AD转换芯片ADC08D1000特性介绍.doc

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1、A/D 转换芯片 ADC08D1000特性介绍美国国家半导体公司的超高速 ADC-ADC08D100是0一款高性能的模 / 数转换芯 片。它具有双通道结构,每个通道的最大采样率可达到 1.6GHz,并能达到 8 位 的分辨率 ;采用双通道“互插”模式时,采样速率可达 2GSPS采; 用 128脚 LQFP 封装, 1.9V单电源供电 ;具有自校准功能,可通过普通方式或扩展方式对其进 行控制; 可工作在 SDR,DDR等多种模式下。下面对该芯片进行详细介绍。 1ADC08D1000的结构和管脚说明 1.1ADC08D1000的结构 ADC08D1000的美国国家半导体公司的超高速 ADC-ADC

2、08D1000 是一款高性能的模 /数转换芯 片。它具有双通道结构,每个通道的最大采样率可达到 1.6 GHz ,并能达到 8 位的分辨率 ;采用双通道“互插”模式时,采样速率可达 2 GSPS;采用 128脚 LQFP封装, 1.9 V 单电源供电; 具有自校准功能,可通过普通方式或扩展方式对 其进行控制 ; 可工作在 SDR,DDR等多种模式下。下面对该芯片进行详细介绍。1 ADC08D1000的结构和管脚说明1.1 ADC08D1000的结构ADC08D1000的结构,主通道由输入多路模拟 开关、采样保持电路、 8 位 ADC和 1:2分离器/ 锁存器组成。它共有两路相同的通道。控制逻辑

3、由普通方式或扩 展方式进行配置,对整个芯片进行控制。1.2 ADC08D1000的管脚说明ADC08D500采用 128 脚 LQFP封装,管脚图见图 2。其关键管脚说明如下:(1) OUTV/SCLK:输出电压幅度 / 串行接口时钟。高电平时, DCLK和数据信号为 普通差分幅度 ; 接地时,差分幅度会降低,从而减少功耗。当扩展控制模式开启 时,此脚为串行时钟脚。(2) OUTEDGE/DDR/SDA:TADCLK时钟沿选择 /DDR功能选择 / 串行数据输入。当此 脚连接到 1/2 VA 或者悬空时,进入 DDR模式。扩展控制模式时,这个脚作为 SDATA输入。(3) DCLK_RST:D

4、CLK的复位。一个正脉冲可以复位和同步多片 ADC中的 DCLK输 出。(4) PD/ PDQ:低功耗模式管脚。逻辑高电平加在此脚会使芯片进入休眠状态,当 逻辑高电平加在 PDQ上只会使 Q通道 ADC进入休眠状态。(5) CAL:校准过程初始化引脚(6) FSR/ECE:全量程选择以及扩展控制模式选择,在非扩展控制模式,逻辑低 电平会把全量程差分输入范围 (峰峰值)设置为 650 mV;逻辑高电平会把全量程 差分输入范围 (峰峰值)设置为 870 mV。当此脚连接到 1/2VA或者悬空时,进入 扩展控制模式。(7) CLK+/CLK- :ADC的 LVDS时钟输入。这个差分时钟信号必须是交流

5、耦合的。 输入信号将在 CLK+的下降沿被采样。(8) VINI+/VINI-/VINQ+/VINQ- : ADC的模拟输入脚。(9) CalRun :校准运行指示。高电平有效。(10) DI/DQ/DId/DQd : I 通道和 Q通道的 LVDS数据输出。( 11)OR+/OR-:输入溢出指示。(12)DCLK+/DCLK-:差分时钟输出,用于将输出数据锁存。延迟和非延迟输出数 据与此信号同步。当工作在 SDR模式时,这个信号的速率为 1/2 输入时钟速率 ; 当工作在 DDR模式时,这个信号为 1/4 输入时钟速率。2 ADC08D1000的功能描述2.1 自校准自校准在上电后运行,也可

6、以由用户引发。在量程转换或温度有较大变化时需 要运行自校准,建议在上电 20 s 后进行。在休眠模式时,不能进行自校准。正常操作下,上电或用户触发都能引发自校准。用户触发时,使CAL为至少 10个周期的低电平加上至少 10个周期高电平,自校准的运行时间大概为 140 000 个时钟周期,注意在上电时保持 CAL为高可以阻止自校准的发生。自校准运行 时, CALRUN为高。自校准时, CALDLY不能悬空。2.2 采样数据在 CLK+的下降沿被采得, 13 个周期后在 DI/DQ 得到, 14个周期后在 DId/DQd 得到,还要加上一个小的延时,只要 CLK给出,就开始采样。2.3 控制模式一

7、些基本的控制都能通过普通模式来设置,比如自校准、休眠模式和量程设置 等。 ADC08D500还提供扩展控制模式,借助串行接口来配置芯片内部的寄存 器,扩展控制模式不能动态地选择。使用扩展模式时,引脚控制被忽略。控制 模式通过 14 脚(ECE)来选择。2.4 时钟CLK必须为交流耦合的差分时钟。 DCLK用来送给外部器件来锁存数据,可以选 择采样方式 (SDS/DES)和数据输出方式 (SDR/DDR。)(1) DES 双边沿采样。双边沿采样时,用双通道对同一个输入信号采样,一个在 上升沿采样,另一个在下降沿采样,因此相当于两倍的采样率。在这种模式 下,输出的并行 4 B 数据,按时间先后顺序为 DQd,DId,DQ,DI。普通控制模 式时,只能对 I 路进行双边沿采样,扩展控制模式时,可以选择 I 路或 Q路。(2) 输出边沿设置。在 SDR模式下,通过设置 OutEdge(Pin14) 来选择输出数据 在上升沿还是下降沿锁存,高电平为上升沿,低电平为下降沿。(3) DDR。可以通过对 4 脚进行设置来选择输出方式,高电平为 SDR上边沿锁 存,低电平为 SDR下边沿锁存,悬空为 DDR。SDR时 DCLK频率与数据输出率一 致, DDR时 DCLK频率为数据输出率的一半。

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