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1、材料分析试题库选择题：一、1. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（ B ）A. K；B. K；C. K；D. L。2. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ C ）A Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。3. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（ A ）A. 短波限0；B. 激发限k；C. 吸收限；D. 特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（ D ） A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、1.最常用的X射线衍射方法是（ B ）。A. 劳厄法；

2、B. 粉末法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D ）A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A和B3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（ B）A、(364) B、(234) C、(213) D、(468)4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B ）A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度范围 D、无必然联系5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（ C ）。 A. 垂直； B. 平行； C. 不一定。6.在正方晶系中，晶面指数100包括几个晶面（ B ）。 A. 6； B. 4；

3、 C. 2 D. 1；。7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（B ）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它三、1、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（ A ）A、不存在系统消光 B、h+k为奇数 C、h+k+l为奇数 D、h、k、l为异性数2、立方晶系100晶面的多重性因子为（ D ）A、2 B、3 C、4 D、63、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（ A ）A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ B ）A、晶粒大小对衍射强度的影响

4、 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（ C ）A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ）A、112 B、113 C、101 D、1117、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ）A、200 B、220 C、112 D、1118、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（E ）A、温度升高引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小 C、产生热漫散射 D、改变布拉格

5、角 E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ）A、结构因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸收因子四、1、衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角?（B） A. 30度； B. 60度； C. 90度。2、不利于提高德拜相机的分辨率的是（ D ）。 A. 采用大的相机半径； B. 采用X射线较长的波长； C. 选用大的衍射角；D.选用面间距较大的衍射面。3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ C ）A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、以上均可4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与

6、试样的转速关系是（ B ）A、11 B、21 C、12 D、没有确定比例5、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（ C ）A、相机半径越大，分辨率越高 B、角越大，分辨率越高 C、X射线波长越小，分辨率越高 D、晶面间距越大，分辨率越低6、粉末照相法所用的试样形状为（ C ）A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意形状7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（ A ）A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、任意安装都可8、以气体电离为基础制造的计数器是（ D）A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、A和B9、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X

7、射线强度成正比的特性而制造的计数器为（ C ）A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、锂漂移硅检测器五、1、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（ C ）。A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。2、X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ C ）进行核对。A. 哈氏无机数值索引；B. 芬克无机数值索引；C.戴维无机字母索引；D. A或B。3、PDF卡片中，数据最可靠的用（ B ）表示 A、i B、 C、 D、C4、PDF卡片中，数据可靠程度最低的用（ C ）表示 A、i B、 C、 D、C5、将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多

8、项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（ A ）A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K值法6、在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（ B ）A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K值法九、1、 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ B ）。A球差 ；B. 像散 ；C. 色差。2、由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为（ A ）A、球差 B、像散 C、色差 D、背散3、由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（ B ）

9、A、球差 B、像散 C、色差 D、背散4、由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（ C ）A、球差 B、像散 C、色差 D、背散5、制造出世界上第一台透射电子显微镜的是（ B ）A、德布罗意 B、鲁斯卡 C、德拜 D、布拉格十、1、透射电镜中电子枪的作用是（ A ） A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像2、透射电镜中聚光镜的作用是（ B ） A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像3、透射电镜中物镜的作用是（ C ） A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像

10、4、透射电镜中电中间镜的作用是（ D ） A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像5、能提高透射电镜成像衬度的光阑是（B ） A、第二聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑6、物镜光阑安放在（ C ）A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面7、选区光阑在TEM镜筒中的位置是（ B ） A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面8、电子衍射成像时是将（ A ） A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合 C、关闭中间镜 D、关闭物镜9、透射电镜成

11、形貌像时是将（ B ） A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合 C、关闭中间镜 D、关闭物镜10、为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个（ B ） A、第二聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑11、若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（ C ）。A. 1000；B. 10000；C. 40000；D.600000。十二、1、单晶体电子衍射花样是（ A ）。A. 规则的平行四边形斑点；B. 同心圆环；C. 晕环；D.不规则斑点。2、 薄片状晶体的倒易点形状是（ C ）。A. 尺寸很小的倒易点；B.

12、 尺寸很大的球；C. 有一定长度的倒易杆；D. 倒易圆盘。3、 当偏离矢量S0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（ A ）。A. 球面外；B. 球面上；C. 球面内；D. B+C。4、 能帮助消除180不唯一性的复杂衍射花样是（ A ）。A. 高阶劳厄斑；B. 超结构斑点；C. 二次衍射斑；D. 孪晶斑点。5、 菊池线可以帮助（ D ）。A. 估计样品的厚度；B. 确定180不唯一性；C. 鉴别有序固溶体；D. 精确测定晶体取向。6、 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（ D ）。A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。7、有一倒易矢量为，与它对应的正空间晶面是（ C

13、A. （210）；B. （220）；C. （221）；D. （110）；。十三、1、将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（ C ）。A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。2、 当t=5s/2时，衍射强度为（ D ）。A.Ig=0；B. Ig0；D. Ig=Imax。3、 已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时，位错不可见，那么它的布氏矢量是（ B ）。A. b=（0 -1 0）；B. b=（1 -1 0）；C. b=（0 -1 1）；D. b=（0 1 0）。4、 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（

14、 C ）。A. 质厚衬度；B. 衍衬衬度；C. 应变场衬度；D. 相位衬度。5、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（ B ）。A. 小于真实粒子大小；B. 是应变场大小；C. 与真实粒子一样大小；D. 远远大于真实粒子。6、中心暗场像的成像操作方法是（ C ）。A以物镜光栏套住透射斑；B以物镜光栏套住衍射斑；C将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。十四、1、仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ B ）。A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。2、在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（ B ）。A.和电子束垂直的表面；B. 和电子束

15、成30的表面；C. 和电子束成45的表面；D. 和电子束成60的表面。3、可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（ D ）。A. 背散射电子；B. 吸收电子；C. 特征X射线；D. 俄歇电子。十五、1、扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（ B ）。A. 波谱仪；B. 能谱仪；C. 俄歇电子谱仪；D. 特征电子能量损失谱。2、波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（ A ）。A. 快速高效；B. 精度高；C. 没有机械传动部件；D. 价格便宜。3、要分析基体中碳含量，一般应选用（A）电子探针仪，A. 波谱仪型 B、能谱仪型填空：一、1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产

16、生 连续 X射线和 标识 X射线。2. 当X射线管电压低于临界电压仅产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。 3. 特征X射线的产生过程中，若K层产生空位，由L层和M层电子向K层跃迁产生的K系特征辐射按顺序称K射线和K射线。 4. X射线的本质既具有 波动性 也具有 粒子性 ，具有 波粒二象 性。 5. 短波长的X射线称 硬X射线 ，常用于 金属部件的无损探伤 ；长波长的X射线称 软X射线 ，常用于 医学透视上 。 6.连续谱短波限只与管电压有关。7.特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构。二、1.本质上说，X射线的衍射是由大量原子参与的一

17、种散射现象。2.布拉格方程在实验上的两种用途是结构分析和X射线光谱学。3.粉末法中晶体为多晶体，不变化，变化。4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法。5.平面底片照相方法适用于研究晶粒大小、择优取向以及点阵常数精确测定方面。三、1、原子序数Z越小，非相干散射越强。2、结构因子与晶胞的形状和大小无关。3、热振动给X射线的 衍射带来许多影响有：温度升高引起晶胞膨胀、衍射线强度减小、产生向各个方向散射的非相干散射。4、衍射强度公式不适用于存在织构 组织。5、结构因子=0时，没有衍射我们称 系统消光 或 结构消光 。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现 弱衍射 。6、影响衍射强度的因素除结构因子

18、外还有 角因子， 多重性因子 ， 吸收因子 ， 温度因子 。四、1. 在一定的情况下， 90度 ，sin 0 ；所以精确测定点阵常数应选择 高角度衍射线 。2. 德拜照相法中的底片安装方法有: 正装法 , 反装法 和 偏装法 三种。3. 在粉末多晶衍射的照相法中包括 德拜-谢乐法 、 聚焦照相法 和 针孔法 。4. 德拜相机有两种，直径分别是 57.3mm 和 114.6mm。测量角时，底片上每毫米对应 2和 1。5. 衍射仪的核心是测角仪圆，它由 辐射源 、 试样台 和 探测器 共同组成。6. 可以用作X射线探测器的有 正比计数器 、 盖革计数器 和 闪烁计数器 等。7. 影响衍射仪实验结果

