《[电子标准]-SJT 10083-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路,CT54161／CT74161型4 位二进制同步计数器(异步清除).pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《[电子标准]-SJT 10083-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路,CT54161／CT74161型4 位二进制同步计数器(异步清除).pdf（17页珍藏版）》请在三一文库上搜索。
1、L - i 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 0 4 2 1 0 0 4 8 -9 1 S J / T 1 0 0 7 8. 1 0 0 8 6 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路T T L电路 ( 一 ) 1 9 9 1 一 0 4 - 0 8 发布1 9 9 1 一 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 工 业 行 业 标 准 电子元器件详细规范 半导体集成电路C T 5 4 1 6 1 / C T 7 4 1 6 1 型 4位二进制同步计数器( 异步清除) S J / T 1 0 0 8 3 -9
2、1 D e t a i l s p e c i f i c a t i o n f o r e l e c t r o n i c c o mp o n e n t s S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t C T 5 4 1 6 1 / C T 7 4 1 6 1 4 - b i t s y n c h r o n o u s b i n a r y c o u n t e r ( d i r e c t c l e a r ) 本规范规定了半导体集成电路C T 5 4 1 6 1 / C T7 4 1 6 1
3、型 4 位二进制同步计数器( 异步清除) 质量评定的全部内容. 本标准符合G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和G B / T 1 2 7 5 0 ( 半导 体集成电路分规范( 不包括混合电路) 的要求。 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8批准 1 9 9 1 - 0 7 - 0 1实施 1 7 5 S J / T 1 0 0 8 3 -9 1 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据: GB 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和 集成电路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范 ( 不包
4、 括混合电路) S J / T 1 0 0 8 3 - 9 1 C T 5 4 1 6 1 / C T 7 4 1 6 1 型4 位二进制同步计数器详细规范 订货资料: 见本规范第 7章。 机械说明 简要说明 外形依据: GB 7 0 9 2 半导体集成电 路外形尺寸 。 外形图: G B 7 0 9 2 D型 5 . 3 条及5 . 3 . 1 条 J 型 5 . 4 条及 5 . 4 . 1 条 P型 5 . 5 条及 5 . 5 . 1 条 F型 5 . 1条及 5 . 1 . 1条 双极型计数器 半导体材料: 硅 封 装: 空封 、 非空封 逻辑图、 功能表见本规范第 1 1 章。 品
5、种 : 引 出端排列 : 拭 0 - 70 C ( C) 一55 - 1 2 5 C ( M ) 陶瓷直插( D ) CT5 41 61 M D 黑瓷直插( J ) CT7 4 1 6 1 CJC T5 4 1 6 1 MJ 塑料直插( P ) CT741 61 CP 多层陶瓷扁平( F ) CT5 41 61 M F CT , G N D V“ C 0 Qa QI Q 2 Q J C TT LD cRcP饥DI叭仇 引出端符号名称见本规范 1 1 . 5 条。 标志: 按GB 4 5 8 9 . 1 第 2 . 5 条及本 规范第 6 章。 质里评定类别 .I A,.B, I C 一17 6
6、 一 5 ,1 / T 1 0 0 8 39 1 极限值( 绝对最大额定值) 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 条款号参数 一 符 号 数值 单位 最小最大 4 .1 工作环境温度 5 4 7 . . b 一 5 51 2 5 7 407 0 4 . 2贮存温度T. 啥 一 6 51 5 0 4 . 3电源电压uc 7v 4 . 4输入电压v, 5 ， 5v 4 . 5 多发射极晶体管 输入端间的电压 V I15 . 5V 5 电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第8章。 电工作条件 若无其他规定， 适用于全工作温度范围. 条款号参数符 号 数值 单位 最小最大 5 . 1 .
