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1、NORME CE1 INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD IEC 1545 Premire dition First edition 1996-01 PUBLICATION GROUPE DE SCURIT GROUP SAFETY PUBLICATION Dispositifs de connexion - Dispositifs pour la connexion des cbles en aluminium dans des organes de serrage en matire quelconque et des cbles en cuivre
2、dans des organes de serrage en aluminium Connecting devices - Devices for the connection of aluminium conductors in clamping units of any material and copper conductors in aluminium bodied clamping units Numro de rfrence Reference number CEMEC 1545: 1996 Copyright International Electrotechnical Comm
3、ission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:03:08 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes
4、 partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la
5、 publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont dis
6、ponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des pub
7、lications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au , de la CEI* et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabula
8、ire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux a utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, r
9、elev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse 225 45 105 185 320 45 85 155 240 11.7.7.8 Lespace entre les conducteurs de rfrence et dessai doit tre au moins de 150 mm. 1 1.7.7.9 Les spcimens dessai doivent tre suspendus soit horizont
10、alement soit verticalement lair libre, par fixation des galiseurs ou des barres de connexion au moyen de supports non conducteurs, de faGon que les organes de serrage ne soient pas soumis un effort de traction. Des barrires thermiques doivent tre installes mi-distance entre les conducteurs, et doive
11、nt dpasser de 25 mm * 5 mm en largeur et 150 mm 2 YO mm en longueur depuis lorgane de serrage (voir figure .Y). Les barrires thermiques ne sont pas ncessaires si les specimens sont spares par une distance dau moins 450 mm. Les spcimens doivent tre situs a au moins 600 mm du plancher, du mur ou du+pl
12、afond. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:03:08 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 1545 O IEC:1996 - 49 - Conductor size Co
13、nductor size Minimum mm2 conductor length mm sa I 10,o 200 6 to 3 2 16,O up to 5 25,O 300 2 to o 2 350 up to I50,O 460 AWG k 11.7.7.3 The conducting part(s) shall be soldered, brazed, welded or bolted together with a screw and nut whose head diameter does not exceed the width of the conducting pat?(
14、s). The screw length protruding from the nut shall not be larger than the diameter of the screw. Range of test current A 0-50 51 -125 126 - 225 225 11.7.7.4 equalizer bar shall be as in table 7 1. The length of the test conductor from the point of entry to the clamping unit to the Maximum cross-sect
15、ion mm2 Aluminium Copper 45 45 105 a5 i a5 155 320 240 11.7.7.5 rise test are connected in series with a reference conductor of the same cross-section. Test conductors having the same cross-sections as those used for the temperature 11.7.7.6 length of the test conductor. The length of the reference
16、conductor shall be approximately at least twice the 11.7.7.7 Each free end of the test and reference conductor(s) not connected to a clamping unit shall be welded or brazed to a short length of an equalizer bar of the same material as the conductor and of cross-section not greater than that given in
17、 table 12. All strands of the conductor shall be welded or brazed to make a thorough electrical connection with the bar. A tool-applied compression type termination without welding may be used for the equalizer if acceptable to the manufacturer and if the same performance is provided. Table 12 - Equ
18、alizer bar and busbar dimensions 11.7.7.8 The separation between the test and reference conductors shall be at least 150 mm. 11.7.7.9 The test specimens shall be suspended either horizontally or vertically in free air by supporting the equalizer bar or busbar by non-conductive supports so as not to
