QB-T-3819-1999.pdf

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1、分类号: Y 7 3 qB 中 华 人 民 共 和 国 轻 口 巳行 业 标 准 Q B / T 3 8 1 9 一1 9 9 9 轻工产品金属镀层化学处理层的 厚度测试方法 p 射线反向 散射法 1 9 9 9 - 0 4 - 2 1 发布1 9 9 9 - 0 4 - 2 1 实施 国 家 轻 工 业 局发布 QB / T 3 8 1 9 一1 9 9 9 日 明舀 本 标 准 是 原 国 家 标 准G B 5 9 3 1 一 1 9 8 6 ( 轻 工 产 品 金 属 镀 层 化 学 处 理 层的 厚 度 测 试 方 法 p 射 线 反向 散射 法 ，经由国 轻 1 9 9 9 ) 1

2、1 2 号文发布 转化标准号为Q B / T 3 8 1 9 -1 9 9 9 ，内 容不 变。 本标准由 国家轻 工业局行业管理司 提出。 本标准由全国日用五金标准化中心归口。 本标准由 上海市日 用五金工业研 究所、 上海市轻 工业研究 所负责起草。 本标准主要起草人:何长林、张福林、董子成 。 中华人民共和国轻工行业标准 轻工产品金属镀层和化学处理层的 厚度测试方法 日射线反向散射法 QB/ T 3 8 1 9 一1 9 9 9 I SO 8 5 1 8 - 1 8 8 1 T h i c k n e s s t e s t i n g me t h o d o f t h e m e

3、t a l d e p o s i t s a n d c o n v e r s i o n c o a t i n g s f o r t h e l ig h t I n d u s t r i a l p r o d u c t s pR a y b a c k s c a t t e r i n g 本 标 准详 细说 明应用p 射线反向 散射 仪器 无损侧 量覆盖 层厚 度的方 法。 本标 准等 同采 用国际 标准I S 0 3 5 4 3 -1 9 8 1 金属 和非 金属保 护层厚 度的 测定日反向 散 射法 。 1 应用范围 本 方法适 用于 测量金 属或非 金属 基体上 的

4、金属 和非金 属 覆盖层 的厚度 。使用 本方法 ，对班 盖层和 基体的原子量或等值原子量应该相差一个适当的数值。 2 本标准中采用的有关名词定义 2 . 1放 射性衰 减:一 种自 然 的核蜕变 。蜕变 中放射 粒子 或Y 射 线， 或A 白 着轨道电 子 捕获而发射x 射 线，或原子核发生自然的裂变。 2 . 2 S 粒 子: 日 粒子 是带 正或 带负电 荷的电 子，它 是在 核蜕变 过程中 由原 子核或中 子发射 的。 2 . 3发射p 的同位 素、 p 发 射源 、p 发射 体: 一种其 核发 射日 粒 子 的物质。 日 发射体 可以 按其 蜕变 时释放出 来 的粒子最 大能级 分类

5、 。 2 . 电子伏特: 是一个能量单位， 等于一个电子通过电位差为 1 伏的能最变化( 1 电子伏特=1 . 6 0 2 x 1 0 - 1 9 焦耳) 。因 为这 个单 位对 所遇到 的p 拉 子来说 太小， 所以 通常用 百万电 子伏特 ( M e v )表 示。 2 . 5 放射性强度: 在一个适当小的时间间隔内， 一定数量物质发生的自然蜕变数除以该时间间隔。 所以 在p 反向 散 射测量中 ， 放射 性强度 越高， 相应的p 粒子 发射 就越多 。 放 射性 强度 的国际 单位 是贝克 勒尔 ( B q ) ， 用在p 反向 散射 仪器 的放射 元素的 放射性 强度通常以 微 居里

6、印C i ) 表 示，1 微居里( 1 P C i 二 3 . 7 x 1 0 0 B q ) 表 示每秒 钟有3 . 7 x 1 0 0 个 蜕变。 2 . 6 半衰期:对一个放射衰减过程，它的放射性强度减少到它原来数值一半所需的时间。 2了 散射:人射的粒子 或射线与粒子或许多粒子碰撞而使其方向或能量发生变化的过程。 2 . 8 反向散射:拉子从它进人物体的同一表面离开该物体的散射。 之 二 物体的反向散射系数R :物体反向散射的拉子数与人射粒子数之比。 R与同位素的放射性强度和测盘时间无关。 2 . 1 0 反向散射计数 2 . 1 0 . 1 绝对反向散射计数s :在一个规定的时间间隔

7、内，检测器接收到的反射粒子数。 r 与同位素的放射性强度、 测量时间、 侧量系统的几何形状、 检测器的性能等有关。通常，设未覆 盖基体得到的计数为二 。 ，由覆盖层材料得到的计数为 s 为了得到这些数值， 基体和彼盖层的厚度都 应超过其饱和厚度。 国家轻工业局 1 9 9 9 - 0 4 - 2 1发布 1 9 9 9 - 0 4 - 2 1实施 QB / T 3 8 1 9 一1 9 9 9 2 . 1 0 . 2 归一 化反射 计数x n : 一 个与同位 素的放射 性强 度、 测量时间 和检 测器 性能 无关的数 值，它 由下式计算: 刃 一士 。 S s一 工0 式中: 二 。 基 体

8、材料在饱 和厚度时 的绝对反 向散射计 数， 二 : 覆 盖层材料 在饱和厚 度时的绝 对反向散 射计数， x 有 覆盖层试 样的反向散 射计数 。 每 次计 数从相同 的时间间隔 取得。为 简便 起见，通 常将x乘1 0 0 后，把归一化反射计 数作为 一个 百分数表示。 2 . ” 归 一化反 向散射曲线: 把覆 盖层厚 度作为 工 。 的函 数绘出的曲 线。 2 . 1 2 等 效 ( 视在)原子 序数: 一种可 能是 合金或化合 物的材 料，如 果某一 元素的反向散射系 数R 与这 种材 料相同， 则该元 素的原 子 序数可视为 这种材料 的等 效原子序数。 2 . 1 3 饱和厚度:

9、当散射体厚度的增加，而所产生的反向散射不再改变，这一种情况下的材料最/ 1 , 厚 度值 即饱和厚 度。 2 . 1 4 密封的射线源:放射源被密封在一个具有牢固结合的盖子的容器内。为了在使用和磨损的条 件下，防止放射性材料泄漏和与人接触，容器和盖子应该配合得很坚固。 密 封射线源 也可 称为 密封的同 位素。 2 . 1 5 孔眼: 支撑试样 障板的开口 ，决 定试样被测 厚度面 积的尺寸。 ( 这障板也 被称为台板、 开孔 的 台板或试样支座) 。 2 . 1 6 放射源的几何结构:指放射源、开孔台板和检侧器的空间配置。 2 . 1 7 死区 时间: 盖革一 弥 勒计数管对 接收更多 的粒

10、子不 再有 反应的那个 时间间隔。 2 . 1 8 分辨时间:盖革 一 弥勒计数管及其连接的电子装置当计数电路对输人更多的脉冲不再产生响 应的恢复时间。 3 原理 当日粒 子射到 材料上， 其中一部 分被反向 散射。这 反向散 射基本上是该 材料原子 序数的 函数。如 果 物体表 面有覆盖 层，基 体与 覆盖材 料的原子 序数相差又 足够大 ，那末，反 散射的强度 将在 基体与授 盖 层反 向散 射强 度之间 。用适当 的仪 器显示， 就可以 根 据反向 散射强度测出 每一单位面 积理盖层的质 量，如果覆盖层的密度均匀，它就与厚度成正比，即与被测面积内的平均厚度成正比。 表 示覆盖层厚 度与日

