浙江农林大学数电实验指导书.doc

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1、数字电子技术实验指导书目 录第一部分 实验基础知识一.实验的基本过程二.实验操作规范和故障检查方法三.数字集成电路概述、特点及使用须知四.数字逻辑电路的测试方法第二部分 基础性实验实验一 集成逻辑门电路逻辑功能的测试实验二 继承逻辑门电路的参数测试实验三 组合逻辑电路的实验分析实验四 数据选择器实验五 触发器实验六 计数器实验七 中规模集成电路计数器的应用实验八 计数、译码、显示综合实验实验九 利用TTL集成逻辑门构成脉冲电路实验十 555时基电路第三部分 设计性实验实验一 简易数字控制电路实验二 简易数字计时电路实验三 电梯楼层显示电路实验四 循环灯电路实验五 数字电子技术课程设计数字钟的设

2、计第一部分 实 验 基 础 知 识 随着科学技术的发展，脉冲与数字技术在各个科学领域中都得到了广泛的应用，它是一门实践性很强的技术基础课，在学习中不仅要掌握基本原理和基本方法，更重要的是学会灵活应用。因此，需要配有一定数量的实验，才能掌握这门课程的基本内容，熟悉各单元电路的工作原理，各集成器件的逻辑功能和使用方法，从而有效地培养学生理论联系实际和解决实际问题的能力，树立科学的工作作风。一.实验的基本过程实验的基本过程，应包括确定实验内容，选定最佳的实验方法和实验线路，拟出较好的实验步骤，合理选择仪器设备和元器件，进行连接安装和调试，最后写出完整的实验报告。在进行数字电路实验时，充分掌握和正确利

3、用集成元件及其构成的数字电路独有的特点和规律，可以收到事半功倍的效果，对于完成每一个实验，应做好实验预习，实验记录和实验报告等环节。（一） 实验预习认真预习是做好实验的关键，预习好坏，不仅关系到实验能否顺利进行，而且直接影响实验效果，预习应按本教材的实验预习要求进行，在每次实验前首先要认真复习有关实验的基本原理，掌握有关器件使用方法，对如何着手实验做到心中有数，通过预习还应做好实验前的准备，写出一份预习报告，其内容包括：1 绘出设计好的实验电路图，该图应该是逻辑图和连线图的混合，既便于连接线，又反映电路原理，并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值，必要时还须用文字说明。2拟定实验方法和步

4、骤。3拟好记录实验数据的表格和波形座标。4列出元器件单。（二） 实验记录实验记录是实验过程中获得的第一手资料，测试过程中所测试的数据和波形必须和理论基本一致，所以记录必须清楚、合理、正确，若不正确，则要现场及时重复测试，找出原因。实验记录应包括如下内容：1 实验任务、名称及内容。2 实验数据和波形以及实验中出现的现象，从记录中应能初步判断实验的正确性。3 记录波形时，应注意输入、输出波形的时间相位关系，在座标中上下对齐。4 实验中实际使用的仪器型号和编号以及元器件使用情况。（三） 实验报告实验报告是培养学生科学实验的总结能力和分析思维能力的有效手段，也是一项重要的基本功训练，它能很好地巩固实验

5、成果，加深对基本理论的认识和理解，从而进一步扩大知识面。实验报告是一份技术总结，要求文字简洁，内容清楚，图表工整。报告内容应包括实验目的、实验内容和结果、实验使用仪器和元器件以及分析讨论等，其中实验内容和结果是报告的主要部分，它应包括实际完成的全部实验，并且要按实验任务逐个书写，每个实验任务应有如下内容：1.实验课题的方框图、逻辑图（或测试电路）、状态图，真值表以及文字说明等，对于设计性课题，还应有整个设计过程和关键的设计技巧说明。2.实验记录和经过整理的数据、表格、曲线和波形图，其中表格、曲线和波形图应充分利用专用实验报告简易座标格，并且三角板、曲线板等工具描绘，力求画得准确，不得随手示意画