19、subject the clamping unit to a tensile load. Thermal barriers shall be installed midpoint between the conductors which shall extend 25 mm * 5 mm widthwise and 150 mm 10 mm lengthwise beyond the clamping units (see figure E.1). Thermal barriers are not required provided the specimens are separated by
20、 at least 450 mm. The specimens shall be located at least 600 mm from the floor, wall or ceiling. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:03:08 MSTNo reproduction or n
21、etworking permitted without license from IHS -,-,- - 50 - 1545 O CEi:1996 11.7.7.1 O Les spcimens doivent tre situs dans un environnement rellement exempt de vibrations ou de courants dair, a une temprature ambiante comprise entre 15 O C et 35 OC. Une fois lessai commenc, la variation ne doit pas dp
22、asser 14 K dans les limites permises. 1 1 . 7 . 8 Mesure de la temprature 1 1 . 7 . 8 . 1 O, 07 mm2 (approximativement 30 A WG) ou plus petit. Les mesures de temperature sont faites au moyen de thermocouples, en fil de 11.7.8.2 Pour les organes de serrage le thermocouple doit tre situ du ct de louve
23、rture de lorgane de serrage, a proximit de la surface de contact conducteur/organe de serrage. 11.7.8.3 du conducteur de rfrence, sous son isolation. Le thermocouple du conducteur de rfrence doit tre plac au milieu de la longueur 11.7.8.4 La mise en place du thermocouple ne doit endommager ni lorgan
24、e de serrage ni le conducteur de rfrence. NOTE - La fixation du thermocouple dans un perage de petit diamtre est une mthode convenable si les performances nen sont pas affectes et si le constructeur laccepte. 1 1.7.8.5 La temprature ambiante doit tre mesure avec deux thermocouples de telle manire qu
25、il soit possible dobtenir une valeur moyenne stable dans le voisinage de la boucle dessai, sans influence extrieure excessive. Les thermocouples doivent tre placs dans le mme plan horizontal que les spcimens, a une distance minimale de 600 mm. NOTE - Une mthode satisfaisante pour obtenir une mesure
26、stable est, par exemple, de fixer les thermocouples une plaque de cuivre non revtu denviron 50 mm x 50 mm et 6 mm 10 mm dpaisseur. 1 1 . 7 . 9 Evaluation des rsultats de lessai NOTE - Lvaluation des rsultats de lessai est base la fois sur la limite dchauffement des organes de serrage et la variation
27、 de temprature pendant la totalit de lessai. Pour chaque organe de serrage: - lchauffement ne doit pas dpasser 110 K. - le coefficient de stabilit S ne doit pas dpasser 210 K. La conformit est vrifie par les essais de 11.7.9.1 et 11.7.9.2. 1 1 . 7 . 9 . 1 La boucle dessai doit tre soumise a 500 cycl
28、es dune heure sous courant et une heure sans courant, en commengant avec un courant alternatif gal a 1.12 fois la valeur du courant dessai dtermin en 11.5. Vers la fin de chaque priode avec passage de courant lors des 24 premiers cycles, le courant doit tre ajust de fagon a lever la temprature du co
29、nducteur de rfrence jusqua 75 OC. Au 25e cycle le courant doit tre ajust pour la dernire fois et la temprature une fois stable doit tre enregistre comme premiere mesure. II ne doit y avoir aucun autre ajustement du courant dessai pendant la suite de lessai. Les tempratures doivent tre enregistres au
30、 cours dun cycle au moins chaque jour de travail, et aprs approximativement 25, 50, 75, 100, 125, 175, 225, 275, 350, 425 et 500 cycles. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/0
31、8/2007 19:03:08 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 1545 O IEC:1996 -51 - 1 1.7.7.1 O The test specimens shall be located in a substantially vibration and draught-free environment and at an ambient temperature between 15 “C and 35 “C. Once the test is started th
32、e permissible variation is 14 K provided the range limitation is not exceeded. 11.7.8 Temperature measuring 11.7.8.1 Temperature measurements are made by means of thermocouples, 0,07 mm* (approximately 30 A WG) or smaller wire. 11.7.8.2 side of the clamping unit close to the conductor/clamping unit
33、contact interface. For the clamping units, the thermocouple shall be located on the conductor entry 1 1.7.8.3 ends of the conductor and under its insulation. For the reference conductor, the thermocouple shall be located midway between the 11.7.8.4 Positioning of the thermocouple shall not damage th