11、 反向散射 强度关系 的曲 线是 连续的， 并且可以 细分为三个区 域。如图1 所示， 二 轴为 归一 化计数X . , Y 轴为对 数坐标表 示的覆盖 层厚度。 在。 x n 0 . 3 5 区 域， 曲 线基本呈 线性， 在 。 . 3 5 x n 0 . 8 5 区 域，曲 线基本呈对 数，也就 是说，当 描绘到 半对数 坐标 纸上，如 图1 所示，曲 线 近似为直线。在0 . 8 5 x n 1 区域，曲线近似为双曲线形状。 QB/ T 3 8 1 9 一1 9 9 9 具有饱和厚度的蔫休具有饱和厚度 的扭盖层 夕火 长 洛次/一5060 S* 1|I.卜1/1/ !翻筱9侧脸翅润口

12、1 0 2 0 30 4 0 7 0 8 0 0 0 1 0 0 标 准反向徽射计数“1 0 0 图 1 典型标准反向散射曲线图 t 仪器 通常一个日反向散射仪器由下部分组成: ( a ) 一 个主要发 射日 粒 子的放 射源。0 粒 子的能量 应适合于被测 覆盖 层的厚 度。 ( b ) 一 个测头或 测量系 统。 它 应该具有一系列 的孔眼， 以 便限制日 粒子 射在 试样上的被测厚 度覆 盖 的表面 。它还应包 括一个可以 对反向散射 粒子计数 的检侧器， 例如盖革一 弥勒计数 器( 或计数管) 。 ( c ) 一个显示反向散射强度的读数仪表。 它可以是仪表读数的或数字显示的。 读数可以

13、是绝对计 数或 绝对归一 化计 数， 也可以 是以厚度 单位或单位面 积上 的质 量来 表示的 覆盖层厚度。 5 影响测f精度的因 素 51 计数的统计 放射 性衰减以一 种随机 的方式 发生， 这就意 味着在 每一个 固定的时 间间隔内，反向 散射的0 粒子 数 将不总是 一样的。 引起统 计误差在 所难免。因此，以 短的计 数间隔 ( 例如5 秒) 得到的计数率 数值 可 能以 较长 的计 数周期得到 的数 值有 较大的差 异， 特别当 计 数率低的时 候。为了 减少统计误差到可以 接受的程度，必须采用一个足够长的时间间隔，使之能积累一个足够的计数。 对通常取得的计数，标准偏差 ( S)很

14、接近此计数绝对数的平方根，即d _ 气 在百分之九十五 的情况下 ，正确的 计数在x 士 2 6 以内 。为 了判断 精度，往往 将标准偏差 表示为计 数的一个百分数 。这 样1 0 0 0 0 0 个计数给出的数值将比 1 0 0 。 个计数精确十倍。无论什么时候，选择的计数时间间隔至少应该 能供给1 0 0 0 0 个计数， 这相当于放射性衰减的随机性质所引起的标准偏差为1 %。 直 接读该 数的仪器也 有这些 统计的随机误 差，但是如 果这些仪 器不能显示实 际的计数 率， 确定测 量 精度的一种 方法，是对 一已有 覆盖层的试样 的同 一部位 进行多次重 复测最，然 后用常规的方法 计

15、算 QB/ T 3 8 1 9 一1 9 9 9 其标准偏差。 0 反向散 射测量厚 度的精度， 总是低于上 述精度，因为 它还 与下列一些因 素有关。 5 . 2 覆盖 层和基 体的材料 由于 反向散 射强度与 基体和彼盖 层原子 序数有关，侧 量精度 将在很大 程度上 取决于 这些原子 序数 的差 别。这样， 如果测 盘参数相同， 则它们 的原子序数相 差越大 ，测量就 越精确。 根据经验， 对于大多 数的应用表 明，基 休和镀层原子 序数之差 不应少于5 。原子 序数低于2 0 的材 料，差值可以降低到较高的那个原子序数的2 5 %s原子序数高于4o的材料，这个差值至少为较高的那 个原

16、子 序数 的1 0 % ，大 多数无 填充 塑料和 相近的有 机材 料 ( 如 感光性树 脂) ， 可以 假定它们的等 效原子 序数近似为5( 附录B给出常用覆盖层和基体材料的原了 序数) 。 59 孔眼 不管商业上的反向散射仪器的放射源的准直特性如何，检测器记录到的反向散射，几乎总是为暴 露于障板 孔眼的那 部分试 样所产生的反 向散射的 总和。所以 应用具有 低原子 序数材 料的台 板并选择尽 可能大 的孔眼更为 有利。然 而，如果孑 L & 良 的边 缘磨损或 损坏，或者 试样不能与 边缘适当 的接触，仍然 会产生测最误差。 为了 避免另一 个变量 即试样的尺寸 的影 响. 试样上 的

