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1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61275 Premire dition First edition 1997-09 Instrumentation pour la radioprotection Analyse des radionuclides discrets prsents dans lenvironnement Systme de spectromtrie gamma in situ utilisant un dtecteur au germanium Radiation protection instrumen
2、tation Measurement of discrete radionuclides in the environment In situ photon spectrometry system using a germanium detector Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61275:1997 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/11111110
3、01, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:17:33 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numros des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certain
4、es publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsen
5、te publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvisions,
6、 ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CEI et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CEI Annuaire de la CEI Accs en ligne* Catalogue des publications de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement (Accs en ligne)* Term
7、inologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la
8、CEI 60027: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schmas. Publications de la CEI tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecte
9、ur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CEI prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. * Voir adresse site web sur la page de titre. Numbering As from the 1st January 1997 all IEC publications are issued with a design
10、ation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication
11、incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the
12、 IEC catalogue. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook On-line access* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line acces
13、s)* Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter s
14、ymbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is drawn to the end page
15、s of this publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. * See web site address on title page. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=
16、Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:17:33 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 61275 Premire dition First edition 1997-09 Instrumentation pour la radioprotection Analyse des radionuclides discrets prsents
17、 dans lenvironnement Systme de spectromtrie gamma in situ utilisant un dtecteur au germanium Radiation protection instrumentation Measurement of discrete radionuclides in the environment In situ photon spectrometry system using a germanium detector Commission Electrotechnique Internationale Internat
18、ional Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 1997 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectr
19、onique ou mcanique, y compris la photo- copie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. Inte
20、rnational Electrotechnical Commission3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http: /www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEU Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, Use
21、r=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:17:33 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 61275 CEI:1997 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS 6 Articles 1 Domaine dapplication et objet 8 2 Rfrences normatives.8 3 Terminologie 10 4 Conception gnrale.16 4.1Instrument de bas
22、e 16 4.2 Choix du systme 16 5 Classification des caractristiques de fonctionnement.16 6 Procdures gnrales dessais .18 6.1 Nature des essais 18 6.2 Conditions de rfrence et conditions normales dessais 18 6.3 Position de lappareil pour les essais18 6.4 Mesures de faible niveau .18 6.5 Fluctuations sta
23、tistiques.18 6.6 Rayonnement de rfrence 18 7 Caractristiques gnrales .20 7.1 Indications .20 7.2 Marquages de lensemble.20 7.3 Etendue effective de mesure de lappareil 20 7.4 Refroidissement du dtecteur.20 7.5 Type de dtecteur20 7.6 Enveloppe du dtecteur .20 7.7 Construction du dtecteur 20 7.8 Suppo
24、rt22 7.9 Facilit de dcontamination22 7.10 Considrations relatives la scurit .22 8 Caractristiques radiologiques22 8.1 Erreur relative intrinsque 22 8.2 Variation de la rponse en fonction de lnergie du rayonnement photonique 22 8.3 Variation de la rponse avec langle dincidence .24 8.4 Rsolution .24 8
25、.5 Efficacit relative .24 8.6 Bruit de fond d la contamination de lensemble de mesure.26 9 Caractristiques lectriques26 9.1 Fluctuations statistiques.26 9.2 Temps de prchauffage .26 9.3 Alimentation lectrique Fonctionnement sur batterie28 9.4 Alimentation lectrique par le secteur.28 Copyright Intern
26、ational Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:17:33 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61275 IEC:1997 3 CONTENTS Page FOREWORD.7 Clause 1 Scope and ob
27、ject9 2 Normative references .9 3 Terminology .11 4 General design.17 4.1 Basic instrument 17 4.2 Choice of system .17 5 Classification of the performance characteristics.17 6 General test procedures .19 6.1 Nature of tests .19 6.2 Reference conditions and standard test conditions .19 6.3 Position o
