ， . 背散射 . . . . . ， . 射线源到胶片距离 一 识别标记 ， ， 定位标记

6、 . . . . . . . . . . . . . . . . . 裂纹检查 卜 . . . . . . . . . . 质量保证 . . . . . . . . . ， . . . 514515516517518519 ， ， ， ， ， ， ， ， 8 8 ， ， 8 。 ， 9 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 . . . . . . . . 9 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 MH/ T 3 0 0 9 -2 0 0 4 5 . 2 7

7、标记 ， ， ， . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0 附录 A ( 规范性附录) 胶片处理溶液的控制 - ， ， ， ， ， . . . 1 2 A . 1自动处理 ， ， 1 2 A . 2手工处理 ， 、 ， 1 2 附录B ( 规范性附录) 可替代型像质计类型的结构 ， ， ， ， ， ， 一 1 4 防录C ( 规范性附录) 焊接件 ， ， . . ， 1 6 C . 1 焊缝 、 ， ， ， ， ， ， 拓 C . 2 用于焊缝的像质计选择 ， ， ， ， . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

8、. . 1 6 C . 3 电 子束( E B ) 焊接 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7 附录D ( 资料性附录) 本标准与A S T M E 1 7 4 2 -0 0 的差 异与原因 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8 附录E ( 资料性附录) 国内有关标准和美国有关标

9、准对照表 ， 4 ， . . . . . . . 1 9 附录F ( 资料性附录) 本标准与A S T M E 1 7 4 2 -0 0的条款对照表 ， ， ， . . . .2 0 M H/ T 3 0 0 9 - 2 0 0 4 前言 本标准修改采用A S T M E 1 7 4 2 -0 0 射线检验标淮。 本标准代替M H / T 3 0 0 2 . 3 -1 9 9 7 航空器无损检测 射线检验。 本标准的附录D 列出了本标准与A S T M E 1 7 4 2 -0 。 的差异及其原因。 木标准的附录 E列出了国内有关标准与美国有关标准的对照。 本标准的附录 F列出了本标准章条编号

10、与A S T M E 1 7 4 2 -0 0 章条编号的对照。 本标准与 M H / T 3 0 0 2 . 3 -1 9 9 7比较，主要变化如下: 规定了对金属与非金属材料射线检验的最低要求; 增加了 射线检验质量控制的 要求; 增加了附录A一 附录F ; 取消了 校验密度计和校验密度片的 要求; 增加了自 动洗片机的质量控制要求; 给出了 对射线束中心与裂纹的角度范围 更具可 操作性的 要求。 本标准的附录A一 附录C为规范性附录，附录D一 附录 F为资料性附录。 本标准由中国民航无损检测人员资格鉴定委员会提出。 本标准由中国民用航空总局航空安全技术中心归口。 本标准起草单位:广州飞机

11、维修工程有限公司、北京飞机维修工程有限公司、中国国际航空公司 西南分公司、中国东方航空集团公司。 本标准主要起草人:聂有传、丁克美、杨剑英、金景海。 本 标准所代替标准的 历次 版本发布情况为: M H / T 3 0 0 2 . 3 -1 9 9 7 MH/ T 3 0 0 9 -2 0 0 4 引言 M H / T 3 0 0 2 . 3 -1 9 9 7 已经实施近6 年，在民 航无损检测领域中起到了重要的指导使用。M H / T . 3 -1 9 9 7等效采用美军标 M I L -S T D -4 5 3 C编写。M I L -S T D -4 5 3 C于 1 9 9 6年被 A

12、S T M E 1 4 7 2替 A S T M E 1 4 7 2 的结构和内容与M I L -S T D -4 5 3 C 相比有较大的不同。为了与国 外先进标准保持一 以适应我国民航无损检测发展的需要， 有必要根据A S T M E工 4 7 2 对M H / T 3 0 0 2 . 3 -1 9 9 7 进行修 代致订 M H/ T 3 0 0 9 - 2 0 0 4 航空器无损检测射线检验 范围 本标准规定了民用航空器所用材料及零部件射线检验的最低要求。 本标准适用于民用航空器所用材料及零部件的射线检验。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注