17、测量面 积应 该不变， 也就是说，孔眼应该比 被测表面的面积要小。 5 . 4 援 盖层厚度 5 . 4 . 1在对数区 域，相对测 量误差 近似不变，且为 最小值。 5 . 4 . 2 在线性区 域， 以单位面 积质量或 厚度表示 的绝对测 量误 差近似不变 。 这就意味着随着覆 盖层 厚度减少，相对误差增加。靠近二 。 = 0 . 3 5 的地方，线性区和对数区的相对误差大致相等。这就念味着 为了实用目的，可以用该点的相对误差来计算整个线性区域的绝对误差。 5 . 4 . 8 在双曲 线区域， 测量误差 总是比较大，因为 日 反向 散射强度 的一 个较 小变化 将使被测 覆盖层 厚度的测盘

18、值产生一个大的变化。 5 . 5 检测器 的分辨 时间 因为盖革一 弥勒计数管有死区时间( 2 . 1 7 ) ,读数仪表显示的计数总是低于用其他方法所得的实际 的p 拉子 反向散射 计数。 除非计数率 很高 ，它才不 致于降低测 量精度。 5 . 8放射源的几 何形 状 放射源 相对 于试样 的某一个 位置放置，可以 获得最好的 测量精 度。这个位置与日 拉子束的对准、 孔眼的部位、形状和尺寸有关。如果可能，射线的反向散射大部分应该来自试样，而不是来自台板。 通常，当 同 位素安在有孑 L 眼的台板上 ，并被调节 到最 佳位 置时。测fi t 误 差可 以减到 最小。安装放射源 必须 严格遵

19、 守说明书的 规定。 5 . 7 曲率 这个方 法对试样 的曲 率敏感 ，但是如果 试样表面 八人 台板孔 眼的尺寸不 超过5 0 微米，或者用具有 与 试样相同 的曲率的 标样进行过 校正 ，则归一 化反向散射曲 线仍 然相同。应用专 门选 择的孑 L 眼台板或 障 板，并 预先安装同 位素在一 个固定的最 佳位置，平d ii 或曲 面试 样就可 以得到 近似相同的读数，这就 可以把平面校正标准用于曲面试样的测量中。 最大孔眼尺寸和试样表面曲率的关系，大多数情况下，每种仪器是不同的。因此这方面的资料最 好从制造者取得。 5 . 8 基体厚度 5 1 覆 盖层和基 体材料之间没有 中间层的试

20、样 这种试验方法对基体厚度敏感。但对于每一种同位素和材料都有一个临界厚度， 称为“ 饱和11 A 度” 。 超过这个厚 度，基体厚 度增加，将 不再影响测量 。饱和厚度取 决于同位 素的能量和材料的密 度， 材料 的原子 序数影 响很 小。 如果仪 器制造者没有 提供这些 数据，则应 根据实验 确定。 如果基体厚度小于饱和厚度，但不变，通常经过荃体校正后，不影响测最精度。但是如果基体厚 QB / T 3 8 1 9 一1 9 9 9 度小于饱和厚度，而且是变化的，这个方法就得不到一个单一的覆盖层厚度值，而是一个具有上下限 的厚 度范围。如 果读 数仪表 能够 显示绝对或归 一化反向散 射计 数

21、率，当没 有实际 的标准时，也 可应用 简化 的图表来 决定每一 基 体厚度的这 个范围 。如果制 造者 没有 提供这个 范围的 数据，则需要通 过实验 决定。 5 . 8 . 2 覆盖层与基体材料之间有中间层的试样 如果紧 靠覆盖层 的中 间层的 厚度大于 其饱和厚度 ，基体 厚度的任 何变化对 试验方法没有 影响，仪 器只需用中层覆盖层作为基体材料的标准进行校正。 如 果中 间层的厚 度小 于饱 和厚度， 但不变， 通常经过基 体校正后 ，不 影响测 量情度。如 果中间 层 的厚度小于饱和厚度，而且是变化的，这个方法就得不到一个单一的覆盖层厚度值，而是一个具有上 下限的厚度范围。如果读数仪

