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1、 SPCIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 61094-7 Premire dition First edition 2006-05 Microphones de mesure Partie 7: Valeurs des diffrences entre les niveaux defficacit en champ libre et en pression des microphones talons de laboratoire Measurement microphones Part 7: Values for t
2、he difference between free-field and pressure sensitivity levels of laboratory standard microphones Numro de rfrence Reference number CEI/IEC/TS 61094-7:2006 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie
3、 Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les version
4、s consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et
5、 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des p
6、ublications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par li
7、ntermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publicat
8、ion. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- nible par courrier lectronique.
9、Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax:
10、 +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edit
11、ion numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the
12、IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and
13、 work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enab
14、les you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued pub
15、lications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre:
16、Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without li
17、cense from IHS -,-,- SPCIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 61094-7 Premire dition First edition 2006-05 Microphones de mesure Partie 7: Valeurs des diffrences entre les niveaux defficacit en champ libre et en pression des microphones talons de laboratoire Measurement microphones
18、Part 7: Values for the difference between free-field and pressure sensitivity levels of laboratory standard microphones Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne p
19、eut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, includin
20、g photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE L Co
21、mmission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permi
22、tted without license from IHS -,-,- 2 TS 61094-7 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplication 8 2 Rfrences normatives.8 3 Termes et dfinitions8 4 Conditions ambiantes de rfrence.8 5 Contexte.10 6 Valeurs des diffrences entre le niveau defficacit en champ libre et le niveau defficacit en pr
23、ession.10 6.1 Gnralits10 6.2 Origine des donnes .10 6.3 Expression de la diffrence entre le niveau defficacit en champ libre et le niveau defficacit en pression 10 6.4 Incertitude sur le niveau defficacit calcul en champ libre.12 Annexe A (informative) Donnes dorigine .16 Annexe B (informative) Reme
24、rciements .18 Annexe C (informative) Donnes anciennes.20 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from
25、IHS -,-,- TS 61094-7 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope.9 2 Normative references .9 3 Terms and definitions .9 4 Reference environmental conditions.9 5 Background 11 6 Difference values of free-field and pressure sensitivity levels .11 6.1 General.11 6.2 Data sources.11 6.3 Expression for the di
26、fference between free-field and pressure sensitivity levels 11 6.4 Uncertainty on the calculated free-field sensitivity level.13 Annex A (informative) Source data.17 Annex B (informative) Acknowledgements .19 Annex C (informative) Historical data.21 Copyright International Electrotechnical Commissio
27、n Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 TS 61094-7 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MICROPHONES DE MESURE Partie 7:
28、 Valeurs des diffrences entre les niveaux defficacit en champ libre et en pression des microphones talons de laboratoire AVANT-PROPOS 1) La Commission lectrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comit
29、s nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports
30、 techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales
31、 et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les
32、questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres c
33、omme tels par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque
34、utilisateur final 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la
35、norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Tous les utilisateurs
36、doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI,
37、pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou d
38、e toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait
39、que certains des lments de la prsente publication CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit ou de ne pas avoir signal leur existence. La tche principale des comi
40、ts dtudes de la CEI est llaboration des Normes inter- nationales. Exceptionnellement, un comit dtudes peut proposer la publication dune spcification technique lorsquen dpit de maints efforts, laccord requis ne peut tre ralis en faveur de la publication dune Norme internationale, ou, le sujet est enc
41、ore en volution dun point de vue technique ou, pour toute autre raison, il existe une possibilit dans lavenir mais pas dans limmdiat pour un accord sur une norme internationale. Les spcifications techniques sont rvises dans les trois annes qui suivent leur publication pour dcider si elles peuvent tr
42、e transformes en Normes internationales. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:25:53 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- TS 610
43、94-7 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ MEASUREMENT MICROPHONES Part 7: Values for the difference between free-field and pressure sensitivity levels of laboratory standard microphones FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for
44、standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishe
45、s International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may part
46、icipate in this preparatory work. International, governmental and non- governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement b
47、etween the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC c