《[电子标准]-SJT 10015-1991 JU38和JU26型钟表用32KHZ音叉石英晶体元件1.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《[电子标准]-SJT 10015-1991 JU38和JU26型钟表用32KHZ音叉石英晶体元件1.pdf（8页珍藏版）》请在三一文库上搜索。
1、Si 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 0 1 5 - 9 1 J U 3 8 和J U 2 6 型 钟表用 3 2 k H z 音叉石英晶体元件 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 发布1 9 9 1 - 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准 J U 3 8 和J U 2 6 型 钟表用3 2 k H z 音叉石英晶体元件 3 2 k Hz t u n i n g f o r k q u a rt z c rys t a l u n i t s f o r c l o c k s a n d wa t c h e
2、 s t y p e J U3 8 a n d J U2 6 S J / T 1 0 0 1 5 - 9 1 本标准参照采用国际电工委员会 I E C 6 8 9 ( S J / Z 9 1 6 2 ) 标准 手表用 3 2 k H z 石英晶体元件 的测量方法和试验方法及标准值 第一版( 1 9 8 0 ) 。本标准除文字编排上不同之外， 还增加了检 验规则、 标志、 包装 、 运输和贮存等内容。 主题内容与适用范围 本标准规定了J U 3 8 和J U 2 6 型钟表用音叉石英晶体元件( 以下简称晶体元件) 技术条件。 该晶体元件主要用在电子石英钟、 表和时钟型计算器以及其他计时仪器中。
3、引用标准， G B 2 4 2 1 电工电子产品基本环境试验规程总则 G B 2 4 2 2 电工电子产品基本环境试验规程名词术语 G B 2 4 2 3 电工电子产品基本环境试验规程 G B 2 8 2 8 逐批检查计数抽样程序及抽样表 G B 2 8 2 9 周期检查计数抽样程序及抽样表 G B 1 9 1包装贮运图示标志 结构、 外形尺寸和重量 谐振器的结构如图 1 ， 外形尺寸和重量见表 采用说明: 门 下述标准在相应的国家标准未制订前 应引用归口所的相应译文。 I E C 6 8 9 手表甩 3 2 k H z 石英晶体元件的测量方法、 试验方法和标准值. 中华人民共和国机械电子工业
4、部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 批准1 9 9 1 - 0 7 - 0 1实施 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 S J / T 1 0 0 1 5 一9 1 图 1 结构 表 外形尺寸和重量 型号 尺寸m m 最大!t 9 代号标称值最大值最小值 J U3 8 D H W d L 3 . 0 0 1 .1 0 0 . 3 0 3 . 0 8 8 . 3 0 1 . 3 0 0 . 3 7 2 . 9 2 0 . 9 0 0 . 2 3 7 . 0 0 0 . 2 0 J U2 6 D H W d L 2 . 0 0 0 . 7 0 0 . 2
5、0 2 . 0 8 6 . 1 0 0 . 9 0 0 . 2 7 1 . 9 2 0 . 5 0 0 . 1 3 0 . 7 0 0 . 1 5 技术要求及试验方法 4 . 1 标准值及允许偏差和试验条件 4 . 1 . . 标准值及允许偏差: 见表 2 , 4 . 1 . 2 试验条件 4 . 1 . 2 . 1 除另有规定外， 所有试验应在环境温度为 1 5 3 5 0C， 相对湿度为 4 5 %-7 5 %， 大气 压力为8 6 -1 0 6 k P a 的正常大气条件下进行。试验前晶体元件应在正常大气条件下至少放置 l ho 4 . 1 . 2 . 2 除 非另有规定， 频率和电 阻
