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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61506 Premire dition First edition 1997-02 Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61506: 1997 Mesure et commande dans les processus industriels Documentation des logiciels dapplication Industrial-process measurement and control Documentation of
2、application software Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Validit de la prsente pub
3、lication Le contenu technique des publications de la CEI est cons- tamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvision
4、s, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CEI et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CEI Annuaire de la CEI Publi annuellement Catalogue des publications de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement Terminologie En
5、 ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 50: Vocabulaire Electrotechnique Inter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini. Des dtails complets sur le VEI peuvent tre obtenus sur demande. Voir galement le dictionnaire
6、multilingue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publi- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI
7、, le lecteur consultera: la CEI 27: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique; la CEI 417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles; la CEI 617: Symboles graphiques pour schmas; et pour les appareils lectromdicaux, la CEI 878: Symbole
8、s graphiques pour quipements lectriques en pratique mdicale. Les symboles et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CEI 27, de la CEI 417, de la CEI 617 et/ou de la CEI 878, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publications de la CEI tablies par le
9、mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CEI prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant
10、review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the IEC Central Office. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC N
11、ational Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook Published yearly Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates Terminology For general terminology, readers are referred to IEC 50: International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is issued
12、in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. The terms and definitions contained in the present publi- cation have either been taken from the IEV or have been specifically approved
13、for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications: IEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology; IEC 417: Graphical symbols for use on equipment
14、. Index, survey and compilation of the single sheets; IEC 617: Graphical symbols for diagrams; and for medical electrical equipment, IEC 878: Graphical symbols for electromedical equipment in medical practice. The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC
15、 27, IEC 417, IEC 617 and/or IEC 878, or have been specifically approved for the purpose of this publication. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which list the IEC publications issued by the technical commi
16、ttee which has prepared the present publication. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-
17、,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61506 Premire dition First edition 1997-02 Mesure et commande dans les processus industriels Documentation des logiciels dapplication Industrial-process measurement and control Documentation of application software XA Pour prix, voir catalogue e
18、n vigueur For price, see current catalogue CODE PRIX PRICE CODE International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22 919 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http: /www.iec.che-mail: inmailiec.ch IEC 1997 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune par
19、tie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, elect
20、ronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Ma
21、rshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61506 CEI: 1997 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS.6 INTRODUCTION8 Articles 1Domaine dapplication14 2Rfrences normatives14 3Dfinitions .16 4Abrviations 16 5A
22、ssurance de la qualit, vrification et validation .18 5.1 Gnralits.18 5.2 Vrification .18 5.3 Validation .18 5.4 Procdures de modification.20 5.5 Gestion de la configuration .20 6Structure et adaptation de la documentation 20 6.1 Structures gnrales.22 6.2 Identification des documents.28 6.3 Structure
23、 des documents en fonction du cycle de vie.28 6.4 Documentation spcifique un projet/produit normalis 34 6.5 Documentation du logiciel systme/logiciel dapplication34 6.6 Compilation de sous-ensembles de documents .34 6.7 Liste des documents.36 7Cahier des charges .36 7.1 Objectif.36 7.2 Rsum38 7.3 Rf
24、rence lannexe 38 8Description des fonctions.38 8.1 Objectif.38 8.2 Rsum38 8.3 Rfrence lannexe 38 9Description de la conception38 9.1 Objectif.38 9.2 Rsum40 9.3 Rfrence lannexe 40 10Liste des codes .40 10.1 Objectif 40 10.2 Rsum40 10.3 Rfrence lannexe40 11Documents dexploitation.40 11.1 Objectif 40 1
25、1.2 Rsum40 11.3 Rfrence aux annexes42 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61506 IE
26、C: 1997 3 CONTENTS Page FOREWORD7 INTRODUCTION9 Clause 1Scope15 2Normative references .15 3Definitions.17 4Abbreviations17 5Quality assurance, verification and validation.19 5.1General.19 5.2Verification19 5.3Validation19 5.4Modification procedures .21 5.5Configuration management21 6Documentation st
27、ructure and tailoring21 6.1General structures23 6.2Identification of documents.29 6.3Life cycle related document structure.29 6.4Project specific versus standard product documentation.35 6.5Documentation of system software versus application software35 6.6Compilation of document subsets35 6.7List of
28、 documents .37 7Requirement specification 37 7.1Objective.37 7.2Summary39 7.3Reference to annex39 8Function description39 8.1Objective.39 8.2Summary39 8.3Reference to annex39 9Design description 39 9.1Objective.39 9.2Summary41 9.3Reference to annex41 10Code list41 10.1Objective.41 10.2Summary41 10.3
29、Reference to annex41 11 Operational documents .41 11.1Objective.41 11.2Summary41 11.3Reference to annexes 43 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo repro
30、duction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61506 CEI: 1997 12Documents de test.42 12.1 Objectif 42 12.2 Rsum42 12.3 Rfrence aux annexes44 13Documents de maintenance.44 13.1 Objectif 44 13.2 Rsum44 13.3 Rfrence aux annexes44 14Documents de formation46 14.1 Objectif 46 14.2 Rsum4
31、6 14.3 Rfrence lannexe46 Annexes ACahier des charges .48 BDescription des fonctions.62 CDescription de la conception70 DListe des codes .78 EConsignes dexploitation 82 FJournal dexploitation.86 GSpcification de test 90 HCompte rendu de test 94 JJournal de test.98 KInstruction de maintenance 102 LJou
32、rnal de maintenance et de modification. 108 MDescription de la formation 112 NBibliographie . 118 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo reproduction or
33、networking permitted without license from IHS -,-,- 61506 IEC: 1997 5 12Test documents43 12.1Objective.43 12.2Summary43 12.3Reference to annexes 45 13Maintenance documents.45 13.1Objective.45 13.2Summary45 13.3Reference to annexes 45 14Training documents47 14.1Objective.47 14.2Summary47 14.3Referenc
34、e to annex47 Annexes ARequirement specification 49 BFunction description63 CDesign description 71 DCode list79 EOperating instructions.83 FOperational log87 GTest specification91 HTest report 95 JTest log.99 KMaintenance instruction 103 LMaintenance and modification log 109 MTraining description 113
35、 NBibliography 119 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 6 61506 CEI: 1997 COMMISSIO
36、N LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MESURE ET COMMANDE DANS LES PROCESSUS INDUSTRIELS DOCUMENTATION DES LOGICIELS DAPPLICATION AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (
37、Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales. Leur laboration est confie des comi
38、ts dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Norm
39、alisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss so
40、nt reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits na
41、tionaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans
42、 cette dernire. 5)La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6)Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent fair
43、e lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61506 a t tablie par le comit dtudes 65 de la CEI: Mesure et comm
44、ande dans les processus industriels. Le texte de cette norme est issu des documents suivants : FDISRapport de vote 65/210/FDIS65/212/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Les annexes A, B, C, D, E, F, G,
45、H, J, K, L, M font partie intgrante de cette norme. Lannexe N est donne uniquement titre dinformation. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=NASA Marshall Space Flight Center/9972545001 Not for Resale, 03/07/2007 01:38:40 MSTNo reproductio
46、n or networking permitted without license from IHS -,-,- 61506 IEC: 1997 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION INDUSTRIAL-PROCESS MEASUREMENT AND CONTROL DOCUMENTATION OF APPLICATION SOFTWARE FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standar
47、dization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. Interna