6、出。3.实验结果分析、讨论及结论，对讨论的范围，没有严格要求，一般应对重要的实验现象，结论加以讨论，以使进一步加深理解，此外，对实验中的异常现象，可作一些简要说明，实验中有何收获，可谈一些心得体会。二.实验中操作规范和常见故障检查方法实验中操作的正确与否对实验结果影响甚大。因些，实验者需要注意按以下规程进行。1.搭接实验电路前，应对仪器设备进行必要的检查校准，对所用集成电路进行功能测试。2.搭接电路时，应遵循正确的布线原则和操作步骤（即要按照先接线后通电，做完后，先断电再拆线的步骤）。3.掌握科学的调试方法，有效地分析并检查故障，以确保电路工作稳定可靠。4.仔细观察实验现象，完整准确地记录实验

7、数据并与理论值进行比较分析。5.实验完毕，经指导教师同意后，可关断电源拆除连线，整理好放在实验箱内，并将实验台清理干净、摆放整洁。布线原则和故障检查时实验操作的重要问题。(一).布线原则：应便于检查，排除故障和更换器件。在数字电路实验中，有错误布线引起的故障，常占很大比例。布线错误不仅会引起电路故障，严重时甚至会损坏器件，因此，注意布线的合理性和科学性是十分必要的，正确的布线原则大致有以下几点：1.接插集成电路时，先校准两排引脚，使之与实验底板上的插孔对应，轻轻用力将电路插上，然后在确定引脚与插孔完全吻合后，再稍用力将其插紧，以免集成电路的引脚弯曲，折断或者接触不良。2.不允许将集成电路方向插

8、反，一般IC的方向是缺口（或标记）朝左，引脚序号从左下方的第一个引脚开始，按逆时钟方向依次递增至左上方的第一个引脚。3.导线应粗细适当，一般选取直径为0.60.8mm的单股导线，最好采用各种色线以区别不同用途，如电源线用红色，地区用黑色笔。4.布线应有秩序地进行，随意乱接容易造成漏接错接，较好的方法是接好固定电平点，如电源线、地线、门电路闲置输入端、触发器异步置位复位端等，其次，在按信号源的顺序从输入到输出依次布线。5.连线应避免过长，避免从集成元件上方跨接，避免过多的重叠交错，以利于布线、更换元器件以及故障检查和排除。6.当实验电路的规模较大时，应注意集成元器件的合理布局，以便得到最 佳布线

9、，布线时，顺便对单个集成元件进行功能测试。这是一种良好的习惯，实际上这样做不会增加布线工作量。7.应当指出，布线和调试工作是不能截然分开的，往往需要交替进行，对大型实验元器件很多的，可将总电路按其功能划分为若干相对独立的部分，逐个布线、调试（分调），然后将各部分连接起来（联调）。(二).故障检查实验中，如果电路不能完成预定的逻辑功能时，就称电路有故障，产生故障的原因大致可以归纳以下四个方面：1.操作不当（如布线错误等）2.设计不当（如电路出现险象等）3.元器件使用不当或功能不正常4.仪器（主要指数字电路实验箱）和集成元件本身出现故障。因此，上述四点应作为检查故障的主要线索，以下介绍几种常见的故

10、障检查方法：1.查线法：由于在实验中大部分故障都是由于布线错误引起的，因此，在故障发生时，复查电路连线为排除故障的有效方法。应着重注意：有无漏线、错线，导线与插孔接触是否可靠，集成电路是否插牢、集成电路是否插反等。2.观察法：用万用表直接测量各集成块的Vcc端是否加上电源电压；输入信号，时钟脉冲等是否加到实验电路上，观察输出端有无反应。重复测试观察故障现象，然后对某一故障状态，用万用表测试各输入/输出端的直流电平，从而判断出是否是插座板、集成块引脚连接线等原因造成的故障。3.信号注入法在电路的每一级输入端加上特定信号，观察该级输出响应，从而确定该级是否有故障，必要时可以切断周围连线，避免相互影