13、 日期的引用文件，其随后所有 的修改单 ( 不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准 ，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方 研究是否可使用这 些文件的最新版本。 凡是不注日 期的引用文件， 其最新版本适用于本标准。 G B / T 1 2 6 0 4 . 2 -1 9 9 0 无损检测术语 射线检测 G B Z 1 1 7 -2 0 0 2 工业 X射线探伤卫生防护标准 G B Z / T 1 5 0 -2 0 0 2工业X射线探伤卫生防护监测规范 J B / T 7 9 0 3 -1 9 9 9 工业射线底片观片灯 M H / T 3 0 0 1 -2 0 0 4 航空器无损检测人员资格鉴

14、定与 认证 A S T M E 5 4 3 无损检测实施机构的标准要求 A S T M E 7 4 7 射线检验线性像质计的设计、 制造和材料组分类 A S T M E 9 9 9工业胶片处理质量控制指导 A S T M E 1 0 2 5 射线检验用孔型像质计的 设计、 制造及材料组分类 A S T M E 1 2 5 4 射线底片及未曝光工业射线胶片 储存指南 A S T M E 1 2 5 5 射线荧光实时成像检验 A S T M E 1 4 1 1 射线荧光实时成像检验系 统鉴定标准 3术语和定义 G B / T 1 2 6 0 4 . 2 -1 9 9 0 确立的及下列术语和 定义适

15、用于本标准。 3 . 1 被认可的工程机构c o g n iz a n t e n g i n e e r i n g o r g a n i z a t i o n 对要求射线检验的系统或零件负责设计或最终使用的公司、代理商或其他被授权的机构。 注:该机构包括设计人员、材料、工艺、应力分析、无损检测或质量组织以及其他相关的人员。 3 . 2 类似截面l i k e s e c t i o n 与被进行射线检验的零件具有相似形状和横截面并且由同种材料或相似射线吸收系数材料制成的 独立的横截面 3 . 3 材料组m a t e r i a l g r o u p 主要合金成分相同并能够使用相问候

16、质计检验的材料。 3 . 4 射线检验质量等级r a d i o g r a p h i c q u a l i t y l e v e l 用像质计灵敏度来表征的射线检Nn ( 能力。 M H / T 3 0 0 9 - 2 0 0 4 4一般要求 4 . 1 人员资格 4 . 1 . 1 实施射线检验的人员应由雇主或认证机构按 MH / T 3 0 0 1 -2 0 0 4进行相应的资格鉴定和认证或 按合同或采购单中的规定执行。 4 . 1 . 2 如果合同中 规定按A S T M E 5 4 3 对检测机构进行评估，在 合同中 应写明A S T M E .5 4 3 的现行有 效版本号。

17、 4 . 2厂房设备 4 . 2 . 1 安全措施 房屋和设备不应对人员或财产的 安全造成损害。 应按G B Z 1 1 7 -2 0 0 2 和G B Z / T 1 5 0 -2 0 0 2 实施检 验程序，使人员在射线检验中所吸收的辐射剂量不超过相关规定的最大剂量。 4 . 2 . 2射线检验曝光区域 射线曝光区域应保持清洁，并且配置齐全，以便得到符合本标准要求的底片。 4 . 2 . 3暗室 暗 室设备和材料应能冲出均匀的 射线底片，不应 存在影响底片评定的因素。 4 . 2 . 4底片观察区 观片 室内光 线应柔和， 以避免在底片表面 产生影响 底片评定的反射光。 4 . 3材料 4