19、的参数有 狭缝光阑、时间常数 和 扫面速度 等。五、1、X射线物相分析包括 定性分析 和 定量分析 ，而 定性分析 更常用更广泛。2、X射线物相定量分析方法有 外标法 、 内标法 、 直接比较法 等。3、定量分析的基本任务是确定混合物中各相的相对含量。4、内标法仅限于粉末试样。九、1、电磁透镜的像差包括 球差 、 像散 和 色差 。2、透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 球面像差 两因素影响。3、透射电子显微镜中用磁场来使电子聚焦成像的装置是电磁透镜。4、像差分为两类，即几何像差和色差。十、1、TEM中的透镜有两种，分别是静电透镜和电磁透镜。2、TEM中的三个可动光栏分别是聚光镜光栏位

20、于第二聚光镜焦点上，物镜光栏位于物镜的背焦面上，选区光栏位于物镜的像平面上。3、TEM成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。4、透射电镜主要由 电子光学系统 , 电源与控制系统 和 真空系统 三部分组成。5、透射电镜的电子光学系统分为三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统 。十一、1、限制复型样品的分辨率的主要因素是复型材料的粒子尺寸大小 。2、今天复型技术主要应用于 萃取复型 来揭取第二相微小颗粒进行分析。3、质厚衬度是建立在 非晶体样品 中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜 小孔径角成像 基础上的成像原理，是解释非晶态样品电子显微图像衬度的理论依据。4、粉末样品制备方法有胶粉混合法 和

21、 支持膜分散粉末法 。5、透射电镜的复型技术主要有 一级复型 、 二级复型 和 萃取复型三种方法。十二、1、电子衍射和X射线衍射的不同之处在于入射波长不同、试样尺寸形状不同，以及样品对电子和X射线的散射能力不同。2、电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。3、偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度，它反映的是角偏离布拉格方程的程度。4、单晶体衍射花样标定中最重要的一步是确定晶体结构。5、二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在本该消光的位置产生衍射花样，但体心立方和面心立方结构的花样中不会产生多余衍射。6、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 法线 ；倒易

22、矢量的长度等于对应 晶面间距的倒数 。7、只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该 晶面 满足 布拉格 条件，能产生 衍射 。十三、1、运动学理论的两个基本假设是 双光束近似 和 柱体近似 。2、对于理想晶体，当 样品厚度 或 偏离矢量 连续改变时衬度像中会出现 等厚消光条纹 或 等倾消光条纹 。3、对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起的 位移矢量 导致衍射波振幅增加了一个 附加位相角 ，但是若 附加的位相角 =2的整数倍时，缺陷也不产生衬度。4、一般情况下，孪晶与层错的衬度像都是平行 直线 ，但孪晶的平行线 间距不等 ，而层错的平行线是 等间距 的。5、实际的位错线在位错线像的 一侧 ，其宽度

23、也大大小于位错线像的宽度，这是因为位错线像的宽度是 应变场 宽度。十四、1、电子束与固体样品相互作用可以产生 背散射电子 、 二次电子、 透射电子 、 特征X射线 、 俄歇电子 、 吸收电子 等物理信号。2、扫描电子显微镜的放大倍数是阴极射线电子束在荧光屏上的扫描宽度与电子枪电子束在样品表面的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是 亮 衬度，而裂纹、凹坑则是 暗 衬度。3、分辨率最高的物理信号是 俄歇电子或二次电子 为 5 nm，分辨率最低的物理信号是 特征X射线 为 100 nm以上。4、扫描电镜的分辨率是指 二次电子 信号成像时的分辨率5、扫描电子显微镜可以替代 金相显微镜 进行材料

