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1、AFNL NF AL-404 66 LO12372 0013020 039 I - NF TRAITEMENTS DE SURFACE DES METAUX NORME FRANGAISE ANODISATION (OXYDATION ANODIQUE) a HOMOLOGUE DE LALUMINIUM ET DE SES ALLIAGES A 91-404 ? Mesure de lpaisseur Octobre 1 9 6 6 e 2: W u - a O 2 a Y - a O 2 em a I. 2. 3. 4. 5. 6. 6. I 6.2 6.3 7. 8. MESURES E
2、LECTRI QUES (COURANTS DE FOUCAULT) SOMMAI RE Page OBJET . 2 DOMAINE DAPPLICATION . 2 DEFINITIONS 2 PRINCIPE 2 APPAREILLAGE 2 MODE OPERATOIRE . 2 Mise au point zro 2 Etaionnage . 3 3 EXPRESSION DES RESULTATS . 3 PLAQUEES-ETALONS 3 _1 L - - I al .a c - U# W H ornloqiee l i l r cirret (1-1 1966-09-27 J
3、.Q ClLi 1966-10-05 NF A 91-404 3e TIRAGE 79-12 r- AFNL NF A73-404 66 I 3032372 0033023 T75 I I. 2. 3. 4. 5. 6. 6. I 6.1 I -2- OBJET La prsente norme a pour objet de dfinir une mthode de mesure lectrique non des- tructive (courants de Foucault) de lpaisseur des couches doxyde obtenues par anodisation
4、 (oxydation anodique) de laluminium et de ses alliages. DOMA I N E DA BP L I CATI ON Cette mthode nest pas applicable dans les cas de rugosits de surface trop importantes (rcchages profonds ou usinages grossiers), ni dans les cas dassemblages de mtaux diffrents (alliages plaqus par exemple). Elle ex
5、ige des surfaces planes ou grand rayon de courbure, au moins dans la zone de quelques centimtres carrs o est plac le palpeur. Dans le cas dalliages contenant plus de 2 o:, de silicium, la mthode nest utilisable que moyen nant un talon nage particu I er. Les autres cas de limitation de la mthode (qui
6、 peuvent varier selon le type dappareil) sont dfinis par Ia possibilit de raliser correctement ou non ltalonnage prvu larticle 6.2. DFI NITIONS Lpaisseur dune couche dalumine est dfinie comme la moyenne arithmtique des pais- La zone de contrle est la partie de la surface (ou de la ligne) sur laquell
7、e, aprs accord seurs mesures en dix points au moins dune zone de contrle. entre le fournisseur et lutilisateur, les proprits spcifies sont exiges. PRINCIPE Cette mthode utilise le passage de courants de Foucault dans laluminium et la mesure de la raction de ces courants laide dun palpeur dispos sur
8、la surface anodise. Lintensit de cette raction est fonction de la distance entre le palpeur et le mtal de base, cest-dire de lpaisseur de la couche anodique. Cette mthode est non destructive. Selon les fabricants, les appareils utiliss sont plus ou moins sensibles aux diff6rentes variables : rayons
9、de courbure, paisseur du mtal, rugosit et composition ; dans tous les cas, on devra fournir des chantillons-tmoins non anodiss du mme matriau et de mme forme que lchantillon contrler. APPAREILLAGE Aucune limitation nest impose dans le choix du type dappareil utilis, pourvu quil soit bas sur le princ
10、ipe indiqu ci-dessus et quil puisse tre talonn de faon satisfaisante (voir ci -a p res). En pratique, il est souhaitable dutiliser un instrument garanti, mis au point pour cet essai. Le palpeur comporte une petite bobine de self alimente en courant alternatif. Dans la plupart des appareils, la racti
11、on, sur le palpeur, des courants de Foucault induits dans le mtal est directement convertie en paisseur sur le cadran. O n trouve galement dautres types dinstruments, notamment un appareil fonctionnant laide dcouteurs ; alors on effectue les lectures en ujustant un cadran jusqu extinction du son. II
12、 convient de se conformer aux indications du fournisseur de lappareil. Respecter en parti- culier les temps de recommands avant mesure. Le zro de lchelle est vrifi plusieurs reprises au cours du contrle et au moins toutes les 15 minutes. Lchelle de mesure est vrifie au moins une fois par jour. MODE
13、OPERATOIRE La mthode exige une mise au point pralable dont le but est : a) de dfinir le point de dpart de la mesure (zro de lchelle), b) dtalonner les indications de lappareil. Mise au point du zro traitement prliminaire que les chantillons soumis aux essais, mais non anodis. Un chuntillon-tmoin est
14、 prpar, du mme mtal, de mme forme et ayant subi le mme COPYRIGHT AFNOR Association Francaise De Normalisation Licensed by Information Handling Services COPYRIGHT AFNOR Association Francaise De Normalisation Licensed by Information Handling Services AFNL NF A9L-404 66 E 3032372 0013022 703 NF A 91-40
15、4 - 3 - 6.12 a Le palpeur est plac sur lchantillon-tmoin et le zro de lchelle est dtermin en dplaant le palpeur dans la zone de mesure en restant toujours normal la surface. Pour aucun point de la surface de rfrence le zro du cadran ne doit scarter de plus de I micron. Etaionnage On talonne ensuite