22、表能够显示绝对或归一化的反向散射计数率，当没有实际标准时，也可 以 应用 简化的图表来 决 定每一 基体厚 度的这个范 围。如果 制造者没 有提供 这个范 围的数据，则需要 通 过实验决定。 5 . 9 表面清洁度 灰 尘、油 脂、腐 蚀产 物等外来 杂质可能 产生错误的 读数。某 些金属镀 层上形 成的自 然氧化膜会 产 生低的读数，特别是当需要应用能量低于0 . 2 5 兆电子伏特的同位素进行测量吐 更是如此。 5 . 1 0 基 体材料 为了得到精确的读数，要求试样基体产生的反向散射和校正标准的反向散射相同。如果不同，就 要采用其他的校正标准，或者根据说明书进行适当的修正。 5 . ”

23、覆盖层材 料的密 度 日反向散射试验方法基本上是一种比较方法， 比较试样上覆盖层材料与标准上橙盖层材料单位面 积的质量。如果它们二者有差异，必须根据这些差异修正厚度读数。修正的方法是先用校正标准的覆 盖层密 度乘以 测得 的厚度 值， 然后用试 样的覆 盖层密度除以这 个乘 积。覆 盖层材料中 的孔隙和空洞也 可以改变材料的视在密度。 5 . 1 2 覆盖层 的成分 因 为覆盖层 的成分 影响 单位面积 覆盖层的 质量，也就 影响仪器 对于日 反向 散射量 的读数。如果合 金元素的密度彼此相近，例如钻一镍合金，这个影响可以忽略。当合金元素的量很少，如在高金合金 镀层中，影响也是很小的。 5 .

24、 1 3 日 粒子的能 量 对于 某一同 位素， 在整 个测量 范围，测 量精度是变化 的，但在 归一化日 反向散射曲 线 ( 见图1 ) 的对数部分精度最高。因此无论什么时候， 都应尽可能这样选择同位素， 使测量都落在标准曲线 0 . 3 5 x 0 . 8 5 的范围内 。 通常，对于合适的同位素源的选择，制造商已作了 说明。 5 . 材 测量时间 测量时间太短，测I精度不高，因此测量时间要根据要求的测量梢度选择。每当测量时间增加n 倍，计数的误差就减少到原值的1 / v l n - 5 . 1 5 放射源的放射性强度 计数率与放射源的放射性强度有关。旧的放射源放射性强度低，要使测量精确，

25、就需要特别长的 测量时间 ( 参看5 . 1 ) ,根据实际经验，放射源到半衰期就要更换。 5 . 1 6 覆盖 层一 基 休的组合 测量精度与覆盖层和基体之间的原子 序数之差有关。这个差别越大， 测量精度越高( 参看5 . 2 ) 0 5 . 1 7 表 面粗糙 度 rw盖层 表面粗糙 度能影 响测 量精度.但 通常可以忽 略不计， 特别是在日 粒子 的能量 高，而 覆盖层 的原子序 数低的时候。 QB/ T 3 8 1 9 一1 9 9 9 . 仪器的校正 二1 校正的次数 在 测量前或 每次测 量条件改 变的时候 ，p 反向散 射仪器都 要用 标准板进行 校正。使用 期间，至少 每4 小

26、 时要核对 上述校 正。而且 根据仪 器的稳 定性，至少 每小 时要在一 个点上校 正一次，这个 点通常 选在没 有祖盖 层的基 体材料上。 校正时要 注意第5 章所列 的因 素和第7 章中详述的 程序。 6 . 2 校正方法 除零点外 ，整个 校正曲线可 根据对 数区 域的两个点 校正 ，如果对 数区域的 斜率已 知，也可以 根据 对 数区域的一 个点来 校正，但前 者需要 两个校 正标准板 ，而 后者只要 一个。 二3 校正标准板 仪器应该用具有均匀粗盖层厚度的标准板校正，只要可能，这些标准板就应该有 5%或更高的精 确 度( 参 看 : . 2 ) 。 标 准 板 的 基 你 和 覆 盖