6、的测量， 应在下述条件 下进行: a 晶体元件应在基准温度下并达到热平衡后进行测试; b 测量前应将激励电平调到规定值， 测量过程中应保持激励电平稳定， 一般不再进行调 整 ; c 对测量仪器的要求: 颇率测量误差应小于规定频差值的 1 / 5 ， 电阻测量误差不大于士 一2 一 s J / i 1 0 0 1 5 一9 1 2 0 %; 测量频率和电阻相对变化时， 前后两次测量应用同一测量仪器， 且在相同温度( 温差小于 士1 0C) 下达到热平衡后进行测量。 表 2 标准值及允许偏差 序号项目符号单位 标准值 J U3 8 JU2 6 AB C 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0
7、1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 标称频率 工作温度范围 调整颇差( 2 5 士。 . 5 C ) 最大谐振电阻( 工作条件下) 最小动态电容 品质 因数 并 电容 零温度系数点 最大抛物线系数 贮存温度范围 由振动引起的频差 由冲击引起的频差 第一年老化频差 引出端应力引起的颇差 1 5 0 V绝缘电阻 一 最 大 傲 励 电 平 J A R了 凡 C B C a T i 声 df / f 刁 了 厅 d f / f d f / f 尸 Hz 1 0 k O O F P F 1 0 - / 1 0 ._ 0 1 0 - 0 1 0 - 0 1 0 - M o u W 3 27
8、6 8 一1 0 -+6 0 士 2 0 士 3 0 1士 5 0 + 6 0 C ) 。 T o零温度系数点。 4 . 4 . 3 . 3 频率温度特性的恻量( 大量生产的方法) 同 I E C 6 8 9 第 2 . 3 . 2 条。 4 . 4 . 4 频率牵引的测量 同I E C 6 8 9 第 2 . 4 条。 东4 . 5 并电容的测试 在远离谐振频率 f . 处， 用精度不低于士5 %的电容测试仪测量。 测量结果应符合表 2 第 7 项的规定。 4 . 46 品质因数8的测量 同I E C 6 8 9 第 2 . 4 . 5 条。 计算结果应符合表 2中第 5 项的规定 4 .
9、4 . 7 绝缘电阻的测量 将5 0 V 直流电 压施加到晶体元件两引出端间及引出端与金属外壳之间， 施加电 压 I m in 后读取电阻数值。测量误差不大于士2 0 %a 测量结果应符合表 2中第 1 5项的规定。 45 基本环境试验 4 一 S J / T 1 0 0 1 5 -9 1 4 . 5 . 1 引出端强度 4 . 5 . 1 . 1 技术要求 a 试验后晶体元件的引出端无破裂、 折断、 松动和无机械损伤。 b 试验前测晶体元件的频率， 试验后晶体元件至少恢复3 0 m i n ， 再测其频率。其频率变化 应符合表 2第 1 4 项的规定. 4 . 5 . 1 . 2 试验方法
10、同I E C 6 8 9 第 6 . 1 条。 4 . 5 . 2 振动 4 . 5 - 2 . 1 技术要求 a 同4 . 5 . 1 . 1 条; b 频率变化应符合表 2 第 1 1 项规定。 4 . 5 . 2 . 2 试验方法 同I E C 6 8 9第3 条。 4 . 5 . 3 冲击 4s . 3 . 1 技术要求 a 同4 . 5 . 1 . 1 条; b 频率变化应符合表 2 第 1 2 项的规定。 4 . 5 ， 3 . 2 试验方法 I E C 6 8 9 第 4 条。 4 . 5 . 4 可焊性 4 . 5 . 4 . 1 技术要求 可以用目测或借助于 4 - - 1
11、0 倍的放大镜观察。要求晶体元件引出线浸渍的表面必须覆盖 上一层光滑明亮的焊料层， 只允许有少量分散的诸如针孔润湿区域之类的缺陷， 同时这些缺陷 不应集中在一块， 4 . 5 . 4 . 2 试验方法 同I E C 6 8 9 第 8 . 1 条。 4 . 5 . 5 密封 4 . 5 . 5 . 1 技术要求 漏率低于( 1 - 9 ) X 1 0 - P a c m / s , 4 . 5 . 5 . 2 试验方法 同I E C 6 8 9 第9条。 4 . 5 . 6 老北 4 . 5 . 6 . 1 技术要求 试验前后， 频率变化应符合表 2 中第 1 3 项的要求。 4 . 5 .