24、 金相观察，也可以对 断口 进行分析观察。6、扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子 。7、扫描电子显微镜是电子光学系统，信号收集处理、图像显示和记录系统，真空系统三个基本部分组成。8、 电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈和样品室。十五、1、电子探针的功能主要是进行微区成分分析。2、电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定特征波长的谱仪叫做波谱仪。用来测定X射线特征能量的谱仪叫做能量分散谱仪。3、电子探针仪的分析方法有定性分析和定量分析。其中定性分析包括定点分析、线分析、面分析。4、电子探针包括 能谱仪 和 波谱仪 两种仪器。判断题：一、1. 激发限与吸收限是一回事，

25、只是从不同角度看问题。（ ）2. 经滤波后的X射线是相对的单色光。（ ）3. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（ ）4. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（ ）二、1.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（ ）2.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n。（）3.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（ ）三、1、衍射方向在X射线波长一定的情况下取决与晶面间距（ ）2、在一个晶面族中，等同晶面越多，参加衍射的概率就越大（ ）3、X射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息，峰越宽说明晶粒

26、越大（ ）4、原子的热振动可使X射线衍射强度增大（ ）5、温度一定时，衍射角越大，温度因子越小，衍射强度随之减小（ ）6、布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度（ ）7、衍射角一定时，温度越高，温度因子越小，衍射强度随之减小（ ）8、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射（ ）四、1、大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短嚗光时间。（ ）2、在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。（ ）3、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。（ ）4、 衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。（ ）

27、5、 要精确测量点阵常数。必须首先尽量减少系统误差，其次选高角度角，最后还要用直线外推法或柯亨法进行数据处理。（ ）6、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好（ ）7、德拜相机的底片安装方式中，正装法多用于点阵常数的确定（ ）8、根据不消光晶面的N值比值可以确定晶体结构（ ）9、为了提高德拜相机的分辨率，在条件允许的情况下，应尽量采用波长较长的x-ray源（ ）10、在分析大晶胞的试样时，应尽可能选用波长较长的x-ray源，以便抵偿由于晶胞过大对分辨率的不良影响（ ）11、选择小的接受光阑狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度（ ）五、1、X射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是因为没有

28、两种物相的衍射花样是完全相同的。（ ）2、理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少。（ ）3、各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增强（ ）4、内标法仅限于粉末试样（ ）5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引（ ）6、PDF索引中晶面间距数值下脚标的x表示该线条的衍射强度待定（ ）7、PDF卡片的右上角标有说明数据可靠性高（ ）8、多相物质的衍射花样相互独立，互不干扰（ ）9、物相定性分析时的试样制备，必须将择优取向减至最小（ ）九、1、TEM的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。（ ）2、孔径半角是影响分辨

29、率的重要因素，TEM中的角越小越好。（ ）3、TEM中主要是电磁透镜，由于电磁透镜不存在凹透镜，所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或消除像差，故TEM中的像差都是不可消除的。（ ）4、TEM的景深和焦长随分辨率r0的数值减小而减小；随孔径半角的减小而增加；随放大倍数的提高而减小。（ ）5、电磁透镜的景深和焦长随分辨率r0的数值减小而减小；随孔径半角的减小而增加（ ）6、光学显微镜的分辨率取决与照明光源的波长，波长越短，分辨率越高（ ）7、 波长越短，显微镜的分辨率越高，因此可以采用波长较短的射线作为照明光源。（ ）8、用小孔径角成像时可使球差明显减小。（ ）9、限制电磁透镜分辨

30、率的最主要因素是色差。（ ）10、电磁透镜的景深越大，对聚焦操作越有利。（ ）十、1、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。（ ）2、物镜的分辨率主要决定于极靴的形状和加工精度（ ）3、物镜光阑可以减小像差但不能提高图像的衬度（ ）4、物镜光阑孔越小，被挡去的电子越多，图像的衬度越大（ ）5、物镜光阑能使物镜孔径角减小，能减小像差，得到质量较高的图像（ ）6、物镜光阑是没有磁性的（ ）7、利用电子显微镜进行图像分析时，物镜和样品之间的距离是固定不变的（ ）十二 、1、多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样，随着环直径增大，衍射晶面指数也