7、1电源电压 5 4 v. 4 . 5 5 . 5 V 4 . 7 55 . 2 5 7 4 5 . 1 . 2输入高电平电压V . 2v 5 . 1 . 3输入低电平电压v 0 . 8V 5 . 1 . 4输出高电平电流l o x 一 8 0 0 尸A 5 . 1 . 5输出低电平电流I o n 1 6m A 5 . 1 . 6脉冲宽度 CP t . 25 n S 2 0 CR 5 . 1 . 7建立时间 CT, CT, t a i , 2 0 n s 2 0u Ln25 5 . 1 . 8保持时间Dt “0n s 5 . 2 电特性 若无其他规定。 适用于全工作温度范围. 1 77 S J
8、/ T 1 0 0 8 3 -9 1 条欲号特 性 和条 件们 符号 规范值 单 位试 验 最 小最 大 5 . 2 . 1 输出高电平电压 V ,=最小v， 二2 V Va =0 . 8 V l a x -一8 O O p A V o x2 . 4 vA 3 5 . 2 . 2 输出低电平电压 V +=最小V ,x =2 V Vm=0 . 8 V I o , . =1 6 mA Vo L0 . 4 v人 3 5 . 2 .3 输入钳位电压 Vc c =最小1; 二一1 2 mA VI K一 1 5 VA3 5 . 2 . 4 输入高电平电流 v c ( =最大V 二2 . 4 V CY CT
9、 - r I . . 8 0 产 A A3 4 0 其他输人 5 . 2 . 5 输入低电平电流 V c 。 二最大V, =0 . 4 V CY CT, 1 一 3 . 2 . AA3 其他输入 一 1 . 6 5. 2 . 6 最大输入电压下的输入电流 V c c 最大叭=5 . 5 V 1 , 1. AA3 5 . 2 . 7 输出短路电流 V +=最大 5 4 l o s 一 2 0一 5 7 m A A 3t 一 1 8一 5 77 4 5 . 2 . 8 电源电流 V -二最大 输出端开路 其他输入端接地 5 4 1 1 C H 8 5 m AA3 9 47 4 5 4 入以 9 1
10、 1 0 17 4 5 . 2 .9 最高工作频率 Ci =1 5 pF R -4 0 0 0 V-二5 V Ta m b =2 5C fm . .2 5 M HzA4 5 . 2 . 1 0 传输时间 C c =1 5 p F R , . =4 0 0 日 7 : mb =2 5 C Vc c =5 V CY -CO 斤, 日3 5 A 4 介H1 3 5 CY -Q ( L D=H) t r , . H2 0 I , - 2 3 CF-Q ( L D = 1 . ) 幻 . I H 2 5 n S 幻 、 川2 9 CI,-CO tr,.n: : 】1s CR-Q t . -3 8fl S
11、 注: 1 ) V c a 为最小或最大， 按本规范第 5 . 1 . 1 条. 一1 78一 S , / T 1 0 0 8 3 - -9 1 标志 器件上的标志示例: “ 适 时 异 犷口 g ld S9 M 1 i “ 9 一厂 七一口。 拓 制造单位商标 - 一 一一-弓- C T7 41 6 1 CP 口 _型号 质盘评定努 明 往脸批 R 剧代码 若受器件尺寸限制时， 允许将“ 检验批识别代码” 、 “ 质量评定类别” 标在器件背面。 订货资料 若无其他规定， 订购器件至少需要下列资料 a . 产品型号; b . 详细规范编号; c . 质量评定类别; d .其他 。 试验条件和检
12、验 要求 抽样要求: 根据采用的质童评定类别， 参照G B / T 1 2 7 5 。第9章的有关规定。 A组检验的抽样要求 分组 AQL n类，类 1 1 A Q I 1 1 .AQ1 . A 1 砚 . I 0 . 6 5皿0 . 6 5 A2 互0 . 1U0 . 1 A3 00 . 1 500 . 1 5 A 3 .S 41 . 0S 4 1 . 0 A3 bS41 - 0S 4 1 . 0 A4S41 . 0S 4 1 . 0 1 79 S J / T 1 0 0 8 3 - 9 1 B组 、 C组和 D组检 验的抽样要求 分组 LTPD l 类 ，类 A BC B11 51 51
13、5I S C12 02 02 02 0 C2 b1 51 51 51 5 C31 51 51 51 5 B4 C4 1 0 1 01 01 0 B5 CS1 01 01 01 0 C62 02 0 2 02 0 C71 51 5 1 51 5 B 8 CS1 057 1 0 C91 55 71 5 C 1 12 02 02 0 2 0 B2 12 01 0 1 01 5 C2 32 01 01 5 2 0 C2 42 01 01 5 2 0 D81 0571 0 一1 80 S J / T 1 0 0 8 3 -9 1 A 组逐批 全部试验均为非破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第
14、3 . 6 . 6 条) 检验或试验引 用标 准 条件 若无其他规定， T. . b = 2 5 C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检验要求 规范值 A l分组 外部目检GB 4 5 8 9 . 1 , 第4 . 2 . 1 . 1 条 标志清晰， 表面无损伤 和气孔 A2分组 2 5 下的功能验证按本规范5 . 2 . 1条、 5 . 2 . 2条和 1 1 . 3条 按本规范5 . 2 . 1条、 5 . 2 . 2条和 1 1 . 3条 A3分组 2 5 下的静态特性 G B 3 4 3 9 半导体集 成电路 T T L电路测 试方法的荃本原理 按本规范5 .