11、响。4.信号寻迹法在电路的输入端加上特定信号，按照信号流向逐线检查是否有响应和是否正确，必要时可多次输入不同信号。5.替换法对于多输入端器件，如有多余端则可调换另一输入端试用。必要时可更换器件，以检查器件功能不正常所引起的故障。6.动态逐线跟踪检查法对于时序电路，可输入时钟信号按信号流向依次检查各级波形，直到找出故障点为止。7.断开反馈线检查法对于含有反馈线的闭合电路，应该设法断开反馈线进行检查，或进行状态预置后再进行检查。以上检查故障的方法，是指在仪器工作正常的前提下进行的，如果实验时电路功能测不出来，则应首先检查供电情况，若电源电压已加上，便可把有关输出端直接接到01显示器上检查，若逻辑开

12、关无输出，或单次CP无输出，则是开关接触不好或是内部电路坏了，一般就是集成器件坏了。需要强调指出，实验经验对于故障检查是大有帮助的，但只要充分预习，掌握基本理论和实验原理，就不难用逻辑思维的方法较好地判断和排除故障。三、数字集成电路概述、特点及使用须知(一).概述：当今，数字电子电路几乎已完全集成化了。因此，充分掌握和正确使用数字集成电路，用以构成数字逻辑系统，就成为数字电子技术的核心内容之一。集成电路按集成度可分为小规模、中规模、大规模和超大规模等。小规模集成电路（SSI）是在一块硅片上制成约110个门，通常为逻辑单元电路，如逻辑门、触发器等。中规模集成电路（MSI）的集成度约为10100门

13、/片，通常是逻辑功能电路，如译码器、数据选择器、计数器、寄存器等。大规模集成电路（LSI）的集成度约为100门/片以上，超大规模（VLSI）约为1000门/片以上，通常是一个小的数字逻辑系统。现已制成规模更大的极大规模集成电路。数字集成电路还可分为双极型电路和单极型电路两种。双极型电路中有代表性的是TTL电路；单极型电路中有代表性的是CMOS电路。国产TTL集成电路的标准系列为CT54/74系列或CT0000系列，其功能和外引线排列与国际54/74系列相同。国产CMOS集成电路主要为CC（CH）4000系列，其功能和外引线排列与国际CD4000系列相对应。高速CMOS系列中，74HC和74HC

14、T系列与TTL74系列相对应，74HC4000系列与CC4000系列相对应。部分数字集成电路的逻辑表达式、外引线排列图列于附录中。逻辑表达式或功能表描述了集成电路的功能以及输出与输入之间的逻辑关系。为了正确使用集成电路，应该对它们进行认真研究，深入理解，充分掌握。还应对使能端的功能和连接方法给以充分的注意。必须正确了解集成电路参数的意义和数值，并按规定使用。特别是必须严格遵守极限参数的限定，因为即使瞬间超出，也会使器件遭受损坏。下面具体说明集成电路的特点和使用须知。(二).TTL器件的特点：1输入端一般有钳位二极管，减少了反射干扰的影响；2输出电阻低，增强了带容性负载的能力；3有较大的噪声容限

15、；4采用+5V的电源供电。为了正常发挥器件的功能，应使器件在推荐的条件下工作，对CT0000系列（74LS系列）器件，主要有：（1）电源电压应4.755.25V的范围内。（2）环境温度在00C700C之间。（3）高电平输入电压VIH2V，低电平输入电压VSL0.8V。（4）输出电流应小于最大推荐值（查手册）。（5）工作频率不能高，一般的门和触发器的最高工作频率约30MHZ左右。 TTL器件使用须知：1电源电压应严格保持在5V10%的范围内，过高易损坏器件，过低则不能正常工作，实验中一般采用稳定性好、内阻小的直流稳压电源。使用时，应特别注意电源与地线不能错接，否则会因过大电流而造成器件损坏。2多

16、余输入端最好不要悬空，虽然悬空相当于高电平，并不能影响与门（与非门）的逻辑功能，但悬空时易受干扰，为此，与门、与非门多余输入端可直接接到Vcc上，或通过一个公用电阻（几千欧）连到Vcc上。若前级驱动能力强，则可将多余输入端与使用端并接，不用的或门、或非门输入端直接接地，与或非门不用的与门输入端至少有一个要直接接地，带有扩展端的门电路，其扩展端不允许直接接电源。3输出端不允许直接接电源或接地（但可以通过电阻与电源相连）；不允许直接并联使用（集电极开路门和三态门除外）。4应考虑电路的负载能力（即扇出系数）。要留有余地，以免影响电路的正常工作，扇出系数可通过查阅器件手册或计算获得。5在高频工作时，应

