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1、r . 9 0 中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准 S I / T 1 0 5 5 7 . 1 一洲 电解电容器用铝箔技术条件 S p e c i f i c a t i o n f o r a l u m i n i u m f o i l f o r e l e c t r o l y t i c c a p a c i t o r 1 9 9 4 - 0 8 - 0 8 发布1 9 9 4 - 1 2 - 0 1 实施 中华人民共和国电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准 电解电容器用铝箔技术条件 S J / T 1 0 5 5 7 . 1 -
2、9 4 S p e c i f i c a t i o n f o r a l u mi n i u m f o i l f o r e l e c t r o l y t i c c a p a c i t o r 主 题内容与适用范围 本标准规定了电解电容器用铝箔的技术要求， 试验方法， 检验规则及标志、 包装、 运输和贮 存 . 本标准适用于高压电解电容器用阳极箔( 以下简称高压原箔) ， 低压电解电容器用阳极箔 ( 以下简称低压原箔) 和电解电容器用阴极箔( 以下简称阴极箔) 。 弓1 用标准 G B 2 2 8金属拉伸试验方法 G B 3 1 9 9铝及铝合金加工产品的包装、 标志、
3、 运输、 贮存 GB 6 9 8 7铝及铝合金化学分析方法系列标准 S J / T 1 0 5 5 7 . 2 - 1 0 5 5 7 . 4 电解电容器用铝箔测试方法 技术要求 3 . 1 尺寸及允许偏差 3 . 1 . 1 铝箔的厚度及允许厚度偏差和宽度应符合表1的规定。 表 l 厚度厚度允许偏差 宽度 0 . 0 1 5 0 . 0 2 0士0 . 0 0 2 5 0 . 0 3 0士0 . 0 03 0 . 0 4 0 0 . 0 5 0士0 . 0 04 4 0 - 1 0 0 0 0 . 0 6 0士0 . 0 05 9 0 - 1 0 0 0 0 . 0 7 0 - 0 . 0
4、1 0 5士0 . 0 07 0 . 1 2 0 0 . 1 5 0士0 . 0 1 0 0 . 1 8 0 - 0 . 2 0 0士0 . 0 1 5 注: 经供需双方协议， 可供应其他规格的箔材. 2 铝箔的宽度允许偏差应符合表 2的规定。 中华人民共和国电子工业部 1 9 9 4 - 0 8 - 0 8 批准 1 9 9 4 - 1 2 - 0 1 实施 一1 S J / T1 0 5 5 7 . 1 一 9 4 表 2 们Inl 宽度允许偏差 6 Q 0 士 1 0 注 合同供货宽度应由供需双方商定. 3 . 2 化学成分 3 . 2 . 1 高压原箔和低压原箔的化学成分应符合表 3
5、的规定。 表 3 CuF e 3Al 0 . 0 0 50. 0 0 3 0 . 0 0 2 59 9 . 9 9 0. Q 0 5 10015 0 . 0 1 59 9 . 9 7 0 . 0 1 一 0 0 20 0 29 9 . 9 5 0 . 0 10 ， 0 40. 0 49 9 . 9 3 0 . 0 10 . 0 60 . 0699 .9 0. 010 . 1 00 . 0 89 9 . 8 5 0 .0 02 5 0 . 0 05 0 (0 . 01 4(0 . 0 1 49 99 7 注: 经供需双方协议， 可按协议供货 3 . 2 . 2 阴极箔的化学成分应符合表 4的规定
6、. 表 4 CuF e S iA1 0 . 010 1 6 0. 16 99 .7 0. 010 . 2 5 0. 2 09 9 .6 注 经供需双方协议， 可按协议供货。 3 . 3 力学性能 铝箔的纵向室温力学性能应符合表 5 的规定。 一2 一 s J / T 1 0 5 5 7 . 1 - 9 4 表 5 厚度 m l n 状态 抗拉强度 ae N/ mm 伸长率 8 % 不，q 卜 于 0. 01 5 - 0 . 0 9 0 M2 4 . 52 . 0 Y9 8 . 00 . 5 . 0. 1 1 0 0 - 0 . 2 0 0 M2 9 . 43 . 0 Y9 8 . 0 0 .