34、e clamping unit or the reference conductor. NOTE - Drilling of a small hole and subsequent fastening of the thermocouple is an acceptable method provided performance is not affected and it is acceptable to the manufacturer. 11.7.8.5 The ambient temperature shall be measured with two thermocouples in
35、 such a manner as to achieve an average and stable reading in the vicinity of the test loop without undue external influence. The thermocouples shall be located in a horizontal plane intersecting the specimens and a minimum of 600 mm away. NOTE - A satisfactory method for achieving a stable measurem
36、ent is for example to attach the thermocouples to unplated copper plates approximately 50 mm x 50 mm and 6 mm to 1 O mm thick. 11.7.9 Tests and acceptance criteria NOTE - Evaluation of performance is based on both the limit of clamping unit temperature rise and temperature variation during the entir
37、e test. For each clamping unit: - the temperature rise shall not exceed 110 K; - the stability factor S shall not exceed 110 K. Compliance is checked by 11.7.9.1 and 11.7.9.2. 11.7.9.1 The test loop shall be subjected to 500 cycles of equal one hour current-on and one hour current-off operations sta
38、rting at an a.c. current equal to 1.12 times the test current value determined in 11.5. Near the end of each current-on period for the first 24 cycles, the current shall subsequently be adjusted to raise the temperature of the reference conductor to 75 O C . At the 25th cycle the test current shall
39、be adjusted for the last time and the stable temperature shall be recorded as the first measurement. There shall be no further adjustment of the test current for the remainder of the test. Temperatures shall be recorded for at least approximately 25, 50, 75, 100, 125, 175, 225, 275, 350, 425 and 500
40、 cycles. one cycle of each working day, and after Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:03:08 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-
41、,- - 52 - 1545 O CEI:1996 Les tempratures doivent tre mesures durant les cinq dernires minutes de la priode sous courant. Si la taille du lot de specimens dessai ou la vitesse du systme dacquisition de donnes ne permettent pas deffectuer la totalit des mesures dans les cinq minutes, la priode sous c
42、ourant devra tre augmente jusqu pouvoir terminer les mesures. La priode sans courant peut tre raccourcie aprs les premiers 25 cycles dessai 5 min de plus que le temps maximal pass par chaque organe de serrage pour atteindre une temprature stable gale la temperature ambiante 5 K prs, durant la priode
43、 sans courant. Une ventilation force peut tre utilise pour rduire la priode sans courant si cette mthode est accepte par le constructeur. Dans ce cas, elle doit tre applique a lensemble de la boucle dessai et ne doit pas tre une temprature infrieure la temprature ambiante. 11.7.9.2 Le coefficient de
44、 stabilit S pour chacune des 11 mesures de temprature de 11.7.9.1 est dtermin par soustraction algbrique de lcart moyen de temprature D la valeur de lcart de temprature d. Lcart de temprature d pour les 11 mesures individuelles est obtenu par soustraction de la temprature du conducteur de rfrence de
45、 la temprature de lorgane de serrage. NOTE - La valeur de d est positive si la temprature de lorgane de serrage est plus leve que la temprature du conducteur de reference, et ngative dans le cas contraire. Tableau 13 - Exemple de calcul pour un organe de serrage Nombre de cycles a 25 50 75 1 O0 125
46、175 225 275 350 425 500 Somme d= +9 _ Organe de serrage b 79 78 76 77 79 78 77 77 81 ao 7a Temprature “C S = d - D I d=b-C I Conducteur de rfrence c 78 77 78 77 77 77 76 76 79 78 78 1 3 O -1 O 1 3 2 -1 -2 3 o,i a 2,ia -0,82 -1,82 -0,82 0,18 1,18 2,ia -i ,a2 -2,82 2,18 D = moyenne d = +9/11 = +0,82 1
47、2 Rsistance la corrosion A ltude. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 19:03:08 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 1545 O IEC:19
48、96 - 53 - Temperatures shall be measured during the last five minutes of the current on-time. If the size of the test specimen set or the speed of the data acquisition system is such that not all measurements can be completed within 5 min, the current on-time shall be extended as necessary to complete such measurements. The current-off time may be reduced