28、f assembly for purposes of tests19 6.4 Low-level measurements19 6.5 Statistical fluctuations 19 6.6 Reference radiation19 7 General characteristics.21 7.1 Indication.21 7.2 Assembly markings21 7.3 Effective range of measurement of an assembly.21 7.4 Detector cooling.21 7.5 Detector type .21 7.6 Dete
29、ctor housing21 7.7 Detector construction.21 7.8 Tripod23 7.9 Ease of decontamination23 7.10 Safety considerations.23 8 Radiation characteristics.23 8.1 Relative intrinsic error 23 8.2 Variation of response with photon radiation energy.23 8.3 Variation of response with angle of incidence .25 8.4 Reso
30、lution .25 8.5 Relative efficiency25 8.6 Background contamination from the instrument assembly.27 9 Electrical characteristics.27 9.1 Statistical fluctuations 27 9.2 Warm-up time27 9.3 Power supplies Battery operation 29 9.4 Power supplies Mains operation 29 Copyright International Electrotechnical
31、Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:17:33 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 61275 CEI:1997 ArticlesPages 10 Caractristiques mcaniques30 10.1 Rsistance aux vibrati
32、ons et aux chocs pendant le transport et le chargement30 11 Prescriptions environnementales et essais34 11.1 Prescriptions et essais aux tempratures extrmes .34 11.2 Influence de lhumidit relative (HR) 34 11.3 Prescriptions de rsistance au vent et essais 36 11.4 Prescriptions dtanchit des emballages
33、 36 11.5 Rsistance du dtecteur aux cycles thermiques.36 11.6 Influence de la pression atmosphrique.36 11.7 Prescriptions dtanchit des matriels36 11.8 Champs lectromagntiques externes.36 11.9 Champs magntiques externes .36 11.10 Stockage et transport38 12 Rsum des caractristiques38 13 Documentation .
34、38 13.1 Certificat38 13.2 Notice dutilisation38 Tableaux 1Conditions de rfrence et conditions normales dessais.40 2Essais effectus avec variation des grandeurs dinfluence.42 3Performances mcaniques dans les conditions dessai44 4Essais de capacit de survie diffrentes frquences fixes de vibration44 5E
35、ssais de rsistance aux vibrations des frquences variant lentement44 A.1 Paramtre donnant les valeurs du flux en fonction du profil en profondeur.50 C.1 Taux de comptage dans le pic dabsorption totale par unit dactivit surfacique en impulsionsmin1/kBqm254 Figure 1 Distribution angulaire du flux incid
36、ent 46 Annexes AUtilisation et interprtation des donnes .48 BRponse du dtecteur en fonction de sa taille, de sa forme et de son efficacit relative52 CTaux de comptage attendus dans le pic dabsorption totale par unit dactivit de dpt pour des radionuclides dtermins rcemment dposs .54 Copyright Interna
37、tional Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:17:33 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 61275 IEC:1997 5 ClausePage 10 Mechanical characteristics31 10.1
38、 Vibration and shock survival during transport and shipping .31 11 Environmental requirements and tests 35 11.1 Requirements and tests at temperature extremes35 11.2 Influence of relative humidity (RH).35 11.3 Wind resistance requirements and tests 37 11.4 Waterproof requirements.37 11.5 Temperature
39、 cycling of detector 37 11.6 Influence of atmospheric pressure.37 11.7 Sealing requirements 37 11.8 External electromagnetic fields37 11.9 External magnetic fields 37 11.10 Storage and transport .39 12 Summary of characteristics.39 13 Documentation .39 13.1 Certificate39 13.2 Instruction manual 39 T
40、ables 1Reference and standard test conditions .41 2Tests performed with variations of influence quantities43 3Mechanical performance under test conditions45 4Tests for vibrating survival capability at various fixed frequencies45 5Tests for vibration resistance at smoothly varying frequencies.45 A.1
41、Flux versus depth profile parameter51 C.1 Total absorption peak count rate per minute per kBqm255 Figure 1 Angular distribution of incident flux47 Annexes AData interpretation and use.49 BEstimation of detector response from detector size, shape and relative efficiency53 CExpected total absorption p
42、eak count rates per unit deposition for selected freshly deposited radionuclides 55 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/09/2007 00:17:33 MSTNo reproduction or networking perm
43、itted without license from IHS -,-,- 6 61275 CEI:1997 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ INSTRUMENTATION POUR LA RADIOPROTECTION ANALYSE DES RADIONUCLIDES DISCRETS PRSENTS DANS LENVIRONNEMENT SYSTME DE SPECTROMTRIE GAMMA IN SITU UTILISANT UN DTECTEUR AU GERMANIUM AVANT-PROPOS 1)La CEI (Comm
44、ission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines d
45、e llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et no
46、n gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2)Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questio
47、ns techniques reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3)Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4)Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les