7、5 3 . 4 晶体结构性能 3 . 4 . 1 软状态高压原箔的表面平均位错密度不大于 1 0 个/ c m . 3 . 4 - 2 软状态高压原箔的( 1 0 0 ) 晶面占有率不小于 8 0 yo, 3 . 4 . 3 软状态高压原箔的表面氧化膜厚度不大于 6 n m, 注: 经供需双方协议， 可供应其他参数的箔材. 3 . 5 表面质量 铝箔表面应洁净， 不得有腐蚀斑痕、 气泡和严重的非金属压入物及鱼鳞纹， 不允许有深度 超过厚度负偏差之半的划道和擦伤。 对退火状态铝箔其边部不允许有严重的黄色油斑， 且表面 不得粗糙 。 铝箔表面应平整， 边缘无突出海带状和严重的印痕及边部毛刺。 铝箔
8、箔卷的端面应整齐， 无碰伤和污垢。 箔的整个长度应易于展开， 无枯结和撕裂现象。 铅箔经腐蚀后应无块状亮斑。 3 . 6 其他要求 电解电容器用铝箔应缠在洁净的钢( 或铝) 管上， 管内直径为 7 5 士l mm， 外径不大于 8 0 m m, 钢管长应大于箔宽 5 -1 0 c m 铝管和格同宽) ， 铝箔卷在立拿时不允许层与层间滑动及 管脱出。 铝箔箔内的断头次数， 每卷不得多于一个， 断头处应有明显标记。 试验方 法 4 . 1 尺寸测量方法 厚度在。 . 0 0 3 - v 0 . 0 5 m m的箔材， 采用精确度为。 . 5 p m带球状的测微计侧量。 测微计应具 有不超过 2 5
9、 0 g的测量压力和半径在 1 6 -2 0 mm范围内的球形测量头; 厚度大于 0 . 0 5 mm的 箔材， 用刻度值不小于 0 . O l m m的测微计进行测量， 也可用同等精度的其他测量仪器. 4 . 2 化学成分分析和仲裁方法 电解电容 器用铝箔的化 学成分的测试 分析方法可按S J / T 1 0 5 5 7 . 4 或G B 6 9 8 7 进行。 当供 需双方发生异议时， 仲裁分析方法按G B 6 9 8 7 的有关分标准进行。 4 . 3 室温力学性能试验方法 电解电容器铝箔的纵向室温力学性能应按 GB 2 2 8进行。其试样尺寸宽 1 5 m m， 长 17 0 mm.
10、3 一 S J / r 1 0 5 5 7 . 1 -9 4 4 . 4 晶体结构测试方法 软状态高压原箔的表面平均位错密度的测量按S J / T 1 0 5 5 7 . 3 进行。 软状态高压原箔的表面( 1 0 0 ) 晶粒占有率测量按S J / T 1 0 5 5 7 . 2 进行。 软状态高压原箔的表面氧化膜测量按附录 A( 参考件) 进行。 4 - 5 表面质量检验 采用 目视法逐卷检验， 受检箔卷应打开 1 -3 m. 检验规则 5 . 1 检查和验收 铝箔应由供方技术监督部门验收， 并保证产品质量符合本标准要求。 5 . 2 组批 电解电容器用铝箔应成批提交验收， 每批应由同一合
11、金、 同一状态和规格组成， 且应出自 同一炉， 批重量不限。 5 . 3 检验项目 每 批电解电容器用铝箔均应进行化学成分、 尺寸 及允许偏差和表面质量的检验。 室温力学 性能、 晶体结构性能不予检验如果要求检验时， 应在合同中加以规定。 5 . 4 重复试验 当室温力学性能试验， 晶体结构试验有一个试验的试验结果不合格时， 应从该卷中另取双 倍数量的试样进行重复试验。如复验仍不合格， 则该卷作废。然后对该批剩下的逐卷试验， 合 格者交货， 不合格者作废 5 . 5 取样位置和取样数 化学成分仲裁分析取样， 可从箔卷任意部位切取。 如合同要求作其他性能检验时， 应从每批中抽取 2 %的卷数(