17、通过缩短引线、屏蔽干扰源等措施，抑制电流的尖峰干扰。（三）.CMOS数字集成电路的特点1静态功耗低：电源电压VDD=5V的中规模电路的静态功耗小于100W，从而有利于提高集成度和封装密度，降低成本，减小电源功耗。2电源电压范围宽：4000系列CMOS电路的电源电压范围为318V，从而使选择电源的余地大，电源设计要求低。3输入阻抗高：正常工作的CMOS集成电路，其输入端保护二极管处于反偏状态，直流输入阻抗可大于100M，在工作频率较高时，应考虑输入电容的影响。4 扇出能力强：在低频工作时，一个输出端可驱动50个以上的CMOS器件的输入端，这主要因为CMOS器件的输入电阻高的缘故。5抗干扰能力强：

18、CMOS集成电路的电压噪声容限可达电源电压的45%，而且高电平和低电平的噪声容限值基本相等。6逻辑摆幅大：空载时，输出高电平VOHVDD-0.05V,输出低电平VOLVSS+0.05V。CMOS集成电路还有较好的温度稳定性和较强的抗辐射能力。不足之处是，一般CMOS器件的工作速度比TTL集成电路低，功耗随工作频率的升高而显著增大。CMOS器件的输入端和VSS之间接有保护二极管，除了电平变换器等一些接口电路外，输入端和正电源VDD之间也接有保护二极管，因此，在正常运转和焊接CMOS器件时，一般不会因感应电荷而损坏器件。但是，在使用CMOS数字集成电路时，输入信号的低电平不能低于（VSS-0.5V

19、），除某些接口电路外，输入信号的高电平不得高于（VDD+0.5V），否则可能引起保护二极管导通，甚至损坏进而可能使输入级损坏。CMOS器件使用须知：1电源连接和选择：VDD端接电源正极，VSS端接电源负极（地）。绝对不许接错，否则器件因电流过大而损坏。对于电源电压范围为3V18V系列器件。如CC4000系列，实验中VDD通常接+5V电源，VDD电压选在电源变化范围的中间值，例如电源电压在812V之间变化，则选择VDD=10V较恰当。CMOS器件在不同的VDD值下工作时，其输出阻抗、工作速度和功耗等参数都有所变化，设计中须考虑。2输入端处理：多余输入端不能悬空。应按逻辑要求接VDD或接VSS，以

20、免受干扰造成逻辑混乱，甚至还会损坏器件。对于工作速度要求不高，而要求增加带负载能力时，可把输入端并联使用。对于安装在印刷电路板上的CMOS器件，为了避免输入端悬空，在电路板的输入端应接入限流电阻RP和保护电阻R，当VDD=+5V时，RP取5.1K，R一般取100K1M。3输出端处理：输出端不允许直接接VDD或VSS，否则将导致器件损坏，除三态（TS）器件外，不允许两个不同芯片输出端并联使用，但有时为了增加驱动能力，同一芯片上的输出端可以并联。4对输入信号VI的要求：VI的高电平VIHVDD，VIL的低电平VIL小于电路系统允许的低电压；当器件VDD端末接通电源时，不允许信号输入，否则将使输入端

21、保护电路中的二极管损坏。四、数字逻辑电路的测试方法(一)组合逻辑电路的测试：组合逻辑电路测试的目的是验证其逻辑功能是否符合设计要求，也就是验证其输出与输入的关系是否与真值表相符。1静态测试静态测试是在电路静止状态下测试输出与输入的关系将输入端分别接到逻辑开关上。用发光二极管分别显示各输入和输出端的状态。按真值表将输入信号一组一组地依次送入被测电路，测出相应的输出状态，与真值表相比较，借以判断此组合逻辑电路静态工作是否正常。2动态测试动态测试是测量组合逻辑电路的频率响应。在输入端加上周期性信号，用示波器观察输入、输出波形。测出与真值表相符的最高输入脉冲频率。(二).时序逻辑电路的测试时序逻辑电路