31、由低到高。（）2、单晶衍射花样中的所有斑点同属于一个晶带。（）3、偏离矢量S=0时，衍射斑点最亮。这是因为S=0时是精确满足布拉格方程，所以衍射强度最大。（ ）4、对于未知晶体结构，仅凭一张衍射花样是不能确定其晶体结构的。还要从不同位向拍摄多幅衍射花样，并根据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合判断晶体结构。（）5、电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。（）6、倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（ ）十三、1、实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（ ）2、厚样品中存在消光距离g，薄样品中则不存在消光距离g。（ ）3、明场像

32、是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。（ ）4、晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。（ ）5、等厚消光条纹和等倾消光条纹通常是形貌观察中的干扰，应该通过更好的制样来避免它们的出现。（ ）十四、1、扫描电子显微镜中的物镜与透射电子显微镜的物镜一样。（ ）2、扫描电子显微镜的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。（ ）3、扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。（ ）4、扫描电子显微镜具有大的景深，所以它可以用来进行断口形貌的分析观察。（ ）十五、射线进行成分分析的。（ ）1、波谱仪是逐一接收元素的特征波长进行成分分析；能谱仪是同时接收所有元素的特征X名词解释：0

33、系统消光：因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上衍射线消失的现象。1、结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数。2.Hanawalt索引：数字索引的一种，每种物质的所有衍射峰之中，必然有三个峰的强度最大(而非面网间距最大)。 把这三个强度最大的峰，按一定的规律排序，就构成了Hanawalt排序和索引方法。排序时，考虑到影响强度的因素比较复杂，为了减少因强度测量的差异而带来的查找困难，索引中将每种物质列出三次。数据检索时，按实际衍射图谱中的3强峰进行数据检索，即可找到对应的衍射卡片。3.直接比较法：将试样中待测相某跟衍射线的强度与另一相的某根衍射线强度相比

34、较的定量金相分析方法。4.球差：即球面像差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不同造成的。轴上物点发出的光束，经电子光学系统以后，与光轴成不同角度的光线交光轴于不同位置，因此，在像面上形成一个圆形弥散斑，这就是球差。像散：由透镜磁场的非旋转对称引起的像差。色差：由于电子的波长或能量非单一性所引起的像差，它与多色光相似，所以叫做色差。5.景深：透镜物平面允许的轴向偏差。 焦长：透镜像平面允许的轴向偏差。 在成一幅清晰像的前提下，像平面不变，景物沿光轴前后移动的距离称“景深”；景物不动，像平面沿光轴前后移动的距离称“焦长”。6.Ariy斑：物体上的物点通过透镜成像时，由于衍射效应，

35、在像平面上得到的并不是一个点，而是一个中心最亮、周围带有明暗相间同心圆环的圆斑，即所谓Airy斑。7.孔径半角：孔径半角是物镜孔径角的一半，而物镜孔径角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度。因此，孔径半角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半。8.点分辨率与晶格分辨率：点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能够分辨的具有最小面间距的晶格像的晶面间距。9.选区衍射：为了分析样品上的一个微小区域，在样品上放一个选区光阑，使电子束只能通过光阑孔限定的微区，对这个微区进行衍射分析。10.有效放大倍数：把显微镜最大分辨率放大到人眼的分辨本领（0

36、2mm），让人眼能分辨的放大倍数，即眼睛分辨率/显微镜分辨率。11.质厚衬度：由于试样的质量和厚度不同，各部分对入射电子发生相互作用，产生的吸收与散射程度不同，而使得透射电子束的强度分布不同，形成反差，称为质-厚衬度。12.偏离矢量s：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s表示，s就是偏离矢量。13.晶带定律：凡是属于uvw晶带的晶面，它的晶面指数(hkl)都必须符合hu+kv+lw=0，通常把这种关系式称为晶带定律。14.相机常数：定义 K=L，称相机常数，其中L为镜筒长度，为电子波长。15.明场像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫明场成像，所得到的像叫明

