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1、华为耳机外观检验标准1 1 检验环境、要求：检验环境、要求：1.1温度、湿度：温度，1 15-35；湿度，20%-75%。1.2距离人眼与被测物表面的距离为300mm-350mm1.3位置初始时，产品与桌面成 45 度，检视角度垂直于产品检视面，随后产品上下左右各转动45 度.1.4照明。冷白荧光灯（光源在检测者正上方） ，光照度为 700-1000 Lux1.5检视时间外观表面标准检视时间为105S。允许最长检视时间 15S。在这 15S 内缺陷仍不可见，则此检视件视为合格. 建议一级面检视时间为 7s，二级面检视时间为 5s，三级面检视时间为 3s。1.6检视人员要求检视人员视力需在 1.
2、0 以上（含矫正视力）1.7检验工具：直尺/卷尺，测试工装，菲林片，塞规。2 2 缺陷代码表缺陷代码表代码名称（单位）NLWS数目（个）长度(mm)宽度(mm)面积(mm2)代码DHDS名称（单位）直径(mm)深 ( 或 高 ) 度(mm)距离(mm)3 3 缺陷总数要求缺陷总数要求单一零部件每个面允许有1 1 个允收缺陷种类，但色差等缺陷不计入种类统计。 A 类标准外观总缺陷不超过 2 个，B 类标准外观总缺陷不超过3 个。4 4 终端终端 耳机产品外观检验标准耳机产品外观检验标准外观不良外观不良项项同色点备注备注A A 级标准级标准D0.25,N2,DS15B B 级标准级标准D0.30,
3、N2,DS15（1）两个及两个以上的点缺陷之间距离不能小于15mm；（2）0.1D0.15 缺陷点的数量 N3时定义为麻点。（1） 当 w0.02mm时，细划伤忽略异色点D0.20, N2,DS15单位面积（100mm2）表示内 N=3 时允许有 1D0.25, N2,DS15单位面积（100mm ）表示内 N=3 时允许有1 处，大于 3 时不允许。在 10mm10mm的单位面积内，D0.1 的缺陷点的数量N3 则不计。2麻点处，大于 3 时不允许。在 10mm10mm 的单位面积内，D0.1 的缺陷点的数量 N3 则不计。细划伤耳塞壳体、咪壳、领夹、接听键L3.0,W0.05, N1耳塞壳
4、体、咪壳、 L3.0,W0.10,领夹、接听键N1插头、插头端子L1.0,W0.05, N1插头、插头端子L1.0,W0.10,N1L10.0,W0.15,N3不允许不计；（2）划伤之间距离不能小于15mm；当碰伤以点状形式存在时，以点缺陷规格要求。线缆耳塞壳体、咪壳、领夹、接听键插头、插头端子L5.0,W0.15, N3线缆耳塞壳体、咪壳、领夹、接听键不允许硬划伤不允许插头、插头端子不允许线缆点状L5.0,W0.10,N1线缆点状D0.6,DS25,N3L5.0,W0.10,N1不管控/线状压痕（线缆）扎带痕L3,W1.0,DS25,N2线状不管控扎带痕允许但需依据签样。允许但需依据签样。1
5、.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体:H0.1且不刮手2.插头外模壳/SR（老鼠尾） ：H0.15不可擦除脏污：不允许/修饰不良（合模线、毛边等）脏污1.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体：H0.1且不刮手2.插头外模壳/SR（老鼠尾） ：H0.15不可擦除脏污：不允许可擦除脏污：脏污比例5%(抽检比例)可擦除脏污：脏污比例15%(抽检比例)不允许不允许如插头、 PIN 针等断裂、变形、生锈、氧化参照 ID 签样或限度样色差粗细不均（印刷或镭雕）图文倾斜其他缺陷参照 ID 签样或限度样/|W1- W 2|0.1W1，即对标准 W1 允许的文字的不均匀度为10%（W1 为设计尺寸，W2为实际尺寸）倾斜不超过 1
6、.5 度若有争议，可参照签样。/4.14.1终端耳机整机外观检验要求终端耳机整机外观检验要求4.1.1 间隙要求：耳塞胶套与 耳塞骨 架A A类标准0.15mmB B类标准0.20mm备注不能看到喇叭缺口（不含美工间隙）耳塞胶套与耳塞骨架台阶0.15mm0.20mm测量时耳 塞与眼睛在同一高度，耳塞背部(L或R一面)正对眼睛。耳塞上下壳咪壳上下壳咪壳与SR（老鼠尾）0.15mm0.15mm0.20mm0.20mm0.20mm0.25mm/测量时耳麦正常放置在水平桌面上插头注塑外模与连接器0.15mm0.15mm适用于20pin插头耳机4.1.2 段差要求：装配超声波(高度差)溢胶（高度差）备注（示例）A A类标准0.10mm0.20mm0.10mmB B类标准0.20mm0.20mm0.10mm备注软胶塞比耳机胶塞座直径大/ / /3. 接听按键、音量键、开机键等能正常按下（滑动）和弹起，不允许出现按不动（死键）