22、测试的目的是验证其状态的转换是否与状态图相符合。可用发光二极管、数码管或示波器等观察输出状态的变化。常用的测试方法有两种。一种是单拍工作方式：以单脉冲源作为时钟脉冲，逐拍进行观测。另一是连续工作方式：以连续脉冲源作为时钟脉冲，用示波器观察波形，来判断输出状态的转换是否与状态图相符。第二部分 基础性实验实验一 集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、元器件： 74LS00 74LS04 74LS55 7

23、4LS86 各一块导线 若干三、实验内容1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚）重点讲解，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输2、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能将74LS00正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电 3、测试74LS55（二路四输入与或非门）逻辑功能将74LS55正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-3要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，填入表中。（表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据） 4、测试74LS86（四异或门）逻辑功能将74LS8

24、6正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-4要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为Y=AB四、实验结果分析（回答问题）若测试74LS55的全部数据，所列测试表应有256种输入取值组合。用实验箱、万用表作一个实验示范，并强调测试方法及万用表的用法。实验二 集成逻辑门电路的参数测试一、实验目的掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 2只3、元器件：74LS20（T063） CC4012 各一块2CK11 4只电阻及导线 若干三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形

25、）1、TTL与非门74LS20静态参数测试导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH 。测试电路如图2-1。74LS20为双与非门，两个门的输入端作相同处理。测得ICCL=12mA，ICCH=1.6mA图2-1图2-2低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2。 2、电压传输特性。调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和VO值，将结果记录入下表中。测试电路如图2-3。图2-33、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试 将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上，输出端为空载测量。将结果记录入下表中。

26、四、实验结果分析（回答问题）1、测量TTL与非门输出低电平时要加负载，因为要求集成块有一定带负载的能力，而TTL与非门输出低电平时会有较大负载电流。图2-3中R选用360是根据最大允许负载电流为：扇出系数（8）低电平输入电流I iL（1.6mA）得到的。若R很小会使负载电流过大，无法得到正常的输出低电平。2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”，因为悬空相当于Ri=，由输入端负载特性可得此结论。3、TTL或非门闲置输入端的处置方法：与其它输入端并联；接地。4、实验中所得ICCL和ICCH为整个器件值，单个门电路的ICCL和ICCH 为所测值的一半。5、CC4012的VDD=15V，则其VOH=

27、14.95V、VOL=0.05V、VTH =7.5V。重点讲解组合逻辑电路的实验分析的方法与步骤及在实验设备中如何去实现。实验三 组合逻辑电路的实验分析一、实验目的1、学会组合逻辑电路的实验分析方法。2、验证半加器、全加器的逻辑功能。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 2只3、元器件：74LS00 74LS20 各一块74LS55 74LS86 各一电阻及导线 若干三、实验线路图四、实验内容1、测试用与非门构成的电路的逻辑功能按图3-1接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为：Y=AB Z=AB2、测

28、试用异或门和与非门组成的电路的逻辑功能按图3-2接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为3、测试用异或门、非门和与或非门组成的电路的逻辑功能按图3-3接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为：五、实验结果分析（回答问题）1、总结用实验来分析组合逻辑电路功能的方法为：按图接线，将输入的所有取值组合对应输出测出来，得到该电路的真值表，进而写出逻辑函数表达式，概述电路的逻辑功能 讲解74LS138的用法及数据选择器在微机控制等领域的应用。此为学生自拟实验由学生自拟，老师

29、着重是辅导。实验四 数据选择器一、实验目的1、进一步熟悉用实验来分析组合逻辑电路功能的方法。2、了解中规模集成八选一数据选择器74LS151的应用。3、了解组合逻辑电路由小规模集成电路设计和由中规模集成电路设计的不同特点二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、元器件：74LS00 74LS04 各1块74LS20 74LS151 各1块导线 若干三、实验线路图四、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）1、利用数字逻辑实验箱测试74LS151八选一数据选择器的逻辑功能，按图5-1接线，将实验结果记录在下表中。2、交通灯红用R、黄用Y、绿用G表示，亮为1，灭为0。