12、6 . 2 试验方法 试验样品在室温( 2 5 士z 0c) 下测量频率， 然后将样品放入 8 s 士z 的试验箱内恒温 s a d , 取 出样品， 在室温下放置 z n n ， 在和试验前相同的条件下测量频率。 5 检验规则 晶体元件的检验分为逐批检验和周期检验， 所有试验均应在制造厂或供需双方共同商定 5 一 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 s J / T 1 0 0 1 5 一9 1 的单位进行。 5 . 1 逐批检验 5 . 1 . 飞 检验批由同一条件下生产的同一型号， 同一规格而且是一次提交检验的产品组成 5 1 2 抽样方案 采用G B 2
13、 8 2 8 二次正常抽样方案 5 . 1 . 3 检验项目、 顺序、 检查水平和合格质量水平按表3 进行。 表 3 一一 了 4 3 丁一 一一不犷 丽不薪百一 仁 痴 昌 毛 雇泵 蔽检 查 水 平 合 格 质 量 水 平 外观质量 结构、 外形尺寸和重量 标志 0% 调整频差 最大谐振电阻 并电容 绝缘电阻 零温度系数点、 最大抛物线系数 品质因数 4 . 4 . 1 4 . 4 . 2 4 . 4 . 5 4 . 4 . 7 4 . 4 . 3 4 . 4 . 6 0 % 5 . 1 . 4 拒收批 若检验批被拒收， 该批产品退回进行 叨%的挑剔， 不合格品进行返修， 也可以筛选出不
14、合格品， 然后再次提交， 再提交批应采用加严检查。 再检验批应与新的检验批分开， 并标明“ 再检验批” 再检验批仍不合格时， 则判为不合格， 并分析原因， 提出改进措施和对该批产品提出处理 意见。 5 . 2 周期检验 5 . 2 . 1 周期检验由制造厂每六个月进行一次， 在主要材料， 结构和关键工艺更改或停产三个 月以上重新生产时也应进行。 5 . 2 . 2 周期检验之样品应从已通过逐批检验的批中随机抽取， 并按逐批检验项 目逐个检查。 若发现有不合格品， 则以合格品代替 5 . 2 . 3 周期检验采用G B 2 8 2 9 二次抽样方案。 5 . 2 . 4 周期检验项目、 分组、
15、顺序、 判别水平、 不合格质量水平和判定数组按表 4 规定。 周期检 验代表组按型号划分为两个。 5 . 2 . 5 若周期检验不合格、 则周期检验代表组范围内的产品应停止发货， 此时应分析原因， 采 取改进措施， 直至新的周期试验合格后才能恢复检验和发货。 5 . 2 . 6 经周期检验的晶体元件， 不得作为合格品发货。 5 . 夕 . 7 本次0N9期检4结束前， 检验部门可按上次的检验报告验收产品。 标志、 包装、 贮存和运输 s J / T 1 0 0 1 5 -9 1 表 4 组别 序号 试验项 目 引用端强度 振动 冲击 可焊性 密封 老化 本标准有关条款 4 . 5 . 1 4
16、. 5 . 2 4 . 5 . 3 4 . 5 . 4 判别水平I 不合格质量水平 判定数组 人 c R e 4 . 5 . 5 4 . 5 . 6 标志 每个 晶体元件上应清晰标明 : 制造厂商标; 晶体元件型号或规格代号 。 乙阮 62包装 6 . 2 . 1 晶体元件应先装人塑料袋， 然后再装入硬纸盒中。硬纸盒应有减震措施。每盒只能装 人同一型号， 同一规格的晶体元件。盒上应有标签， 其上标明: 制造厂 名称和商标; b . 晶体元件型号和规格代号; 标称频率和负载电容; d . 晶体元件数量; 制造年月， 包装人员代号。 每盒应装入盖有质检部门印章的合格证。 6 - 2 . 2 装有晶
17、体元件的硬纸盒应装入干燥的包装箱内。 包装箱应能防潮、 防震和防挤压， 其上 标 明: 制造厂名称和商标; b . 晶体元件型号、 规格代号、 标称频率及每种规格的数量; 箱内盒数及晶体元件总数; d ， 装箱日 期， 装箱人员代号; 运输标记 。 6 . 3 贮存 晶体元件应贮存在温度为一3 0 - +7 0 0C、 相对湿度不大于 8 0 、 周围空气无酸、 碱性及其 他有害杂质的库房中。 日 . 4 运输 包装好的晶体元件可用任何方式运输。但在运输过程中应避免强烈冲撞和震动以及直接 的机械损伤， 还应避免雨雪的直接浸袭。 附加说明: 本标准由机械电子工业部电子标准化研究所提出。 本标准由国营七九五厂负责起草 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载