27、 层 材 料 的 原 子 序 数 应 该 与 试 样 的 原 子 序 数 相 同 或 等 效 。 相 应 的 未 祖盖的基 体材料和 覆盖层 材料的 标准板也 可考 虑为“ 校正 ”标准 。有时也可以 用覆盖层的 材料箔贴 在 基体上来 校正仪 器，这些箔 片也 应该清洁 、平滑、 厚度 均匀并能 与基体紧 密接触。 校正标准板基体的反向散射特性应与试样的反向散射特性相同，检验的方法是将校正标准板和未 覆盖的基体材料的反向散射强度比较。 如果标准板的扭盖层材料的原子序数与试样的原子序数相同或等效，但密度不同，此时，归一化 反 向散射曲 线实际上 将是 平行的。 在这种 情况下， 厚度的 测里应

28、 该按不同 的密度修正( 参看5 . 1 1 ) , 如 果材质不同 但日 反向 散射 性能 相同 的材料做 成等 效校正标 准板校正仪 器时，在 测最之前，应 该 确定它们的适用性。 6 . 4 基体 厚度 试 样和校 正标准板 的基体 厚度应该相 同，除 非它的厚 度 超过5 . 8 . 1 规定的饱和厚 度。 如果不同 ， 必 须进行适当的修正。 6 . 5 曲率 试样和 校正标准 板的曲 率应该相同 ，除 非能够证明 平面和曲 面试 样的读 数实 际上是相同的， 否则， 读数应该进行修正。 7 测t程序 7 . 1 校正和操作 每一仪器应按照说明书操作，注意列于第 5 章的因素，按照第

29、6 章进行校正。 当仪器投人使用，或在使用期间，按6 . 1 所规定的时间间隔，对仪器进行校正。 7 . 2 注意事项 7 . 2 . 1 基体厚度 基 体厚度应 该超过饱 和厚 度。如果没有 超过 ，要确 保用一个 与试样厚 度和性质相同 的基体来 进行 校正， 或者根 据5 . 8 所述的 程序修正 读数。 7 . 2 . 2 测量孑 山 良 测量孔眼的尺寸依赖于试样的形状和尺寸。制造者关于测量孔眼选择的建议应该遵循。测量的孔 眼决不 能大于 试样上 覆盖层 的有效面 积。试件 应该对着 测量孔稳 固可 靠地放 置， 除非是 进行连续或大 面积测量。 7 . 2 . 3 曲面试样 校核一下

30、测量孔眼，让它适合于试样的曲率半径，如果仪器未用与试样曲率相同的标准板校正， 就应校核用于测量的校正是否适用。校核按下述方法进行: 7 . 2 . 3 . 1 试样 试验的试样需要两个，一个是曲面试样。另一个是同种材料的平面试样。 QB / T 3 8 1 9 一1 9 9 9 了 . 2 。 3 . 2 程序 将平面 试样放在 台板 的孔眼 上并与其 紧密接 触。 记录在本仪 器、同 位素和台 板条件下该试样 所得 到 的计 数率， 移动试样几 次， 记下每一 次的计 数率，决 定计数 率的平 均值以及 相关的标准偏差 。 用曲 面试样取 代平面 试样， 重复平 面试样 的程序。 如果所用

31、的台板 对这个 试验完全合适，曲 面试 样 所取 得的平均计 数率 值应该 完全在平 面试样 所确定的 范围内。 实际上 ，曲 率引 起的一个小 误差，如 果它与覆盖层测量的误差 ( 5 . 4 )比较可以忽略，则是可以容许的。 7 . 2 . 4 基体材料 标 准板基 体所产生 的反向 散射应 该与试样 的反向 散射相同 。这 点可 根 据实际试验 验证。如果有显 著不同，应遵照说明书进行修正，或应用与试样相一致的新标准校正。 7 . 2 . 5 表面 清洁 度 所 有外来杂 质，如 灰 尘、 油脂、 漆、氧 化物和转 化膜等在 测量 前都应从 表面除去 。清洁时不能除 去 任何 覆盖层 材