37、场像。16.暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。17.中心暗场像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。如果物镜光阑处于光轴位置，所得图象为中心暗场像。18.消光距离g：晶体内透射波与衍射波动力学相互作用，使其强度在晶体深度方向上发生周期性振荡，振荡的深度周期叫消光距离。19.衍射衬度：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映。衍射衬度主要是由于晶体试样满足布拉格反射条件程度差异以及结构振幅

38、不同而形成电子图象反差。20.背散射电子：入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹性散射部分；背散射电子的作用深度大，产额大小取决于样品原子种类和样品形状。21.吸收电子：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。22.特征X射线：原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。利用特征X射线可以进行成分分析。23.二次电子：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自表面50-100 的区域，

39、能量为0-50 eV。它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。24.俄歇电子：如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不以X射线的形式释放，而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种二次电子叫做俄歇电子。俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。25.波谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特征波长的谱仪叫做波长分散谱仪。26.能谱仪：电子探针的信号检测系统是X射线谱仪，用来测定X射线特征能量的谱仪叫做能量分散谱仪。问答题：1.什么叫“相干散射”、“短波限”、吸收限？答：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各

40、方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。吸收限：主要由于光电效应引起的吸收突然增加所对应的X射线的波长。2.分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuK X射线激发CuK荧光辐射；（2）用CuK X射线激发CuK荧光辐射；（3）用CuK X射线激发CuL荧光辐射。解：假设EK为K壳层的能量，EL为L壳层的能量，EM为M壳层的能量，CuKX射线的能量为EK-EL，CuKX射线的能量为EK-EM，CuK荧光辐射的能量为EK-EL，CuL荧光辐射的能量

41、为EL-EM，（1）不可能，用CuKX射线激发CuK荧光辐射，需要EK的能量；（2）不可能，用CuKX射线激发CuK荧光辐射，需要EK的能量；（3）有可能，用CuKX射线激发CuL荧光辐射，需要EL的能量，具体能不能还要比较EK-EL和EL的大小。3.特征x射线谱的产生机理。答：高速运动的粒子（电子或光子）将靶材原子核外电子击出去，或击到原子系统外，或填到未满的高能级上，原子的系统能量升高，处于激发态。为趋于稳定，原子系统自发向低能态转化：较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，这一降低的能量以一个光子的形式辐射出来变成光子能量，且这降低能量为固定值（因原子序数固定），因而固定，所以辐射出特征X

42、射线谱。4.布拉格方程 2dsin=中的d、分别表示什么？布拉格方程式有何用途？答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面网间的夹角，表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量，求特征X射线的，并通过判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长， 通过测量，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。5.给出简单立方、面心立方、体心立方、密排六方以及体心四方晶体结构X衍射发生消光的晶面指数规律。答：常见晶体的结构消光规律简单立方 对指数没有限制（不会产生结构

43、消光）；面心立方 h，k，l 奇偶混合；体心立方 h+k+l=奇数；密排六方 h+2k=3n, 同时l=奇数；体心四方 h+k+l=奇数。6.决定X射线强度的关系式是，试说明式中各参数的物理意义?答：X射线衍射强度的公式，试中各参数的含义是：I0为入射X射线的强度； 为入射X射线的波长；R 为试样到观测点之间的距离；V 为被照射晶体的体积； Vc 为单位晶胞体积； P 为多重性因子，表示等晶面个数对衍射强度的影响因子； F 为结构因子，反映晶体结构中原子位置、种类和个数对晶面的影响因子；A() 为吸收因子，圆筒状试样的吸收因子与布拉格角、试样的线吸收系数l和试样圆柱体的半径有关；平板状试样吸收

44、因子与有关，而与角无关； () 为角因子，反映样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒数目和衍射线位置对衍射强度的影响； e-2M 为温度因子= 有热振动影响时的衍射强度 无热振动理想情况下的衍射强度7.罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？答：罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响，第一种几何因子表示衍射的晶粒大小对衍射强度的影响，罗仑兹第二种几何因子表示晶粒数目对衍射强度的影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响。8.试比较衍射仪法与德拜法的优缺点？（1）简便快速（2）分辨能力强（3）直接获得强度数据（4）低角度区的2测量范围大（5）样品用量大（6）设备较复杂，成本高。9.试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。答：德拜法衍射花样的背底来源是