30、只有当其中一只亮时为正常Z=0，其余状态均为故障Z=1。该交通灯故障报警电路如图5-1，接线并检查电路的逻辑功能，将结果记录在下表中，可得表达式为：Z（R，Y，G）=m（0，3，5，6，7）RYGZ000100100100011110001011110111113、有一密码电子锁，锁上有四个锁孔A、B、C、D，按下为1，否则为0，当按下A和B、或A和D、或B和D时，再插入钥匙，锁即打开。若按错了键孔，当插入钥匙时，锁打不开，并发出报警信号，有警为1，无警为0。设计出电路如图5-3，按图接线并检查电路的逻辑功能，列出表述其功能的真值表，记录实验数据如下表，可得表达式为： F（A，B，C，D）=m

31、（0，1，2，3，4，6，7，8，10，11，13，14，15）五、实验结果分析（回答问题）1、由以上实验测试结果，可知74LS151八选一的功能正常。2、用中规模集成电路设计逻辑函数的特点为：较小规模集成电路更便于修改设计，且设计中多使用最小项表达式，设计思想可以更加清晰。讲解74LS151的用法及数据选择器在微机控制等领域的应用。此为学生自拟实验由学生自拟，老师着重是辅导。实验五 触发器一、实验目的1、学会测试触发器逻辑功能的方法。2、进一步熟悉RS触发器、集成JK触发器和 D触发器的逻辑功能及触发方式。3、进一步熟悉数字逻辑实验箱中单脉冲和连续脉冲发生器的使用方法。二、实验仪器及设备1、

32、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、双踪示波器XJ4328XJ4318 一台4、元器件：74LS00 74LS74 各1块74LS20 74LS76 各1块导线 若干三、实验线路图四、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）1、基本RS触发器逻辑功能测试利用数字逻辑实验箱测试由与非门组成的基本RS触发器的逻辑功能，R、S接电平开关，Q、Q接电平显示，将结果记录在下表中。2、集成JK触发器逻辑功能测试(1)、直接置0和置1端的功能测试（2）JK逻辑功能的测试按下表测试并记录JK触发器的逻辑功能（表中CP信号由实验箱操作板上的单次脉冲发生器提供）。(3)JK触发器计数功能测试使触发器

33、处于计数状态（J=K=1），CP信号由实验箱操作板中的连续脉冲（矩形波）发生器提供，可分别用低频(f= 110HZ)和高频（f=20150KHZ）两档进行输入，分别用实验箱上的LED电平显示器和XJ4328双踪示波器观察工作情况，记录CP与Q的工作波形，Q状态更新发生在CP的下降沿。Q信号的周期是CP信号周期的两倍。3、集成D触发器逻辑功能测试（1）D触发器逻辑功能的测试按下表测试并记录D触发器的逻辑功能（表中CP信号由实验箱操作板上的单次脉冲发生器提供）。DCPQn+1Qn=0Qn=1001000100110111011(2) D触发器计数功能测试使触发器处于计数状态（D= ），CP端由实验

34、箱操作板中的连续脉冲（矩形波）发生器提供，可分别用低频(f= 1-10HZ)和高频（f=20-150KHZ）两档进行输入，分别用实验箱上的LED电平显示器和XJ4318/XJ4328双踪示波器观察工作情况，记录CP与Q的工作波形， Q状态更新发生在CP的上升沿。Q信号的周期是CP信号周期的两倍。五、实验结果分析（回答问题）1、画出工作波形图。2、比较各种触发器的逻辑功能及触发方式：基本RS触发器：置0、置1、保持功能，有不定状态；低电平触发。JK触发器：置0、置1、保持、计数功能，有低电平有效的直接置0、置1端；下降沿触发。D触发器：置0、置1、保持、功能，有低电平有效的直接置0、置1端；上升