18、 . 3 . 1 胶片 应依据射线源能量水平、 零件厚度、 零件形状和图像质量选择射线胶片。只有得到认可的工程机 构批准的 胶片 才可 使用。经认可的工程机构批准，可 使用其他记录介质， 如感光纸和类似的 感光带。 4 . 3 . 2 胶片处理溶液 处理胶片的溶液应符合本标准的要求。溶液的控制应符合附录A的要求。 4 . 4设备 4 . 4 . 1 X射线源 应依据被检零件的变量 ( 材料类型和厚度)和曝光时间选择合适的电压和电流值。 合适的曝光参 数可通过达到透照质量等级要求和符合本标准规定的 其他要求来验 证 4 . 4 . 2 胶片 袋和暗盒 胶片袋和暗盒不应透光，所用材料不应影响底片质

19、量和检验灵敏度。使用前应对胶片袋和暗盒进 行检查，如果发现漏光，应修理或废弃。 4 . 4 . 3 增感屏 4 . 4 . 3 . 1 铅增感屏 当射线源 能量超过1 5 0 k V时， 宜使用铅增感屏。铅增感屏应与所用胶片具有同 样尺寸， 并在曝光 过程中紧 贴胶片。 铅增感屏厚度应按表 I 进行选择。 铅增感屏应无裂纹、 折痕、划伤或在胶片上产生 非相关图像的外来材料。 4 . 4 . 3 . 2 荧光、金属荧光或其他金属增感屏 在保证获 得规定的射线检验质量等级、密度和对比度的情况下可使用荧光、金属荧光或其他金属 增感屏 4 . 4 . 4观片灯 4 . 4 . 4 . 1 观片灯亮度应

20、可调，以便根据不同密度的 底片 选择最佳亮度。 4 . 4 . 4 . 2 光源亮度应足以观察评定区域的底片密度 ( 见5 . 2 6 . 4 )。 4 . 4 . 4 . 3 观片 灯观察屏的亮度应均匀。 4 . 4 . 4 . 4 观片 灯应配 备合适的风扇、吹风 机或采用其他方法使观察窗保持适宜的温度， 避免在观片时 因高温损伤底片。 MH / T 3 0 0 9 - 2 0 0 4 表 1 铅增感屏厚度 射线能量范围 铅增感屏厚度 前 屏 最 大厚 度 m m( i n ) 后屏最小厚度 m . 0 . ) 0 一1 5 0 k V0 . 1 2 7 ( 0 . 0 0 5 ) “ 1

21、 5 0 k V - 2 0 0 k V 0 . 1 2 7 ( 0 . 0 0 5 ) 0 . 1 2 7 ( 0 . 0 0 5 ) 2 0 0 k V 一2 MV0 . 1 2 7 ( 0 . 0 0 5 ) 一 0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 )0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 ) 2 MV 一4 MV0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 )0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 ) 4 M V 1 0 MV0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 ) 一 0 . 7 6 2 ( 0 . 0 3 0 )0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 ) 1

22、 0 M V -2 5 M V0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 ) 一1 . 2 7 0 ( 0 . 0 5 0 )0 . 2 5 4 ( 0 . 0 1 0 ) 对于不同能量范围列出的铅增感屏厚度是推荐厚度而不是必需的厚度。只要能达到所要求的射线检验质量等 级、 对比度和密度， 可以使用其他厚度 预包装的无铅增感屏胶片可用到 1 5 0 k V 。预包装的带铅增感屏胶片可用于 8 0 k V一1 5 0 k V 。在更高能量级上， 只要 能达到对比度、 密度 、射线检验质量等级和背散射防护要求的， 两种方法包装胶片都可以使用 b 在满足 5 . 2 1的背散射防护要求下可不需要后屏