12、不少于 2 卷) ， 每卷切三个试 样 6 标志 、 包装、 运输 、 贮存 6 . 1 标志 电解电容器用铝箔的包装箱标志应符合 G B 3 1 9 9的规定。 在验收的电解电容器用铝箔箔 卷上应加标签， 其上注明: a . 合金牌号; b . 化学成分; c . 供应状态; d .批号 ; 。 . I 免 格; F . 箔卷长度; 9 . 重量; h . 质量监督部门的检印。 62 包装、 运输和贮存 电 解电 容器用铝箔的包装、 运输和 贮存应符合G B 3 1 9 9 的规定。 63 质量证明书 一4 一 s ,l / T 1 0 5 5 7 . 1 -9 4 每批电解电容器用铝箔应附
13、有符合本标准要求的质量证明书， 其上注明: a . 供货名称; b . 合金牌号; c . 化学成分; d . 供应状态; e . 箔卷长度; r .重量 ; S . 规格; h . 批号 ; I . 质量监督部门检印; j . 生产日期; k . 本标准编号。 5 一 5 .1 / r 1 0 5 5 7 . 1 - 9 4 附录A 激光椭圆偏振法测t铝箔表面组化膜厚度方法 ( 参考件) A 1 范围 本方法 适用于软状态高压原箔的表面氧化膜厚度 的测定 。 A 2 试验设备 激光椭圆测厚 仪: 测量范围: 0 -3 0 0 n m ; 精度: 士l n m; 起偏器旋转角度: 。 一1 8
14、 0 0 ; 四 分之一波片旋 转角度: - 9 0 0 - 9 0 0 ; 检偏器旋转角度: - 9 0 0 -9 0 0 ; 激光人射角簇9 0 0 , A 3 样品尺寸 矩形样片: 长 1 0 -2 0 m m， 宽 1 0 -2 0 mm; 圆形样片: 直 径1 0 - 2 0 m m , 乞卜 A 4 方法原理图 图 A1 测量表面氧化膜厚度的方法原理图 1 .激光器; 2 .激光器出射光栏; 3起偏器; 4 . 起偏器读数显微镜; 5 四分之一波片; 8 .四分之一波片读 数显徽镜; 7 .入射光栏; 8 .待测样片， 9 . 样品台; 1 0 . 出射光栏; I 1 .检偏器;
15、1 2 .检偏器读数显微镜。 ”检流 一6 一 s ,t / T 1 0 5 5 7 . 1 -9 4 计光栏; 1 4光电倍增管及检流计。 测t 测量准 备 1 在测量前调整激光器光轴与检流计光轴准直， 以确保出射光被检流计接收。 2 实验前应获得铝箔材料基体的折射率及光吸收系数。 根据激光椭圆偏振测量膜层厚度的方法， 测量铝箔表面氧化层相应的参数， 测量时可 月，J!.门乙 . J叹J工卜口只甘尸 AAAAA 选择适当的激光器， 以获得特定的波长( 如 H e - Ne 激光器) ， 也可根据实验选择适当的光电倍 增管和检流计. A 5 . 3 为消除实验误差， 采用激光束变角度入射( 如 5 0 0 , 6 0 0 , 7 0 0 人射) ， 进行相应测量， 获得各 个角度下的相应参数。 A5 . 4 将侧量所得的参数与已知的铝箔材料的光学折射率、 光吸收系数及空气的光折射率一 同进行数据处理， 确定铝箔表面氧化膜层厚度。 附加说明: 本标准由电子工业部标准化研究所归口。 本标准由电子工业部第四十六研究所负责起草。 本标准主要起草人: 张世敏、 李贵全。 一7 一