35、沿触发。六、思考题讲解小规模计数器的应用及组成原理。 实验六 计数器一、实验目的1、学习计数器逻辑功能的测试方法。2、熟悉计数器（异步三位二进制加/减法及十进制加法）的工作原理。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、双踪示波器XJ4328XJ4318 一台4、元器件：74LS00 74LS76 各1块导线 若干三、实验线路图四、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）1、异步二进制加法计数器 按图8-1接线，组成一个三位异步二进制加法计数器，CP信号可利用数字逻辑实验箱上的单次脉冲发生器或低频连续脉冲发生器，清0信号 由逻辑电平开控制，计数器的输出信号接LED

36、电平显示器，按下表进行测试并记录。（2）在CP端加高频连续脉冲，用示波器观察各触发器输出端的波形，并按时间对应关系画出CP、Q1、Q2、Q3端的波形。2、异步二进制减法计数器在预习时画出用JK触发器构成的三位异步二进制减法计数器的逻辑电路如图8-2。按图接线，然后按步骤1所述内容进行测试。3、异步十进制加法计数器按图8-3接线，组成一个异步十进制加法计数器，CP信号可利用数字逻辑实验箱上的单次脉冲或低频连续脉冲发生器，清0信号 由逻辑电平开关控制，各触发器的输出端及进位输出端分别接到LED电平显示插孔，按下表进行测试并记录。（2）在CP端加高频连续脉冲，用示波器观察各触发器输出端的波形，并按时

37、间对应关系画出CP、Q1、Q2、Q3、Q4、Z端的波形。十进制计数器 五、实验结果分析（回答问题）1、画出工作波形图。二进制加/减法计数器的相同点：都为异步计数器，进位信号取自低位状态的边沿。相异点：进位信号分别取自低位状态的下降沿和上升沿。讲解中规模计数器的应用及组成原理。实验七 中规模集成电路计数器的应用一、实验目的1、熟悉中规模集成电路计数器的功能及应用。2、进一步熟悉数字逻辑实验箱中的译码显示功能。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、双踪示波器XJ4328/XJ4318 一台4、元器件：74LS00 74LS20 74LS161 各1块导线 若干三、

38、实验线路图四、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）(一)用74LS161及辅助门电路实现一个10进制计数器：1、利用异步清0端 。电路图如图9-1。2、利用同步置数端LD，从0000开始计数。电路图如图9-2。3、利用同步置数端LD，到1111结束。电路图如图9-3。4、利用同步置数端LD，从某状态DCBA开始，到另一状态D1C1B1A1结束。（例：从0001开始，到1010结束的10进制）电路图如图9-4。计数器的CP端接低频连续脉冲，输出状态接LED电平显示，逻辑电平开关作为并行输入数据，观察计数器的功能。列出表述其功能的计数状态顺序表，记录实验数据。 电路图9-4的数据为下表：CPQ

39、DQCQBQA代表十进制数00001110010220211330100440101550110660111771000881001991010101000000（二）利用实验箱上的高频连续脉冲作CP，用示波器观察QD、QC、QB、QA的波形，并按时间对应关系记录下来。（略）五、实验结果分析（回答问题）1、74LS161的置0端为异步置0，置数端为同步置数。2、若要求计数器具有暂停计数功能，可以：A 封锁CP信号B 令EP=ET=0此为学生自拟实验由学生自拟，老师着重是辅导。实验八 计数、译码、显示综合实验一、实验目的1、熟悉中规模集成电路计数器的功能及应用。2、熟悉中规模集成电路译码器的功能

40、及应用。3、熟悉LED数码管及显示电路的工作原理。4、学会综合测试的方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、元器件：74LS90 2块74LS49 （或74LS249） 1块共阴型LED数码管 1块导线 若干三、实验线路图四、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形用集成计数器74LS90分别组成8421码十进制和六进制计数器，然后连接成一个60进制计数器（6进制为高位、10进制为低位）。其中10进制计数器用实验箱上的LED译码显示电路显示（注意高低位顺序及最高位的处理），6进制计数器由自行设计、安装的译码器、数码管电路显示，这样组成一个60进制的计数、译码