23、。 4 . 4 . 4 . 5除局部进行高密度底片评定需高强度光而采用独立的观察口外，观片灯的每一个观察屏前应 装置透明材料。 4 . 4 . 4 . 6应配备一套不透明遮光板、可调光圈或其他可缩小观察区域的附件。 4 . 4 . 4 . 7所使用的照明装置应符合J B / T 7 9 0 3 -1 9 9 9的要求。 4 . 4 . 5数字化技术 经认可的工程机构批准，可采用胶片数字化技术。 4 . 4 . 6密度计 密度计应能测量密度达到4 . 0的底片，分辨率为0 . 0 2 。当底片密度允许大于 4 . 0时，则应使用能 钡 ( 量最大密度的密度计。 4 . 4 . 7底片观察的辅助设

24、备 可以根据需要使用3 倍一 1 0 倍的放大镜来帮助判断和确定显示尺寸。特殊放大镜的使用应根据评 定要求确定。用于确定缺陷尺寸所用的设备 ( 如带有刻度的放大镜)应按表 2中规定的周期校准。 4 . 5像质计 4 . 5 . 1 像质计 像质 计应与合同要求一致。在要求使用 像质计时，可使用符合A S T M E 1 0 2 5 或附录B 规定的 孔型 像质计， 也可使用符合J B / T 7 9 0 2 规定的 线型 像质计。 如果使用线型像 质计， 应按A S T M E 7 4 7 修正到 孔型射线检验质量等级。 4 . 5 . 2射线检验中可替代的像质计材料 两块相同厚度的材料，一块

25、是被检透照材料，另一块是与像质计相同的材料，在同一胶片上以最低 能量水平曝光。如果像质计材料与被检透照材料的底片密度差在 0一+ 巧%范围内，同时这两种材料的 底片 密度在2 . 0 一 4 . 0 之间，可 认为像质计材料与被检透照材料相似， 可使用低密度材料的 像质计。 4 . 5 . 3可替代型像质计 使用其他类型像质计或 4 . 5 . 1 中规定的改进型像质计时，应得到被认可的工程机构批准。像质1 十 的 结构 、 材料名称及厚度要求等应写人 工艺规程中，或按 5 . 1 的要求在图纸上注明。 4 . 5 . 4像质计控制 M H / T 3 0 0 9 - 2 0 0 4 像质计的

26、获得或制造应符合 A S T M E 1 0 2 5 或附录 B的规定，制造厂应提供相关合金和尺寸的鉴定 证书。应根据表2目视检查像质计的损伤和完整性。 表2质最控制检查 检 查 项 目检查周期要求 缺陷测量设备 光学设备采购时检查， 机械设备应计量 4 . 4 . 7 像质计 鉴定证书采 购 时4 . 5 . 4 检查( 状态) 使用前 不需文件记录4 . 5 . 4 自动冲片 冲片机性能使用前附录A中A . 1 . 1 灰 雾 度使用前附录A中A . 1 . 5 显影液温度使用前， 不需文件记录附录A中A . 1 . 3 显影液补液流动速率 在预防性维护或修理期间， 当溶剂更换时应测量和记

27、录 附录A中A . 1 . 2 送片速度在预防性维护或修理期间应测量和记录附录A中A . 1 . 4 手工冲片 冲片性能使用前附录A中A . 2 . 1 灰雾度每月 附录A中A . 1 . 5 显影液温度使用前， 每次使用前应检查温度， 该项检查应文件记录 观片灯亮度采购时， 以及灯泡类型或功率改变， 或者维修时5 . 2 6 . 4 温度计校验6个 月附录A中A . 1 . 3 密度计校验每次工作前或维修时5 . 2 6. 5 环境可见光6个月5 . 2 6. 6 白光照度计每年5 . 2 6 . 6 阶梯楔块密度片校验每年5 . 2 6 . 5 5详细 要求 5 . 1 检验程序 无损检测