16、les indications du cadran en disposant sur la surface de rfrence de lchantillon-tmoin une feuille de matire plastique dpaisseur connue et calibre (gnralement fournie avec lappareil). Lpaisseur de cette feuille calibre doit tre plus grande que lpaisseur maximale de la couche anodique mesurer. Elle a,
17、 au maximum, la valeur de lextrmit de lchelle de mesure. En retirant, puis replaant, le palpeur plusieurs fois sur la feuille plastique, normalement la surface, on doit retrouver la valeur dtalonnage moins de 5 5 (!; prs. O n confirme ltalonnage avec une seconde feuille calibre dpaisseur diffrente d
18、e la pre- mire, comprise entre O et lpaisseur maximale mesurable. O n doit retrouver son paisseur exacte moins de + 5 I , , prs. 6.2 6.2 I 6.22 6.3 6.3 I REMARQUES Lorsque les chantillons ont des formes complexes, on ne peut, en pratique, obtenir la repro- ductibilit des lectures que sur de petites
19、surfaces. O n dlimite soigneusemen; ces surfaces et on note la position du palpeur par un trait de crayon, un cache, ou tout autre moyen convenable. Dans de tels cas, la petite surface choisie pour ltalonnage sur lchantillon-tmoin doit correspondre trs exactement celle de lchantillon anodis sur lequ
20、el les lectures sont ultrieu- rement effectues. 6.32 6.33 II y a intrt en outre vrifier les indications de lappareil selon les rgles indiques larticle 8. Dans certains cas, lemploi du calibre en matire plastique est remplacer par la rfrence des chantillons de mme nature, de mme forme, de mme tat de
21、surface, anodiss une paisseur mesure par coupe micrographique (article 8.4). Cest le cas en pcirticulier des alliages contenant plus de 2 I,) de silicium. 7. EXPRESSION DES RESULTATS Aprs talonnage, dix mesures sont effectues sur la surface contrler. La moyenne arith- mtique des dix valeurs trouves
22、reprsente lpaisseur moyenne. PLAQ U ETTES-ETALONS Quels que soient le principe, le type ou la marque de lappareil utilis, il faut se munir de plusieurs jeux de plaquettes-talons ou de pices-talons, constitues dans un aluminium de mme titre, ou dans le mme alliage que celui de ia pice contrler. Ces t
23、alons seront anodiss aux paisseurs suivantes et colmats : 8. 8.1 (b Plaquettes-talons (*) . _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ _ Aluminium ou alliages n o I nq 2 nil 3 n o 4 microns microns microns microns Aluminium ou alliages moins de 2 Alliages plus de 2 de, de cuivre plaqus alu- 5 4 ; 0,s IO I 15 1,5 20 f
24、2 cuivre, ou minium Alliages 2 , ou plus de 2 ” , de cuivre, non plaqus 2 & 0,5 4 0,5 6 L 0,5 8 f I I I (*) Remarque : Des paisseurs plus grandes peuvent ventuellement tre prvues COPYRIGHT AFNOR Association Francaise De Normalisation Licensed by Information Handling Services COPYRIGHT AFNOR Associat
25、ion Francaise De Normalisation Licensed by Information Handling Services AFNL NF AL-Y04 66 111 3032372 0033023 848 = - 4 - NF A 91-404 Un jeu de plaquettes ou de pices-talons, dans une nuance daluminium ou dalliage dter- mine, permet dtablir une courbe exprimant la variable lectrique (tension de cla
26、quage par exemple) en fonction de lpaisseur relle de la couche dalumine, ou encore de vrifier Iexac- titude de lpaisseur lue sur un appareil gradu en microns. Lpaisseur relle est tablie par coupe micrographique sur ltalon. Par mesure de simplification, le contrle des principaux aluminium et alliages
27、 corroys 8.2 peut tre fait avec les quatre jeux de plaquettes-talons indiqus dans le tableau ci-aprs. 8.3 Jeux de plaquettes- talons en : A9 A5 A-SG A-U4G non plaqu I Aluminium ou alliages corroys a contrler A9 A8 A7 A9-GI A9-G3 A85-G A85-GT A8-GI A7-GI A4 A5 A-M A-GI A-G2 A-G3 A-G5 A-U4G plaqu A5 (
28、*) A8-GS A-GS A-SG A-U4G A-U4GI A-U4Pb A-U2G A-U2GN (*) I (*) Et alliages de cette famille. Pour tout alliage ne figurant pas dans ce tableau, ou en cas de contestation, on utilise un jeu - Etre dans un alliage de mme composition - Avoir une structure voisine dtalons ayant les caractristiques suivan
29、tes, communes aux pices contrler : - Prsenter le mme tat de surface. De prfrence, les plaquettes-talons sont conformes au modle ci-dessous : (I) emplacement pour les marques didentifi- cation : paisseur, symbole de lalliage, numro repre. _- I I QI ?I 2 (2) emplacement rserv la mesure lec- I I I I tr
30、ique talonner. Dimensions en millimtres. 8.4 Dans tous les cas et, en particulier pour les alliages mouls (notamment ceux qui sont riches en silicium), une ou plusieurs pices du lot traiter, sacrifies pour la coupe micrographique, peuvent servir raliser cet talonnage. COPYRIGHT AFNOR Association Francaise De Normalisation Licensed by Information Handling Services COPYRIGHT AFNOR Association Francaise De Normalisation Licensed by Information Handling Services