41、、显示电路。用实验箱上的低频连续脉冲（调节频率为1-2HZ）作为计数器的计数脉冲，通过数码管观察计数、译码、显示电路的功能为正确。五、实验结果分析1、简要说明数码管自动计数显示的情况：该计数器从00递增加1，直到59后，又回到00状态。2、根据实验中的体会，说明综合测试较复杂中小规模数字集成电路的方法：分单元电路安装、调试。六、回答思考题1、共阴、共阳LED数码管应分别配用译中为1和译中为0输出方式的译码器。 2、数码管驱动电路中的电阻值是根据额定工作电流来确定的。如果60进制计数器采用高位接10进制、低位接6进制的方式，计数顺序为：低位按6进制计数，所以00递增到05后，下一个状态为10，再

42、递增到15，下一个状态为20，以此类推，直到95后，回00状态。介绍振荡器的原理及实现方法。实验九 利用TTL集成逻辑门构成脉冲电路一、实验目的1、掌握用集成门构成多谐振荡器和单稳电路的基本工作原理。2、了解电路参数变化对振荡器波形的影响。3、了解电路参数变化对单稳电路输出脉冲宽度的影响。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、双踪示波器XJ4328/XJ4318 1台4、元器件： 74LS00 1块1.2K电位器 1只电阻、电容、导线 若干三、实验内容1、多谐振荡器图11-2 环形振荡器将74LS00 2输入四与非门、电阻、电容等按图11-1接线。用示波器观察

43、Vi1、V01、Vi2、V0 的波形。按时间对应关系记录下来，测出振荡器输出波形的周期。将74LS00 2输入四与非门、电阻、电容等按图11-2接线。经检查无误后方可接通电源。用示波器观察Vi1、Vi2、V02、Vi3、V0 的波形，按时间对应关系记录下来。改变电位器的阻值，用示波器观察振荡周期的变化趋势，计算出该振荡器振荡频率的变化范围：fmin=33.4kHzfmax =434.8kHz3、积分型单稳电路按图11-3接线，用实验箱上的高频连续脉冲作为输入信号Vi1 。用示波器观察，调整输入波形为一定脉冲宽度时，用示波器观察Vi1、V01、Vi2、V0 的波形，按时间对应关系记录下来，测出输

44、出脉冲的宽度：tp1=0.7uS将图11-3再加一级非门输出，比较两种电路的输出波形有无不同，将电容改为0.01uF，再测量电路输出脉冲的宽度：tp2=2.1uS四、实验分析1、波形图2、将实验所得数据与理论计算值相比较，不一致的原因：测量误差；理论计算误差。3、总结归纳元件参数的改变对电路参数的影响：环形振荡器：电阻改变使周期相应变化；积分型单稳：电容改变使输出脉宽相应变化。介绍555时基电路的原理、实现方法及在实际中的应用。实验十 555时基电路 一、实验目的1、熟悉555时基电路逻辑功能的测试方法。2、熟悉555时基电路的工作原理及其应用。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱DSB-3

45、1台2、万用表 1只3、双踪示波器XJ4328/XJ4318 1台 4、元器件： NE555 1块1.2K电位器 1只电阻、电容、导线 若干三、实验线路 四、实验内容1、555时基电路逻辑功能测试（1）按图12-1接线，将R端接实验箱的逻辑电平开关，输出端OUT和放电管输出端DIS分别接LED电平显示，检查无误后，方可进行测试。（注：放电管导通时灯灭，放电管截止时灯亮）（2）按表12-1进行测试，改变R W 1和R W 2的阻值，观察状态是否改变。（3）按表12-2测试，将结果记录下来，用万用表测出TH和TR端的转换电压，为3.3V 和1.7V，与理论值2/3 Vcc和1/3Vcc比较，是一致的。（注：表中某步骤若状态未转换，转换电压一栏填X）2、555时基电路的应用用555时基电路设计一个多谐振荡器，频率为1KHZ。用示波器观察得到的矩形波。五、实验结果分析（回答问题）总结555时基电路的逻辑功能：有两个触发端，分