28、机构有责任以书 面形式编制可操作的 工艺规程， 按该工艺规程能够获得所期望的、 始终不 变的结果和射线检验质量等级。在合同或定单有要求时，该工艺规程应提交被认可的工程机构批准。书 面工艺规程应至少包括以下内容; a )用 来表示每次曝光时被检件、 胶片、 像质计与辐射源相对位置的图 样、示意图或部件照片， 包 括射线束与部件的角度关系、射线源至胶片的距离以及所用垫块或遮蔽方法; b ) 划分零件区域和验收标准。如需要可通过图样、表格或参照包含此类信息的文件来实现; 。 )射线机的额定曝光参数: 管电 压、管电流、时间以及有效焦点尺寸; d ) 所用胶片、增感屏、滤光板类型以及底片密度范围; e

29、 ) 被检零部件名称、材料类型和厚度; f )像质计尺寸和类型， 以及所要求的射线检验质量等级。如果使用其他像质计 ( 见4 . 5 . 3 )， 应 包括结构细节或者参照包含这些信息的文件; MH/ T 3 0 0 9 -2 0 0 4 9 )垫片或垫块， 或两者的材料厚度及类型 ( 若使用时); h )编制该工艺规程的无损检测机构名称和地址、工艺 规程的日 期或版本 用于射线检验识别部件和胶片相对应的方法 ，如果对于许多部件的检测工艺规程都类似，则可制定 用于多种部件的通用书面工艺规程。所有的书面工艺规程都应经具有射线检验 3 级资格证书的人员批 准。 5 . 2验收要求 按本标准实施检验

30、时，工 程图样、技术条件或其他应用文件应给出部件的评定验收标准。复杂部件 可划分区域验收，根据设计要求对不同区域分别确定验收标准。对按 A S T M射线检验标准实施检验时， 应包括各个部件或区域允许的不连续性的等级。 5 . 3表面准备 除了可能干扰射线检验影像正确判断的表面状态应去除外，零件在检验时可不进行表面准备或修 整。铸件、锻件和焊接件的表面不影响结果评定时，可在铸造、锻造和焊接状态下进行射线检验。可接 近的 焊接件表面准备应符合附 录C中C . 1 的要求。 5 . 4射线底片识别标记 每张底片都应有识别标记，即 部件系列编号。如果需多次透照时， 还应有透照部位顺序编号。 每张 底

31、片上还应有完成该部件检验的无损检测机构的识别标记和检验 日期标记。修理区域的射线底片应用 R 1 , R 2 , R 3 等标记以 显示其修理的次数。 5 . 5检验和透照范围 应在图样、射线检验工艺、射线检验手册、航空器技术文件或其他适用的技术文件中规定被检验零 件的 数量和每个零件射线检验的范围。应使用易于识别的符号对被检验区 域在图 样上做出 标记。如 果被 检零件的数量和每个零件的检验范围未作规定时，则所有零件都应百分之百进行检验。 5 . 6 检验工序 应在制造或组装技术文件、 合同或采购单中规定生产过程中 进行射线检验的工 序。如果未予 规定， 则射线检验应在制造或装配阶段易于发现

32、不连续性的工序中实施。如果在热处理后要实施液体渗透或磁 粉检验，则射线检验可在热处理前实施。 5 . 7 非胶片技术 当采购单、合同和 技术条件允许时， 射线荧光实时成像检验法应符合A S T M E 1 2 5 5 的要求。 射线 荧光实时成像检验系统的质量认证应符合 A S T M E 1 4 1 1 规定。详细的检验、评定及质量控制程序应由 具有射线检验 3 级资格证书的人员批准。 5 . 8 多胶片技术 在规定部位能达到适当的射线检验质量等级和底片密度要求时 ( 见5 . 9和 5 . 1 0 )，则可在同一胶 片盒中放置感光速度相同或不同的两张或多张胶片。 5 . 9 射线检验质f等