15、 2 . 1 条至5 . 2 . 8 条和 1 0 . 1条 按本规范 5 . 21条至 5 . 2 . 8条 M a 分组 最高工作温度下的 静态特性 GB 3 4 39 T . m b 按本规范4 . 1 条规定的最 大值。条件: 同A 3分组同A3 分组 A3 6 分组 最低工作温度下的 静态特性 CB 3 4 3 9 T . m b 按本规范 4 . 1条规定的最 小值。条件 同A3 分组 同 A3分 组 A 4分组 2 5 下的动态特性 GB 3 4 3 9 按本规范5 . 2 . 9条和 5 . 2 . 1 0条 按本规范 5 . 2 . 9 条和 5 . 2 . 1 0条 B组逐
16、批 标有( D) 的试验是破坏性的( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检脸或试脸引 用 标 准 条4 若无其他规定， T , m b = 2 5 C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检脸要求 规 范 值 B 1 分组 尺寸GB 4 5 8 9 . 1 . 4 . 2 . 2 条及附录 B 按本规范第1章 B 4分组 可焊性 G B 4 5 9 0 半导体集成电路 抓械和气候试验方法 2 . 5 条 按方法b ( 槽焊法) 按 2 . 5 . 6 条 1 81 S d / T 1 0 0 8 3 - 9 1 B组 逐批 ( 续 ) 非空封和
17、环氧 封的空封器件 循环次数: 1 0次A =5 min 随后进行 外部目检 稳态湿热 GB 4 5 8 9 . 1 , 4. Z . 1 . 1条按规定同 AI分组 GB 4 59 0, 3. 7条 电测t 严格度 A 时间: 2 4 1 , 同A2 , A3分组同A2 , A3 分组 B 8分组 电耐久性 ( 1 6 8 11) 最后测t ( 同A2 , A3和A4 分组) G B 4 5 9 0 , 4? 条Y -b按本规范 4 . 1条规定的 .大值， 其他按本规范 1 0 . 3 条 同A Z , A3和A 4分组 同A2 , A3 和 A 4分组 B2 1分组 高压燕汽( D) (
18、 非空封器件) 最后测t ( 同A 2 和 A 3分组) GB 4 5 9 0, 4 . 5条 严 格度 C 时 间 2 4 11 同A2 和A3分组同A 2和A3 分组 C R RL分组就B 4 , B 5 , B 8 和B2 1 分组提供计数检查结果。 1 82 S J / T 1 0 0 8 3 -9 1 C组周期 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定， Ta m b =2 5 C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 C 1 分组 尺寸GB
19、4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 2 条及 附录B 按本规范第1章 C 2 b分组 最高和最低工作温 度下的动态特性 G B 3 4 3 9 温度按本规范第4 . 1条 同A 4分组 规范值为A4 分组最大 值的 1 . 5 倍， 最小值的 0 . 8倍 C3 分组 引线强度 拉力( D 弯曲( D GB 4 5 9 0， 2 . 1 条 GB 4 5 9 0， 2 . 2 条 外加力的值按 2 . 1 条表 1 外加力的值按 2 . 2 条表 2 按 2 . 1 . 5 条 无损伤 C 4分组 耐焊接热( D ) 最后测t ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 , 2 . 6
20、条按方法 1 ( 2 6 0 C槽焊) 同A3分组同A3 分组 C 5分组” 温度快速变化( D ) ( 非空封和环氧 封的空封器件) 随后进行 外部目检 稳态湿热 电测t ( 同A 3分组) G B 4 5 9 0 , 3 . 1 条 G B 4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 1 . 1 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 7条 TA=一6 5 C T. = 1 5 0 C 循环次数 5 0 0 1 , = 5 m i n 严格度 A 时间: 2 4 1, 同A3 分组 同A1 分组 同 A 3分组 C 6 分组， 患态加速度( D ) ( 空封器件) 最后测t ( 同A3 分组
21、) G B 4 5 9 0 . 2 . 1 0 条加速度 按规定 同A 3分组同A 3分组 18 3 s ,t / T 1 0 0 8 3 -9 1 C组周期 ( 续) 检脸或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定. T. m b =2 5 IC ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 C 7分组 称态湿热( D) e . 空封器件 b . 非空封器件 最后测t ( 同A2 , A3 分组) G B 4 5 9 0 , 3 . 6 条 G B 4 5 9 0 , 3 . 7 条 严格度D, 5 6 d 严格度A. 时间. 1 0 0 0 1, 同A2 ,
22、 A3 分组同A 2 , A3分组 C8 分组 电耐久性( 1 0 0 0 1, ) .后侧t ( 同B 8分组) G B 4 5 9 0 , 4 . 7 条同B8 分组 同B8 分组同 B S 分组 C 9 分组 商温贮存 最后侧t ( 同B 8分组) G B 4 5 9 0 , 3 . 3 条 温度按7 ; “ , ( -x ) 时间: 1 0 0 0 1, 同B8 分组同B8 分组 C l l 分组 标志耐久性G B 4 5 9 0 , 4 . 3条按方法 2 ， 溶液 A型按GB 4 5 9 0 , 4 . 3 . 2 条 C2 3 分组 抗溶性( D) ( 非空封器件) G B 4
23、5 9 0 , 4 . 4条按GB 4 5 9 0 , 4 . 4 . 2 条按GB 4 5 9 0 . 4 . 4 . 2 条 C 2 4分组 易撼性( D) ( 非空封器件) G B 4 5 9 0 , 4 . 1 条按GB 4 5 9 0 , 4 . 1 . 2 条按GB 4 5 9 0 . 4 . 1 . 2 条 C R R L分组 就C 2 b , C 3 , C 4 , C S , C 6 , C 7 , C 8 , C 9 , C 1 1 , C 2 3 和C 2 4 分组提供计数检查结果。 注: 1 )连续三次通过后， 周期可放宽为一年一次. 9 n组 D组检验应在鉴定批准之后
24、立即开始进行. 其后每年进行一次。 1 84 s J / T 1 0 0 8 3 - 9 1 检验或试脸引 用 标 准 条件 若无其他规定， T , m t = 2 5C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 D 8分组 电耐久性( D) 最后测t ( 同B 8分组) G B 4 5 9 0第4 . 7 条，类2 0 0 0 1, ，类 3 0 0 0 1, 其他同B 8 分组 同B B 分组同B 8 分组 1 0 附加资料 1 0 . 1 静态特性的测量 静态特性的测量按 G B 3 4 3 9 C 半导体集成电路T T L电路测试方法的基本原理 。
25、1 0 . 2 动态特性的测量 1 0 - 2 . 1 动态特性的测量按 G B 3 4 3 9 , 1 0 . 2 . 2 负载线路 ve。 4 0 0 5 1 接桩侧输出端 1 85 s J / T 1 0 0 8 3 -9 1 1 0 . 3 电耐久性试验线路 V m=3 V f a =l 0 0 k Hz f, =5 0 k Hz 九=2 5 k Hz fa =1 2 . S k H. Vc c =5 V R=4 0 0 5 3 1补 1 ， 型号说明 1 1 门逻辑符号 CR(1) L D I C T * ( 1 1 5 1 C 0 门曰一 QQQ D al D , ( D , 是
26、D, ( 6 ) ( 1 1 ) Q3 1 86 S J / T 1 0 0 8 3 -9 1 1 1 . 2逻辑 图 1 1 . 3功能表 输 C R L D U1 r C T r C Y D a D , D , 1) , Qo Q L Ld , d , 数持持 LdJ Ldo计保保 X击太K X山XX XdJKX X氏XX x x XXHX XXH XLHH LHHH H H x L x x x X入 1 87 S 1 / T 1 0 0 8 3 - 9 1 一1.一1.1 -一- -一- 一-一- 一-一- -一一- -一-一- -一一 一-一-一 -一一 一.-: .一井 0， DOQ
27、 cTQOQI仇仇c O 1 1 . 4 1 1 . 5 波形图 D ,C P C T , 清除置致 引出端符号名称 引出端符号 名称 进 位输 出端 co C P 时钟输入端( 上升沿有效) CR异步清除输入端( 低电平有效) Cr r 一 计数控制端 一 计数控制端 0o -D, ; 卞 行数据输入端 Qo yQ,输 出端 1 8 8 S J / T 1 0 0 8 3 - 9 1 附录A 筛选 ( 补充件) I 类器件: 生产厂自行规定筛选条件。 ， 类器件: 筛选项 目和条件如下: 等级A等级B等级 C 内部 GB 4 5 9 0 4. 6条 目 一 高温稳定 G B 4 5 9 0
28、3 . 3条， 1 S O C 、 9 6 h 温 度快速变化 3 . 1条 ， , 1 0次 称态加速度 ， GB 4 5 9 0 2 . 1 0条 奋一哥 下万一 - - 一一 一不一石舀不x .一一一门 牛 州 10 tx-150C ,bOz1 0 密 GB 4 5 9 0 3 . 1 2条和 封 3 . 1 3条 密封 ， GB 4 5 9 0 3 . 1 2条和 3 . 1 3条 量老了老化前电测量 同 A 3分组 别除不合格品 . 2 4 0 h 老化后电测量 同 A 3分组， 月 If 除不合格品。 若 不 合 格 品 率大 于 5 %， 则该批拒收. 展一r F $ , i0 i IR 一一 I同A3 分组. 一剔除不合格品. 一若 不合格品率大 于 15 %， 则该批拒收. 注: 1 )不适用于非空封器件. 1 89 s ,J / T 1 0 0 8 3 -9 1 附加说明: 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。 本标准由北京八七八厂负责起草。 本标准主要起草人: 孙人杰. 1 9 0