32、料。 应该 避免在有 熔渣、 酸蚀点等可 见缺 陷的表面 上进行 测量。 7 . 2 . 测量时间 为了得到所要求精度的读数再现性，测量时间要足够长。 了2 . 7 连续测 量 被测材 料、材 料进给 机构和 测量头 都应该处于 规定的 条件下， 这些 条件是仪 器制造者 建议 规定的。 7 . 2 . a 安全 日 射线 反向散射 仪器 使用的各 种放射 源，虽然它 们的 放射性强 度通常 都很低，但如 果 处理不当， 对 人的健 康还是有 害的。因 此 操作人员 必须遵守国 家管理 机构的各 项规 章和条例。 a 测1t 准确度和精度 8 . 1 精度达到百分之几的测厚仪已有商品。 8 .

33、 2 仪器和操作应能使测得的橙盖层厚度值误差不超过真实厚度值的1 0 %a 9 试验报告 9 . 1 厚度测量报告应该附有每次测量的校正标准和标准偏差的鉴定和可靠性的说明， 以便根据实际 的重复测量进行计算。 9 . 2 不论在什 么 时候， 厚度测 量报告都 应该附有下 列说 明或与它们 相当 的情况说 明 ( 6 . 3 ) : a . 覆盖层厚度未对密度修正， b . 覆盖层与校正标准板的覆盖层不是一样的成分， c . 试样基体和校正标准板的基体不同，已经或没有对它们之差异进行修正。 QB/ T 3 8 1 9 一1 9 9 9 附录A 与p 反向 散射计一起 使用的同 位素 ( 参考件

34、) 同位素或射线源符号 最大值 t 兆电子伏特 半衰期 年 碳 C 一 1 40 . 1 65 7 5 0 柜P m 一1 4 7 0 . 2 22 . 6 舵T I 一2 0 4 0 . 7 73 . 8 秘 一 铅 ( 镭D+E)Bi一 2 1 0 1 . 1 71 9 . 4 钮Sr一 9 0 2 . 2 72 8 钉 Ru 一 1 0 63 . 5 41 。E . . :二0 射线的最大能量。 Q B J T 3 8 1 9 一1 9 9 9 附录B 常用班盖层和墓体的原子序数 ( 参考件) 元素原子序数 元， 原子 序数 铝 一 。 2 8 锡 4 8 一 有 机 材 料 - 6 铬

35、 2 4 一 ， 7 8 钻 铭4 5 铜 1一“ 4 7 金 7 9 5 0 铁 2 6 一一 饮 2 2 铅 8 2 厂 锌 3 0 镁 1 2 ) QB/ T 3 8 1 9 一1 9 9 9 附录C 各种同 位 素的 饱和 厚度与 密 度的 关系 图 ( 参考件) 卜lll 广 一l门 、又莎 、 日 令l e i _ 、 、烫户冬 、之 、 、 、 、 )T 卜 、 、 、 、 、 ，曰 门 一尸 一牛下 刃曰冈 、 叫p 0 ,曰困口 、 、答 、 门 、 、目 、 、 !关任.翻民吕书 密度， 克/ 米，一 *草庐一苇草庐一苇*提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现

36、象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 提供优质文档， 如果 你下载的文档有缺页、 模糊等现象或 者遇到找不到的稀缺文件， 请发站内 信和我联系！我一定帮你解决！ 本人有各种国内外标准 20 余万个， 包括全系 列 GB 国标国标及国内行业行业及部门标准部门标准，全系列 BSI EN DIN JIS NF AS NZS GOST ASTM ISO ASME SSPC ANSI IEC IEEE ANSI UL AASHTO ABS ACI AREMA AWS ML NACE GM FAA TBR RCC 各国船级 社 船级 社 等大量其他国际标准。豆丁下载网址：豆丁下载网址： http:/