33、级 根据像质计厚度和在射线底片上孔型像质计的担T ,小 2 T , 树T 孔在底片上产生图 像的能力， 在表 3中列出了五种质量等级。如果图纸或其他相关文件上没有规定质量等级，则质量等级应为 2 - 2 T 。除非 被认可的 工程机构另有规定，孔型像质计用于检验厚度小于或等于6 . 3 0 m m ( 0 . 2 5 0 i n )的材料时， 其 最小厚度为 0 . 1 3 m m ( 0 . 0 0 5 in ) 5 . 1 0底片密度 单底片观察时， 评定区的 底片密度范围为1 . 5 一 4 . 0 。 双重底片观察时，评定区重叠底片密度范围 为2 . 0 一 4 . 0 ，每一底片需评

34、定区域的密度不应低于 1 . 0 。在被认可的工程机构和无损检测部门共同认可 时，底片密度可大于4 . 0 。不要求使用像质计的单底片观察时，底片密度可小于 1 . 5( 见5 . 1 8 ) 5 . 1 1 射线胶片处理 射线底片中应无掩盖缺陷或影响底片评定的瑕疵。 M H/ T 3 0 0 9 - 2 0 0 4 表3射线检验的质益等级 像质计标号 射线检验质量等级 最大像质计厚度 % 最小孔径“ 等效像质计灵敏度 % 0 0卜 I T1I T0 . 7 01 - 2 TI2 T1 . 0 I2 - 1 T21 T1. 4 22 - 2 T22 T2. 0 32 - 4 T24 T2 .

35、8 a以刃 b以j 等; 时料厚度的百分数表示。 像质计厚度( T ) 的倍数表示 玫像质计灵敏度是指在相同射线检验条件下， 能清楚观察到2 T孔时以试样厚度百分数表示的像质计厚度。 5 . 1 2 像质计选择 像质计的厚度应以不大于被透照工件标称厚度为基础。在双壁双影法中，应根据部件的双壁厚度选 择像质计。 在双壁单影法中， 应根据部件单壁的 厚度 选择像质计。像质计厚度不应大于被透照工件的 厚 度。对于焊接件，像质计应根据附录 B选择。 5 . 1 3像质计的放置 除了 许多相同部件同时曝光在一张胶片上的 情况外，每个射线检验的部件在曝光期间都应放置像质 计。在这种情况下， 应将像质计放置

36、在辐射锥体外侧、 部件的 辐射源侧的检测表面上或在曝光位置最远 侧 ( 即距射线束中心线最远处)放置一个像质计。对于不规则物件的检验， 像质计应放置在距离胶片最 远的部件区域上。由于在像质计正下方的区域不能作出 验收 或拒收的判断， 因此像质计应放置在邻近检 验区域的位置。当 不能将像质 计放置在工件上时， 可采用5 . 1 3 . 1 或5 . 1 3 . 2 中的方法。 5 . 1 3 . 1垫片、垫块或类似截面的像质计的放置 当像质计不能放置在被透照 零件表面时， 可放在射线源一 侧与被透照零 件同一材料组或与被透照材 料相似 ( 见5 . 5 . 2 )的垫片、 垫块或类似截面的表面上

37、靠射线束 锥形区的边缘。 垫片、 垫 块或类似截面 应超过像质计的 尺寸，以 保证在射线照片上至少可看到像质计的 三个侧边。 若需要， 垫片应放置在低吸 收 率的材料 ( 如聚苯乙 烯塑料或与其 相当的材料)上， 确保像质计不会比 零件表面或检测区域 ( 靠近射 线源处)到胶片的距离更近。 5 , 1 3 . 2 像质计置于胶片上 对于双壁零件如管道或空心铸件 ，在零件靠近射线源一侧不能放置像质计时，可按 5 . 1 3 . 2 . 1 和 5 . 1 3 . 2 . 2 的 规定将像质计放置在胶片上， 并应在邻近像质计处放置字母 “ F “。 5 . 1 3 . 2 . 1当进行双壁双影检验时，将像质计放置于胶片上的方法应在一个类似截面上进行透照验 证。其方法是将像